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MB-6可调安装支架
AP-6空气吹扫器
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Modline6红外测温仪是一种红外测温仪，采用了坚固的光纤测温系统，可以测量非光纤测温仪不能达到的恶劣工业环境中的目标。
62系列:
光谱响应范围 | 1.0um(Si探测器) |
精度 | ±(0.3%T测量值+2℃) |
±3℃(62-1610型号) | |
响应时间 | 10ms |
发射率 | 0.01~1.00，步长0.01 |
重复精度 | ±1℃ |
数据处理 | 峰值保持，谷值保持，平均值(所有型号) |
温度分辨率 | ±0.05℃ |
6G系列:
光谱响应范围 | 1.6um(InGaAs探测器) |
精度 | ±(0.3%T测量值+2℃) |
响应时间 | 10ms |
发射率 | 0.01~1.00，步长0.01 |
重复精度 | ±1℃ |
数据处理 | 峰值保持，谷值保持，平均值(所有型号) |
温度分辨率 | ±0.05℃ |
6R系列(双比色):
光谱响应范围 | 1.0um(Si探测器) |
精度 | ±(0.3%T测量值+2℃);无衰减 |
±(1%T测量值+2℃)6R-1120 | |
和6R-1540 95%衰减 | |
±(1.3%T测量值+2℃)6R-2565 95%衰减 | |
响应时间 | 10ms |
发射率 | 0.01~1.00，步长0.01(单色模式) |
发射率坡度 | 0.850~1.150，步长0.001(双色模式) |
重复精度 | ±1℃ |
数据处理 | 峰值保持，平均值(所有型号) |
温度分辨率 | ±0.05℃ |
模拟输出(线性) | 0/4~20mA |
数字输出 | RS-485,2线制/4线制，可32个探头组网 |
继电器输出 | 48V，30mA,响应时间<2ms(软件可编程) |
电源要求 | 24VDC，500mA,，±20% |
满足CE低压标准EN61326 | |
环境等级 | NEMA4，IEC529，IP65 |
(不适用于高温光缆选件) | |
重量 | |
电路盒 | 0.75kg |
光学头 | 0.10kg |
相对湿度 | 10~95%无结露 |
振动(电路盒) | MIL-STD-810D IEC 68-2-6 |
震动(电路盒) | MIL-STD-810D IEC 68-2-27 |
电磁兼容性 | EN61326-1 |
电气安全标准 | EN61010-1 |
电路盒 | 0~60℃ |
-20~70℃保存温度 |
光缆和光学头 | 0~200℃标准光缆 |
0~315℃高温光缆选件 |
光缆保护 | 达到200℃，不锈钢套，Viton保护套， |
橡胶基座，具有NEMA-4防护等级 |
(不包含高温光缆)，套置防护来保护光缆 |
具体应用:
MB-6可调安装支架
AP-6空气吹扫器
·坚固的光纤测温系统
·外部用户接口可以察看探头参数
高亮LED显示参数设置和温度指示
·多种型号选择:62，6G，6R系列(双比色)
·62和6G系列具有背景温度补偿功能
·Modline6红外测温仪可以测量非光纤测温仪不能达到的恶劣工业环境中的目标
·光纤最高耐温315℃(选配)
·模拟信号和数字信号输出(RS485)
Modline6光纤红外测温仪由一个坚固的光纤和光学组成。
光纤部分连接到一个电路盒上，电路盒包含探测器，处理电路，高亮LED显示和用于接线的端子连接部分。
Modline6红外测温仪在电路盒环境温度处在0~60℃(32°到140°F)时能够保持最高的测量精度。
光学头是由一个小的圆柱形不锈钢保护套和透镜组成。
光学头可以装配空气吹扫器防止镜头被污染，光纤可以由金属管保护起来。
光纤可以允许一个小的弯曲半径以便穿过狭小空间。光学高温探头/光缆选件能够最高耐315℃环境温度。
为测量玻璃温度而特殊设计的62-1610测温仪，能够测量从750°到1675℃范围。
·可编程继电器输出
(温度报警点上下限设置或"故障")
·6R型号独特的衰减报警
(衰减测量技术 美国专利号No.5,815,410)
·直接具有RS485通讯
·支持最多32个Modline6测温仪组网
·Modline6多探头软件(可以在windows NT4,2000,XP下使用)
·现场校准软件
汞柱是不一样的。
1.到被测地点，从箱中取出红外测温仪； 2.右手握住测温仪手柄，食指扣动一下开关，将听到 “BI-BI”的声音，电源接通...
1.到被测地点，从箱中取出红外测温仪； 2.右手握住测温仪手柄，食指扣动一下开关，将听到 “BI-BI”的声音，电源接通，屏幕将显示你正对物体的温度，测量时要注意距离系数K，...
红外测温仪电路图
红外测温仪电路图
EA/VP31 X119 X218 RESET9 RD17 WR 16 INT012 INT113 T014 T1 15 P101 P112 P123 P134 P145 P15 6 P167 P178 P00 39 P01 38 P02 37 P03 36 P04 35 P05 34 P06 33 P07 32 P20 21 P21 22 P22 23 P23 24 P24 25 P25 26 P26 27 P27 28 PSEN 29ALE/P 30TXD 11RXD 10 IC1 AT89 C5 5 SDE LCD RS LCD R/W LCD ENB CS2 DOU CLK SIDL KEY1 KEY2 KEY3 KEY4 X1 X2 RST JDQ DIN D0 D1 D2 D3 D5 D6 D7 RXD TXD XT2 22. 118 4M C4 22P C3 22P X1 X
基于单片机的红外测温仪设计
基于单片机的红外测温仪设计
设计以单片机作为整个测温仪的核心,结合A/D转换器、液晶显示器等外部设备,在软件设计和硬件设计的基础上,设计出一种拥有汉字显示逻辑判断等智能型电子测温计。它提供了一种新的温度测量方案,采用红外温度传感器来测量温度信号,可同时测量目标温度和环境温度,并将测量的数据经过放大器,转换器送给单片机处理,之后送数码管显示。红外测温打破了传统的测温模式,它响应快、测量精度高、可靠性高、范围广,为非接触测量,因而不易损坏。该温度计以准确快捷的测量功能、清晰易懂的数字化显示方便人们日常生活使用。
红外测温仪在工业上的应用非常广泛，用的最多的主要是便携式红外测温仪及在线式红外测温仪。目前，随着光纤红外测温仪技术上的日趋成熟，及其在工业现场显现出来的优点日益突出，光纤红外测温仪也已开始慢慢替代在线测温的一体式红外测温仪，应用于工业现场的各个场合。
光纤红外测温仪目前的主要应用市场是在工业现场。因为一体式红外测温仪对使用环境要求很苛刻，一般要保持仪器安装在环境温度不超过50摄氏度场合，否则将会因电路元件受温度的影响而导致测量值失真，甚至仪器损坏，所以，一般在工业现场在线使用的一体式红外测温仪都装有水冷套等降温保护措施，安装麻烦，使用成本也高。而光纤红外测温仪采用的是分体式设计，将基本不受温度影响的光路系统(即光学探头)安装在测温现场;而把对环境温度要求较苛刻的信号处理/显示器安装在远离测温现场的地方，可以保证信号处理/显示器始终正常工作;中间通过一根红外光纤，将光学探头接收到的红外信号传输到信号处理器进行处理。这样，仪表便有了长期工作的稳定性及可靠性，且安装简易，无需水冷等降温措施，使用成本低廉，设备维护也方便。
红外测温仪器的种类
红外测温仪器主要有3种类型:红外热像仪、红外热电视、红外测温仪(点温仪)。60年代我国研制成功第一台红外测温仪，1990年以后又陆续生产小目标、远距离、适合电业生产特点的测温仪器，美国生产的雷泰测温仪;国产的TI51/41系列红外测温仪等也有较广泛的应用。
红外测温仪工作原理
了解红外测温仪的工作原理、技术指标、环境工作条件及操作和维修等是用户正确地选择和使用红外测温仪的基础。红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇集其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件以及位置决定。红外能量聚焦在光电探测仪上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路按照仪器内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。除此之外，还应考虑目标和测温仪所在的环境条件，如温度、气氛、污染和干扰等因素对性能指标的影响及修正方法。
一切温度高于绝对零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射能量的大小及其按波长的分布--与它的表面温度有着十分密切的关系。因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度，这就是红外辐射测温所依据的客观基础。
黑体辐射定律:黑体是一种理想化的辐射体，它吸收所有波长的辐射能量，没有能量的反射和透过，其表面的发射率为1。应该指出，自然界中并不存在真正的黑体，但是为了弄清和获得红外辐射分布规律，在理论研究中必须选择合适的模型，这就是普朗克提出的体腔辐射的量子化振子模型，从而导出了普朗克黑体辐射的定律，即以波长表示的黑体光谱辐射度，这是一切红外辐射理论的出发点，故称黑体辐射定律。
物体发射率对辐射测温的影响:自然界中存在的实际物体，几乎都不是黑体。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。因此，为使黑体辐射定律适用于所有实际物体，必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数，即发射率。该系数表示实际物体的热辐射与黑体辐射的接近程度，其值在零和小于1的数值之间。根据辐射定律，只要知道了材料的发射率，就知道了任何物体的红外辐射特性。
影响发射率的主要因纱在:材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。
当用红外辐射测温仪测量目标的温度时首先要测量出目标在其波段范围内的红外辐射量，然后由测温仪计算出被测目标的温度。单色测温仪与波段内的辐射量成比例;双色测温仪与两个波段的辐射量之比成比例。
红外系统:红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。
了解红外测温仪的工作原理、技术指标、环境工作条件及操作和维修等是用户正确地选择和使用红外测温仪的基础。红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇集其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件以及位置决定。红外能量聚焦在光电探测仪上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路按照仪器内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。除此之外，还应考虑目标和测温仪所在的环境条件，如温度、气氛、污染和干扰等因素对性能指标的影响及修正方法。
一切温度高于绝对零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射能量的大小及其按波长的分布——与它的表面温度有着十分密切的关系。因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度，这就是红外辐射测温所依据的客观基础。
黑体辐射定律：黑体是一种理想化的辐射体，它吸收所有波长的辐射能量，没有能量的反射和透过，其表面的发射率为1。应该指出，自然界中并不存在真正的黑体，但是为了弄清和获得红外辐射分布规律，在理论研究中必须选择合适的模型，这就是普朗克提出的体腔辐射的量子化振子模型，从而导出了普朗克黑体辐射的定律，即以波长表示的黑体光谱辐射度，这是一切红外辐射理论的出发点，故称黑体辐射定律。
物体发射率对辐射测温的影响：自然界中存在的实际物体，几乎都不是黑体。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。因此，为使黑体辐射定律适用于所有实际物体，必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数，即发射率。该系数表示实际物体的热辐射与黑体辐射的接近程度，其值在零和小于1的数值之间。根据辐射定律，只要知道了材料的发射率，就知道了任何物体的红外辐射特性。
影响发射率的主要因纱在：材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。
当用红外辐射测温仪测量目标的温度时首先要测量出目标在其波段范围内的红外辐射量，然后由测温仪计算出被测目标的温度。单色测温仪与波段内的辐射量成比例；双色测温仪与两个波段的辐射量之比成比例。
红外系统：红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。
光纤红外测温仪应用