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dark cerrent 也称无照电流
光电耦合器的输出特性是指在一定的发光电流IF下,光敏管所加偏置电压VCE与输出电流IC之间的关系,当IF=0时,发光二极管不发光,此时的光敏晶体管集电极输出电流称为暗电流,一般很小。
暗电流(dark current), 也称无照电流,指在没有光照射的状态下,在太阳电池、光敏二极管、光导电元件、光电管等的受光元件中流动的电流。 在光电技术、太阳能、传感器、生物物理学等领域都有相关定义。
相当于待机电流,决定待机时间
暗电流是指P-N结在反偏压条件下,没有入射光时产生的反向直流电流.一般由于载流子的扩散产生或者器件表面和内部的缺陷以及有害的杂质引起。扩散产生的原理是在PN结内部,N区电子多,P区空穴多,因为浓度差,...
光电器件加载额定电压,但是不提供光照射,依然有微弱的电流通过器件,这个电流称为暗电流。与三极管的穿透电流 Ice0 定义相同,就是没有驱动电流注入时的漏电流。把实测值与厂家提供的参数对照即可知道是否合...
生理学方面的暗电流,是指在无光照时视网膜视杆细胞的外段膜上有相当数量的Na离子通道处于开放状态,故Na离子进入细胞内,而内段上的Na泵又将Na离子泵出细胞外,从而形成一个从内段流向外段的电流,称为暗电流(dark current)。视杆细胞在静息(非光照)状态时,由于胞质内CGMP浓度很高,所以感受器细胞外段膜上的钠通道处于开放状态,钠离子流入胞内,形成从视杆细胞外段流向内段的电流,称为暗电流(dark current),这时感受器细胞处于去极化状态,其突触终末释放兴奋性递质谷氨酸。
暗电流是指器件在反偏压条件下,没有入射光时产生的反向直流电流。(它包括晶体材料表面缺陷形成的泄漏电流和载流子热扩散形成的本征暗电流。)
暗电流起因于热激励产生的电子空穴对,其中耗尽区内产生的热激励是主要的,其次是耗尽区边缘的少数电荷的热扩散,还有界面上产生的热激励。暗电流的产生需要一定的时间,势阱存在时间越长,暗电流也越大。为了减小暗电流,应尽量缩短信号电荷的存储与转移时间,暗电流限制了成象器件的灵敏度与动态范围。
暗电流的大小与温度的关系极为密切,温度每降低10℃,暗电流约减小一半。
所谓暗电流指的是光伏电池在无光照时,由外电压作用下P-N结内流过的单向电流。
测量暗电流的意义在于表征太阳能电池的整流效应。好的太阳能电池应该有比较高的整流比,也就是正向暗电流比反向暗电流高越多越好。对于太阳能电池而言,暗电流不仅仅包括反向饱和电流,还包括薄层漏电流和体漏电流。
反向饱和电流是指给肖特基势垒加一反偏电压时,外加的电压使它的耗尽层变宽,内建电场变大,电子的电势能增加,P区和N区的多数载流子(P区多为空穴,N区多为电子)就很难越过势垒,因此扩散电流趋近于零,但是由于结电场的增加,使得N区和P区中少数载流子更容易产生漂移运动。在这种情况下,肖特基势垒内的电流由起支配作用的漂移电流决定。漂移电流的方向与扩散电流的方向相反,表现在外电路上有一个流入N区的反向电流,它是由少数载流子的漂移运动形成的。由于少数载流子是由本征激发而产生的,在温度一定的情况下,热激发产生的数量是一定的,电流趋于恒定。太阳能电池片可以分为3层,即薄层(即N区)、耗尽层(即肖特基)、体区(即P区)。对电池片而言,始终是有一些有害的杂质和缺陷的,有些是材料本身就有,也有的是在工艺中形成的,这些有害的杂质和缺陷可以起到复合中心的作用,可以俘获空穴和电子,使它们复合,复合过程始终伴随着载流子的定向移动,必然会有微小的电流产生,这些电流对测试所得的暗电流的值是有贡献的,由薄层贡献的部分称之为薄层漏电流,由体区贡献的部分称之为体漏电流。
测试漏电流主要有两个目的。首先,防止击穿。如果电池片做成组件时,电池片的正负极被接反,或者组件被加上反偏电压时,由于电池片的暗电流过大,电流叠加后会迅速地将电池片击穿,不过这样的情况很少发生,所以测试暗电流在这方面作用不是很大。其次,监控工艺。当电池片工艺流程结束后,可以通过测试暗电流来观察可能出现的工艺问题。
红外探测器暗电流测试方法研究
在红外集成光电系统中,暗电流及其噪声作为衡量探测器性能的关键指标,在工程上对其进行实际测试具有重要的意义。从工程角度提出了红外探测器暗电流的测试及分析方法。其主要思想是在红外成像系统中,通过改变黑体温度及积分时间,得到不同的拟和曲线,进而通过本文提出的方法计算出探测器的暗电流。
光电倍增管暗电流和单光电子响应
PMT参数优劣对闪烁体探测器性能至关重要。依据PMT的工作原理,建立PMT单光电子响应(SER)函数,搭建实验装置,完成PMT响应实验测试,在常温环境下测试了滨松CR194 PMT暗电流和单光电子信号。数字信号利用Roofit、Origin软件进行处理,得到暗电流和单光电子幅度值随高压变化的曲线图。分析图表,可得结论:在600~1 200 V之间,CR194 PMT暗电流响应幅度值或SER幅度值随工作电压的增加而增加。电压为1 000 V时,PMT的稳定性最好,1 000 V为实验的最佳工作电压。
要金属发射电子的条件是:入射光的频率必须大于金属的极限频率。
当有光电子发出后,光电流的强度跟入射光强度成正比。
光敏电阻的光电流:亮电流与暗电流之差。
暗电阻、暗电流:光敏电阻在室温条件下,光照消失之后,经过一段时间所测得电阻值称为暗电阻。此时在给定的电压下流过的电流就是暗电流。
亮电阻、亮电流:光敏电阻在某一光照下的阻值称为亮电阻。此时流过的电流称为亮电流。
半导体无光照时为暗态,此时材料具有暗电导;有光照时为亮态,此时具有亮电导。如果给半导体材料外加电压,通过的电流有暗电流与亮电流之分。亮电导与暗电导之差称为光电导,亮电流与暗电流之差称为光电流。
暗态下
Gd=σd·A/L, Id=GdU=σd·AU/L
亮态下
Gl=σl·A/L, Il=GlU=σl·AU/L
亮态与暗态之差
Gp=Gl - Gd=(σl-σd)·A/L=Δσ·A/L
Ip=Il - Id=(Gl-Gd)·U=Δσ·AU/L
A:半导体材料横截面面积
L:半导体材料长度
I:电流
U:外加电压
G:电导
σ:电导率
Δσ:光致电导率的变化量
下标d代表暗,l代表亮,p代表光。
半导体无光照时为暗态,此时材料具有暗电导;有光照时为亮态,此时具有亮电导。如果给半导体材料外加电压,通过的电流有暗电流与亮电流之分。亮电导与暗电导之差称为光电导,亮电流与暗电流之差称为光电流。
暗态下
Gd=σd·A/L, Id=GdU=σd·AU/L
亮态下
Gl=σl·A/L, Il=GlU=σl·AU/L
亮态与暗态之差
Gp=Gl - Gd=(σl-σd)·A/L=Δσ·A/L
Ip=Il - Id=(Gl-Gd)·U=Δσ·AU/L
A:半导体材料横截面面积
L:半导体材料长度
I:电流
U:外加电压
G:电导
σ:电导率
Δσ:光致电导率的变化量
下标d代表暗,l代表亮,p代表光。