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比表面测试法

比表面积测试方法有两种分类标准。一是根据测定样品吸附气体量的多少方法的不同,可分为:动态色谱法、静态容量法及重量法;另一种是根据计算比表面积理论方法不同可分为:直接对比法比表面积测定(也叫参比法)、Langmuir法比表面积分析测定和BET法比表面积分析测定、BET法又分为多点法和单点法。

比表面测试法基本信息

比表面测试法分类

连续流动法

动态色谱法是相对于静态法而言,整个测试过程是在常压下进行,吸附剂是在处于连续流动的状态下被吸附。连续流动法是在气相色谱原理的基础上发展而来,由热导检测器来测定样品吸附气体量的多少。连续动态氮吸附是以氮气为吸附气,以氦气或氢气为载气,两种气体按一定比例混合,使氮气达到指定的相对压力,流经样品颗粒表面。当样品管置于液氮环境下时,粉体材料对混合气中的氮气发生物理吸附,而载气不会被吸附,造成混合气体成分比例变化,从而导致热导系数变化,这时就能从热导检测器中检测到信号电压,即出现吸附峰。吸附饱和后让样品重新回到室温,被吸附的氮气就会脱附出来,形成与吸附峰相反的脱附峰。吸附峰或脱附峰的面积大小正比于样品表面吸附的氮气量的多少,可通过定量气体来标定峰面积所代表的氮气量。通过测定一系列氮气分压P/P0下样品吸附氮气量,可绘制出氮等温吸附或脱附曲线,进而求出比表面积。通常利用脱附峰来计算比表面积。

特点:动态色谱法测试过程操作简单,消除系统误差能力强,同时具有可采用直接对比法和BET方法进行比表面积理论计算。

容量法

容量法中,测定样品吸附气体量多少是利用气态方程来计算。在预抽真空的密闭系统中导入一定量的吸附气体,通过测定出样品吸脱附导致的密闭系统中气体压力变化,利用气态方程P*V/T=nR换算出被吸附气体摩尔数变化。

直接对比法

直接对比法比表面积分析测试是利用连续流动法来测定吸附气体量,测定过程中需要选用标准样品(经严格标定比表面积的稳定物质)。并联到与被测样品完全相同的测试气路中,通过与被测样品同时进行吸附,分别进行脱附,测定出各自的脱附峰。在相同的吸附和脱附条件下,被测样品和标准样品的比表面积正比于其峰面积大小。

计算公式如下:

Sx:被测样品比表面积 S0:标准样品比表面积,

Ax:被测样品脱附峰面积 A0:标准样品脱附峰面积

Wx:被测样品质量 W0:标准样品质量

优点:无需实际标定吸附氮气量体积和进行复杂的理论计算即可求得比表面积;测试操作简单,测试速度快,效率高。

缺点:当标样和被测样品的表面吸附特性相差很大时,如吸附层数不同,测试结果误差会较大。

直接对比法仅适用于与标准样品吸附特性相接近的样品测量,由于BET法具有更可靠的理论依据,国内外更普遍认可BET法比表面积测定。

BET比表面积测定法

BET理论计算是建立在Brunauer、Emmett和Teller三人从经典统计理论推导出的多分子层吸附公式基础上,即著名的BET方程:

P: 吸附质分压 P0: 吸附剂饱和蒸汽压

V: 样品实际吸附量 Vm: 单层饱和吸附量

C:与样品吸附能力相关的常数

由上式可以看出,BET方程建立了单层饱和吸附量Vm与多层吸附量V之间的数量关系,为比表面积测定提供了很好的理论基础。

BET方程是建立在多层吸附的理论基础之上,与许多物质的实际吸附过程更接近,因此测试结果可靠性更高。实际测试过程中,通常实测3-5组被测样品在不同气体分压下多层吸附量V,以P/P0为X轴, 为Y轴,由BET方程做图进行线性拟合,得到直线的斜率和截距,从而求得Vm值计算出被测样品比表面积。理论和实践表明,当P/P0取点在0.05-0.35范围内时,BET方程与实际吸附过程相吻合,图形线性也很好,因此实际测试过程中选点需在此范围内。由于选取了3-5组P/P0进行测定,通常我们称之为多点BET。当被测样品的吸附能力很强,即C值很大时,直线的截距接近于零,可近似认为直线通过原点,此时可只测定一组P/P0数据与原点相连求出比表面积,我们称之为单点BET。与多点BET相比,单点BET结果误差会大一些。

若采用流动法来进行BET测定,测量系统需具备能精确调节气体分压P/P0的装置,以实现不同P/P0下吸附量测定。对于每一点P/P0下BET吸脱附过程与直接对比法相近似,不同的是BET法需标定样品实际吸附气体量的体积大小,而直接对比法则不需要。

特点:BET理论与物质实际吸附过程更接近,可测定样品范围广,测试结果准确性和可信度高,特别适合科研及生产单位使用。

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比表面测试法测试方法

同时这两种分类标准又有着一定的联系,直接对比法只能采用动态色谱法来测定吸附气体量的多少,吸附气体一般使用的都是氮气,而BET法既可以采用连续流动法,也可以采用容量法来测定吸附气体量。

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比表面测试法常见问题

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比表面测试法文献

2比表面积测试 2比表面积测试

2比表面积测试

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2比表面积测试

光纤通信测试法 光纤通信测试法

光纤通信测试法

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光纤通信测试法( OTDR)的参数设置及常 用方法 光纤 通信是以光波作载波以光纤为传输媒介的通信方 式。光纤通信由于传输距离远、信息容量大且通信质量高等 特点而成为当今信息传输的主要手段,是 “信息高速公路 ”的 基石。光纤测试技术是光纤应用领域中最广泛、最基本的一 项专门技术。 OTDR 是光纤测试技术领域中的主要 仪表 ,它 被广泛应用于光缆线路的维护、 施工之中, 可进行光纤长度、 光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量。 OTDR 具 有测试时间短、测试速度快、测试精度高等优点。 1 支持 OTDR 技术的两个基本公式 OTDR(Optical Time Domain Reflectometer ,光时 域反射仪 )是利用光脉冲在光纤中传输时的瑞利散射和菲涅 尔反射所产生的背向散射而制成的高科技、高精密的光电一 体化仪表。半导体光源 (LED 或 LD)在驱动电路调制下输出光

先张测试法简介

先张测试法是为了提高钢筋混凝土构件的抗裂性能以及避免钢筋混凝土构件过早出现裂缝,而在混凝土构件预制过程中对其预先施加应力以提高构件性能的一种方法。通常在浇灌混凝土之前张拉钢筋的制作方法也称为先张测试法,它在工程建设中起着重要作用。

先张测试法生产构件可采用长线台座法,一般台座长度在50~150m之间,或在钢模中机组流水法生产构件。先张法生产构件,涉及到台座、张拉机具和夹具及先张法张拉工艺,台座在先张测试法构件生产中是主要的承力构件,它必须具有足够的承载能力、刚度和稳定性,以免因台座的变形、倾覆和滑移而引起预应力的损失,以确保先张法生产构件的质量。2100433B

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比表面检测简介

比表面积定义:每克物质中所有颗粒总的外比表面积与内比表面积之和,国际单位是:m2/g ,比表面积是衡量物质特性的重要参量,其大小与颗粒的粒径、形状、表面缺陷及孔结构密切相关;同时,比表面积大小对物质其它的许多物理及化学性能会产生很大影响,特别是随着颗粒粒径的变小,比表面积成为了衡量物质性能的一项非常重要参量,如目前广泛应用的纳米材料。比表面积大小性能检测在许多的行业应用中是必须的,如电池材料,催化剂,橡胶中碳黑补强剂,纳米材料,分子筛,活性炭等。一般固体比表面积多在0.1-2000之间。也有一些材料比较特殊。像电池的正极三元材料,比表面只有零点几。而有些活性炭的比表面可以达到三四千左右。

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比表面测试概述

固体有一定的几何外形,借通常的仪器和计算可求得其表面积。但粉末或多孔性物质表面积的测定较困难,它们不仅具有不规则的外表面,还有复杂的内表面。通常称1g固体所占有的总表面积为该物质的比表面积(specific surface area,单位为㎡/g)。比表面测试主要即指测试固体比表面积的方法和过程,固体尤其是多孔固体的比表面测试,无论在科研还是工业生产中都具有十分重要的意义。

比表面积是衡量物质特性的重要参量,其大小与颗粒的粒径、形状、表面缺陷及孔结构密切相关;同时,比表面积大小对物质其它的许多物理及化学性能会产生很大影响,特别是随着颗粒粒径的变小,比表面积成为了衡量物质性能的一项非常重要参量,如目前广泛应用的纳米材料。

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