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多功能测试仪支持直接打印机输出
集多种测试功能与一体
樽祥仪器
绝缘测试,回路阻抗测试,RCD测试等
内置FLASHMEM能存储750组测试结果
多功能测试仪特性
多功能测试仪数据存储能力
RS232接口,支持打印机输出
斜率RCD测试
RCD测试可编程
设计符合并超过所有国际安全标准
提供250v,500v,1000v,1mA短路电流绝缘测试
标准200mA短路导通性测试
相-相,相-地,相-N标准回路阻抗测试
多功能测试仪支持大电流回路阻抗测试,分辨率0.01欧
预估接地故障与短路电流
支持安全不跳闸回路测试
支持简单系统接地电阻测试
支持相角测试,极性,大小显示
阻抗:0,01-3,00k欧精度: /‐5%
低电流不跳闸回路测试:测试电流15mA
PEFC:系统计算后显示
RCD测试:10-1000mA
电源:8节标准AA电池
安全标准:IEC1010‐1,EN61010‐1EMC:IEC61326
大小:245×200×95mm重量:1,35kg
多功能测试仪技术参数
适应电压:25v-500v
频率测试范围:16-460hz
多功能测试仪绝缘测试:
250v,500v,1000v绝缘测试,短路电流1mA
最大支持500M欧
导通性测试:标准200mA
多功能测试仪回路阻抗测试:100-280v45-65hz
多功能测试仪
回路电阻测试仪的种类及用途 回路电阻测试仪的种类很多,用途不同,所用范围广泛。 回路电阻测试仪:ZC8接地电阻表用途及适用范围: ZC-8接地电阻适用直接测量各种接地装置的接地电阻值,亦可供一般低电阻...
你好,flukems2100多功能网线测试仪价格还行,不同的生产商价格不同,佛山精微特仪器仪表有限公司 生产的flukems2100多功能网线测试仪的价格是138.00元,质量...
广州技创电子设备有限公司就是比较的不错的,这家公司生产的多功能绝缘测试仪是比较的有名气的,他们的产品的测量是比较的准确的,而且其公司内部的技术在国内的市场上也是比较的领先的。
多功能测试仪表的设计
该系统是一款基于MSP430F149单片机的数字便携式多功能测试仪表的设计。通过利用单片机内嵌的12位高速A/D转换器,实现对交直流电压、电流以及电阻、频率等常用电学量的测量,并通过继电器实现了自动量程切换的功能,同时还通过12864液晶实现对常见波形的显示。此外,该系统还具有自动断电和电池低电压提示功能,更好地降低了系统的功耗,提高了实用性。在此通过对方案的选择和论证,通过软件设计,最后进行了数据的测量,并对数据做了进一步的分析等,验证了其正确性。
基于FPGA的多功能电缆测试仪
本文介绍了电缆测试仪的测量方法,并提出了一种使用FPGA实现误码测试及衰减测试的设计及实现方法。该设计可通过FPGA内建的异步串行接口向主控计算机传递误码信息,也可以通过数码管实时显示一段时间内的误码率,在系统设计中,采用DDS技术产生高精度的正弦信号,将该信号通过真有效值(RMS)芯片转换为直流电平,再将该信号通过AD转换芯片转换为数字信号。本文还介绍了该系统的构成和工作流程,然后重点分析了关键技术的实现:误码测试衰减测试m序列等。该测量仪在试验测量中获得了较高的测量高度,能满足实际工程的应用要求。
MFT系列多功能测试仪集成了16种测试功能
不跳闸回路阻抗测试,自动RCD测试
樽祥仪器
背光LCD设计
标准绝缘测试
带信号灯测试表笔
系列多功能测试仪
MFT系列多功能测试仪简介
MEGGER出品功能强大的整合测试仪器,市场口碑极好的MEGGERMFT系列多功能测试仪之一,
MFT系列多功能测试仪功能有:
系列多功能测试仪回路测试:
不跳闸0.01欧回路测试
电源电压,相位检测
大电流回路测试
相-地,相-N,相-相测试
PFC预估
RCD测试
自动RCD测试
RCD斜率测试测跳闸电流
标准RCDS
可选RCD
万用表功能
AC–DC电压测试(500V量程)
导通性测试
200mA标准测试0.01欧‐99k欧
蜂鸣快速导通测试
测试线夹调零功能
绝缘测试
250v,500v,1000v标准测试电压
自动放电
安全告警与安全锁闭电路技术参数
MFT系列多功能测试仪
MFT1500系列
绝缘测试
导通测试
回路测试
1000v
500v
250v
200mA
测试线调零
带蜂鸣器
测最大阻抗
大电流测试
15mA不跳闸
MFT系列多功能测试仪
RCD测试背光
PSCC预估
3相安全测试
可调测试电流
斜率测试
自动测试
0度180度
25v50v可选
MFT1501/2
3000欧
MFT1502/2
3000欧
MFT1552
3000欧
测试
MFT系列多功能测试仪
电源范围
电压a.c.:
0V-500V50/60Hz±2%±2位数
电压d.c.:
0V-500V±2%±2位数
绝缘测试范围(EN61557-2)
系列多功能测试仪短路电流:<2mA
250V0.01MΩ-99.9MΩ
500V0.01MΩ-299MΩ
1000V0.01MΩ-499MΩ
导通测试欧姆:0.01Ω-99.9Ω(±2%±2位数)
100Ω-99.9co(±5%±2位数)
蜂鸣器
可选择界限有2Ω,5Ω,10Ω,20Ω,50Ω,100Ω
开路电压4-5Vd.c.
测试电流:
>200mA@2Ω
系列多功能测试仪测试导线归零:
达到9.99Ω(零点设置测试按钮)
回路测试范围(EN61557-3)
线/接地(单相)
0.01Ω-9.99Ω(±5%±0.03Ω)
10.0Ω-89.9Ω(±5%±0.5Ω)
90Ω-899Ω(±5%±5Ω)
900Ω-3.00kΩ(±5%±20Ω)
系列多功能测试仪主电源:
55V-480V45Hz到65Hz
低电流回路(不跳闸)
15mA
0.01Ω-2.00kΩ(±5%±0.03欧姆).
主电源:
55V-280V45Hz到65Hz
相相
25A
0.01Ω-19.99Ω(±5%±0.03Ω)
电源:
55V-270V45Hz到65Hz
预测短路电流PSC
预测故障电流=电压/回路阻抗
1A-199A1A分辨率
0.02kA-1.99kA10A分辨率
2.0kA-19.9kA100A分辨率
RCD量程(EN-61557-6)
电源:
100V-270V45Hz到65Hz
量程:
1000mA,500mA,300mA,100mA,30mA,10mA
类型:1/2I-1/2或者选择RCD额定电流
I–一倍选择RCD额定电流
5I–五倍RCD额定电流
RAMP–斜坡测试显示实际的跳闸电流。
电流精确度:
±3%
系列多功能测试仪操作温度:
-5到+40oC
储存温度
-25到65oC
最高海拔
2000m
防尘和防水符合IP54标准
MFT系列多功能测试仪尺寸:
150mmhighx85mmwidex235mmdeep
系列多功能测试仪
跳闸时间精确度:
±1%±1ms
电源
8x1.5V碱电池类型LR6
电池:
1x9V碱电池类型PP3
保险丝:
7A(SIBA70-065-63)
安全标准
双层绝缘符合IEC1010-1:2001标准,CATIII300V相对地,500V相对相.
探针设计符合IEC1010-031:2002标准,双层绝缘,CATIII,300V对地,500V
相对相.EMC
符合IEC61326包含修正No.1
MFT系列多功能测试仪环境
MFT系列多功能测试仪货单号MFT1500系列
ST-248 NS-468多功能测试仪
在牢记 以上描述的PDL测量误差来源的同时,这里概括了PDL测量一些好的习惯。以 General Photonics公司PDL-101多功能测试仪为例。
1. 用于PDL测量的光源必须是高稳定光源,光源的短期稳定性应与预期的PDL测量精度大体相当。如果要达到0.02dB 的PDL测量精度,光源短期功率稳定度必须高于0.02dB。
2. 建议在PDL-101的输入端加一个隔离器,用来减少从下游接头和待测器件反射回来的光进入光源。General Photonics公司的NoTail型隔离器没有尾纤,是首选产品。
3. 为了减少反射光进入光源,从而减少由此引起的光源不稳定性,在光源和PDL-101之间应该采用APC接头。因此,在第二步中描述的NoTail型隔离器应该采用APC连接。
4. 光源的偏振态要相对稳定。光源偏振态的快速波动将导致测量结果的波动。
5. 光源的波长要相对稳定,由于连接光源与测量仪器的光纤中存在双折射,因而光源波长的快速波动将导致偏振态的快速波动。
6. 应采用PDL较小的光纤跳线连接待测器件。
7. 为了减少由二次反射所造成的测量误差,应该使用APC接头将光输入到测量仪器和待测器件。PDL-101有APC穿板式接头。为了精确测量低PDL的待测器件(小于0.1dB),可以在接头B和C处使用折射率匹配膏,来减少背向反射和残余PDL。
8. 为了减少接头PDL的影响,应使用PC接头将待测器件的输出光引入测量仪器。PC接头的输出光将直接射入测量仪器内部的自由空间光电探测器。如果在这里使用APC接头,就会产生0.03~0.04 dB的PDL误差。
9. 因为弯曲会在光纤中产生不能忽略的PDL,所以在接头A和接头D之间的光纤不应该有强烈的弯曲或很紧的缠绕。
10. 对生产平台上的无连接器的带尾纤器件的测量应使用。在这个光路中,尾纤带APC接头的一端与APC穿板式接头A连接,另外没有接头的自由端留做熔接。
操作人员可以将自由端与待测器件输入端熔接起来,将待测器件的输出端用可拆除的裸纤适配器连接到穿板式接头D。可在APC接头A处使用折射率匹配膏来减少由此引起的PDL。
注释:接头A也会产生微小的背景PDL。因此,无连接器的带尾纤的器件的测量(尤其是低PDL器件),可以将此接头换做一段尾纤,从而能够将其与待测器件的输入端熔接。