选择特殊符号
选择搜索类型
请输入搜索
电容探针(头)法ca}acitanre needle rnethn.3电容法是 2U世纪5U年代发展的一种检测技术。
利用两极间是否填充 有固体颗粒所引起的电容大小的改变,来测量气一固流化床中 局部床层密度随时间或其他条件的变化规律,电可测定气泡 尺」、气泡I=升速度、气泡频率等标志气一固接触状态的一业 物理徽,以评价一个系统的流化质量二
在通常使用的家用电器中,电容器主要有三个作用:1 在需要直流电源的电路中,对交流电源整流后用电容器滤波,得到平滑的直流电。如不用这个电容器,交流电源经整流后的脉动直流电流不能经滤波成为平滑的...
用在单相电机的电容一般有两种:一种是我们较常见的启动电容,顾名思义,由于单相电机形成的磁场不是旋转的,在启动时就有了电机转向的不确定性或难以启动。通过电容的移相作用,使电机形成旋转的磁场,从而电机顺利...
行电容的容量可按下式计算:C=1950*In/(Un*COSФ) (μF)式中In、Un、cos十分别是原三相电机铭牌上的额定电流、额定电压和功率因数值,若铭牌上无功率因数,cosy可取0...
电容参数
一、电容的主要参数: 1、 电压 1) 额定电压:两端可以持续施加的电压,一般为直流电压,通常用 VDC。而专用于 交流电的则为交流有效值电压,通常为 VAC。 电容器的交直流额定电压换算关系 直流额定电压 VR/VDC 50 63 100 250 400 630 1000 交流额定电压 VR/VAC 30 40 63 160 200 220 250 2) 浪涌电压:电解电容特有的电压参数,是短时间可以承受的过电压,为额定电压的 1.15 倍。 3) 瞬时过电压:是铝电解电容特有电压参数,为可以瞬时承受的过电压,这个浪涌电 压约为额定电压的 1.3 倍,是铝电解电容的击穿电压。 4) 介电强度:电容额定电压低于电容中介质的击穿电压。一般为额定电压的 1.5~2.5 倍。如:铝电解电容的击穿电压约为额定电压的 1.3 倍;其它介质则通常为 1.75~2 倍以上。 5) 试验电压:薄膜电容
电容
在把电容装入你的应用装置之前请仔细阅读下面的安装与维护说明。 关于本手册 : 这篇手册介绍了典型的用法。在安装前,请参考我们的产品使用说明书,或者要求我 们对你的特殊要求作出认可。 为了你的安全!不遵守手册指南可能会导致操作失败,爆炸和起火。 如果你有疑问,请与当地的 EPCOS销售单位或发行人联系,取得帮助。 安装与操作时的总体注意事项: ——保证电容外壳有良好的有效的接地。 ——在系统中,与任何故障元件 /区域要有绝缘措施。 ——搬运电容时要小心,由于放电元件故障,即使断开后,电容也有可能会有电。 ——遵守有关的工程实践要求。 ——不要使用 HRC 熔丝来来断电容(否则会有可能引起电弧导致危险) 。 ——一旦施加了电压,同样要考虑电容接线端子、连接母线和电缆,还有任何其他的 与其相连的元件。因为它们是带电的! 存放和操作条件 不要在腐蚀性的空气中,特别是氯化物气体、硫化物气体、酸性、碱
四探针法通常用来测量半导体的电阻率。四探针法测量电阻率有个非常大的优点,它不需要校准;有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准。
与四探针法相比,传统的二探针法更方便些,因为它只需要操作两个探针,但是处理二探针法得到的数据却很复杂。如图一,电阻两端有两个探针接触,每个接触点既测量电阻两端的电流值,也测量了电阻两端的电压值。我们希望确定所测量的电阻器的电阻值,总电阻值:
RT = V/I = 2RW + 2RC + RDUT;
其中RW是导线电阻,RC是接触电阻,RDUT是所要测量的电阻器的电阻,显然用这种方法不能确定RDUT的值。矫正的办法就是使用四点接触法,即四探针法。如图二,电流的路径与图一中相同,但是测量电压使用的是另外两个接触点。尽管电压计测量的电压也包含了导线电压和接触电压,但由于电压计的内阻很大,通过电压计的电流非常小,因此,导线电压与接触电压可以忽略不计,测量的电压值基本上等于电阻器两端的电压值。
通过采用四探针法取代二探针法,尽管电流所走的路径是一样的,但由于消除掉了寄生压降,使得测量变得精确了。四探针法在Lord Kelvin使用之后,变得十分普及,命名为四探针法。
探针台分类
探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动
从功能上来区分有:温控探针台,真空探针台(超低温探针台),RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台
经济手动型
根据客户需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可选)
X-Y移动行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可选)
chuck Z轴方向升降10mm(选项)方便探针与样品快速分离
显微镜:金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜(可选)
显微镜移动方式:立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型(可选)
探针座:有0.7um、2um、10um精度可选,磁性吸附带磁力开关
可搭配Probe card测试
适用领域:晶圆厂、研究所、高校等
半自动型
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y电动移动行程200mm/150mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm
可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6~8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"
可搭配Probe card测试
适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品
电动型
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金)
X,Y电动移动行程300mm x 300mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数8~12颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
材质:花岗岩台面 不锈钢
可搭配Probe card测试
适用领域:12寸Wafer、IC测试之产品
LCD半自动探针台
机械手臂取放片
电动、键入坐标寻位置
量测尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
LCD手动探针台
白炽灯或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量测分析
机台尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
PCB量测探针台(TDR)
高频测试探头GSG / GS / SG
频率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
机台尺寸同LCD 探针台
太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)
量测软体:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太阳光模拟器
探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动
从功能上来区分有:温控探针台,真空探针台(超低温探针台),RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台
根据客户需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可选)
X-Y移动行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可选)
chuck Z轴方向升降10mm(选项)方便探针与样品快速分离
显微镜:金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜(可选)
显微镜移动方式:立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型(可选)
探针座:有0.7um、2um、10um精度可选,磁性吸附带磁力开关
可搭配Probe card测试
适用领域:晶圆厂、研究所、高校等
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y电动移动行程200mm/150mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm
可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6~8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"
可搭配Probe card测试
适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金)
X,Y电动移动行程300mm x 300mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数8~12颗
显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"
材质:花岗岩台面+不锈钢
可搭配Probe card测试
适用领域:12寸Wafer、IC测试之产品
机械手臂取放片
电动、键入坐标寻位置
量测尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
白炽灯或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量测分析
机台尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
高频测试探头GSG / GS / SG
频率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
机台尺寸同LCD 探针台
量测软体:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太阳光模拟器