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可测试未封装的器件,与半导体器件参数测试仪,一起可以测量各种半导体器件的输出与输入特性,转移特性和直流特性,以及器件特征。
样品震动±25nm,30分钟内漂移±60nm,使用的液氦消耗率~1.0L/hour@5k,使用的液氮消耗率~1.0L/hour@80k,工作温度范围:~5k-475k(使用液氦),~80k-475。
温度计,是测温仪器的总称。根据所用测温物质的不同和测温范围的不同,有煤油温度计、酒精温度计、温度计、气体温度计、电阻温度计、温差电偶温度计、辐射温度计和光测温度计、双金属温度计等。 根据使用目的的不同...
苏州地区高低温试验箱市场竞争还是比较大的,大大小小的品牌也是数不胜数的。不过我之前工作地方曾经买过购买过一台高低温试验箱,用了几年质量一直都比较好,没有出现过什么问题。还是不错的,你可看一下昆山_华凯...
橡胶管具有无毒、环保、生理惰性、耐紫外线、耐臭氧、耐高低温(-80至300度)、透明度高、回弹力强,耐压缩永久不变形、耐油、耐冲压、耐酸碱、耐磨、难燃、耐电压、导电等性能!价格: &nbs...
高低温低气压试验箱
广州斯派克环境仪器有限公司 LPT高低温低气压试验箱 型号 LPT0470W LPT0770W LPT1070W LPT2470W 标称内容积(升) 360 720 1000 2370 性能 温度范围 -65℃~ +150℃ 温度波动度 ±0.5 ℃(常压) 温度偏差 ±2.0 ℃(常压) 升温时间 ≤60 分钟( +20℃ → +150℃、常压、空载) 降温时间※ 2 ≤45min( 常压 ) ≤60min(常压 ) ≤90min( 常压 ) 压力范围 常压~ 0.5kPa 压力控制误差 ±0.1kPa( ≤2kPa时 ),± 5%(2kPa~40kPa时),± 2kPa(≥40kPa时) 降压时间 ≤20min ≤25min ≤30min ≤45min 内部尺寸( mm) W 600 800 1000 1300 H 750 900 1000 1300 D 800 100
抗高低温建筑防水涂料
一种抗高低温建筑防水涂料,称取氧化镁50份,氯化镁15份,硅酸镁5份,添加剂3份,其中防水剂硫酸铜0.6份,氯化钙0.6份,五氧化二磷1.8份,高锰酸钾1.2份,α-纤维素2份,精木粉15份,玻璃纤维短纤维5份,混合后,加清水适量,搅拌均匀至糊状,摊铺,压实。
探针台分类
探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动
从功能上来区分有:温控探针台,真空探针台(超低温探针台),RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台
经济手动型
根据客户需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可选)
X-Y移动行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可选)
chuck Z轴方向升降10mm(选项)方便探针与样品快速分离
显微镜:金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜(可选)
显微镜移动方式:立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型(可选)
探针座:有0.7um、2um、10um精度可选,磁性吸附带磁力开关
可搭配Probe card测试
适用领域:晶圆厂、研究所、高校等
半自动型
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y电动移动行程200mm/150mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm
可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6~8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"
可搭配Probe card测试
适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品
电动型
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金)
X,Y电动移动行程300mm x 300mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数8~12颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
材质:花岗岩台面 不锈钢
可搭配Probe card测试
适用领域:12寸Wafer、IC测试之产品
LCD半自动探针台
机械手臂取放片
电动、键入坐标寻位置
量测尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
LCD手动探针台
白炽灯或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量测分析
机台尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
PCB量测探针台(TDR)
高频测试探头GSG / GS / SG
频率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
机台尺寸同LCD 探针台
太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)
量测软体:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太阳光模拟器
1.什么是探针台
探针台是一种辅助执行机构,测试人员把需要量测的器件放到探针台载物台(chuck)上,在显微镜配合下,X-Y移动器件,找到需要探测的位置。接下来测试人员通过旋转探针座上的X-Y-Z的三向旋钮,控制前部探针(射频或直流探针),精准扎到被测点,从而使其讯号线与外部测试机导通,通过测试机测试人员可以得到所需要的电性能参数。
2探针台应用
手动探针台广泛应用于,科研单位研发测试、院校教学操作、企业实验室芯片失效分析等领域。一般使用于研发测试阶段 ,批量不是很大的情况,大批量的重复测试推荐使用探卡。
主要功能:搭配外接测试测半导体参数测试仪、示波器、网分等测试源表,量测半导体器件IV CV脉冲/动态IV等参数。
用途:以往如果需要测试电子元器件或系统的基本电性能(如电流、电压、阻抗等)或工作状态,测试人员一般会采用表笔去点测。随着电子技术的不断发展,对于精密微小(纳米级)的微电子器件(如IC、wafer、Chip、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小的Connector),表笔点到被测位置就显得无能为力了。于是一种高精度探针座应运而生,利用高精度微探针将被测原件的内部讯号引导出来,便于其电性测试设备(不属于本机器)对此测试、分析。
探针台执行机构由探针座和探针杆两部分组成.在探针座有X-Y-Z三向调节旋钮,控制固定在针座上的探针杆做三向移动,移动范围12mm,移动精度可以达到0.7微米。这样可以把探针很好的点到待测点上(说明探针是耗材,一般客户自己准备),探针探测到的信号可以通过探针杆上的电缆传输到与其连接的测试机上,从而得到电性能的参数。对于重复测试同种器件,多个点位的推荐使用探针台安装探卡进行测试。
3、工作环境
探针台应放在坚固稳定的台面上,如地基有震动的情况,需要配置主动防震装置,避免在高温、潮湿、激烈震动、阳光直接照射和灰尘较多的环境下使用。使用最佳温度范围为5℃~40℃,最佳湿度是40%到85%,空气中之湿度若低于30%以下,可靠湿度控制器予以控制,使维持50%~60%之范围。使用时门窗尽可能关闭,使室内达到除湿效果。
使用电源:220V,50Hz
探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动
从功能上来区分有:温控探针台,真空探针台(超低温探针台),RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台
根据客户需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可选)
X-Y移动行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可选)
chuck Z轴方向升降10mm(选项)方便探针与样品快速分离
显微镜:金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜(可选)
显微镜移动方式:立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型(可选)
探针座:有0.7um、2um、10um精度可选,磁性吸附带磁力开关
可搭配Probe card测试
适用领域:晶圆厂、研究所、高校等
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y电动移动行程200mm/150mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm
可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6~8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"
可搭配Probe card测试
适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金)
X,Y电动移动行程300mm x 300mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数8~12颗
显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"
材质:花岗岩台面+不锈钢
可搭配Probe card测试
适用领域:12寸Wafer、IC测试之产品
机械手臂取放片
电动、键入坐标寻位置
量测尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
白炽灯或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量测分析
机台尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
高频测试探头GSG / GS / SG
频率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
机台尺寸同LCD 探针台
量测软体:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太阳光模拟器