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是一面被磨平并抛光过的矿石小标本。磨光面要求平滑如镜,硬矿物和软矿物的相对突起不过于明显,不应有小坑、细裂缝或擦痕存在。碎屑矿物用各种胶结物(如电木粉)胶结后也可磨成光片。光片的质量好坏直接影响鉴定工作。
准确地鉴定天然矿石、人造富矿中的透明矿物和半透明矿物(如橄榄石、硅灰石及铁酸钙等)的组成和它们与不透明矿物之间的关系,需要制成样品厚度为0.03MM的透明光薄片。制作方法是把矿石切成略大于2.5CM×1.5CM×1CM的长方形或其他形状的矿块,先将其一面粗磨;细磨直到玻璃板上细磨后,在清水中清洗。用固体光学树胶,把细抛光面粘在玻璃片上,再反过来经粗磨到细磨一直磨到厚度为0.03MM,然后在抛光机上抛光,制成既当薄片用(用以在偏光显微镜下鉴定透明矿物或半透明矿物),同时又能当光片用(用以在矿相显微镜下鉴定不透明矿物)的光薄片。这种光薄片可以在同一片子上研究不透明矿物和透明矿物或半透明矿物的相互关系。对研究人造富矿来说,制成薄片易于保丰,放在干燥器中长久保存不致粉碎。
1、切片方式不同
薄片要把岩石切至0.03mm以下,用树胶贴在载玻片下便于观察岩石的矿物组成等岩相学和岩组学特征。光片不需要载玻片或是盖玻片,只需要把岩石表面抛光。
2、实验仪器不同
薄片:主要用透射光显微镜 光片:用反射光显微镜。不过现在高级的显微镜同时配备有透射和反射光路。
3、磨片目的不同
薄片:主要是对岩石中的透明矿物进行观察,适用于一般岩石。但是若岩石中含有金属矿物,等无法判别。
光片:适用于矿石中矿石矿物(方铅矿、黄铜矿等)的判别。
学科:岩矿分析与鉴定
词目:光片
英文:polished section
在偏光显微镜及反光显微镜下研究工艺岩石(炉渣等)、工艺矿石(烧结矿、球团矿)以及天然岩石的矿物组成、晶体大小、含量及其结构、构造特征时,必须将上述样品磨制成高质量的光片、光薄片及薄片等矿片。矿片的磨制质量对鉴定矿物和观察结构特征影响极大,如果磨制的矿片质量不好,常常会影响鉴定工作的准确性。因此,必须学会磨制高质量的光片、薄片。
1.样品规格:
陈列标本的大小不应小于3×6×225px;供薄片、光片鉴定用样品以能满足切制光片、薄片及手标本观察的需要为原则,规格不限。
2.采样要求
①沉积岩 对工作区内各时代地层的每一种代表性岩石均应按地层层序系统采样,同时也要适当采集能反映沿走向变化情况的样品;有沉积矿产的地段和沉积韵律发育地段,应视研究的需要而加密采样点。
②岩浆岩 在每个岩体中按相带系统采集各种代表性岩石样品,在各相带间的过度地段应加密采样点;对岩体的下列地段及地质体均应采集样品:析离体、捕掳体、同化混染带、脉岩、岩体各类围岩、接触变质带、岩体冷凝边等;对各种类型的火山岩,按其层序及岩性,沿走向和倾向系统采样。
③变质岩 根据岩石变质程度按剖面系统采样,并注意样品中应含有划分变质带的标志矿物;对不同夹层、残留体(由边缘至中心)、各种混合岩应系统地分别采样。
④矿石
应按不同自然类型、工业类型、矿化期次、矿物共生组合、结构、构造、围岩蚀变的矿石,以及根据矿石中各有用矿物的相互关系,有用矿物与脉石矿物的相互关系等特征分别采集矿石样品。对于矿石类型复杂,矿物组合变化大的矿体,还应选择有代表性的剖面系统采样,以便研究矿石的变化规律。在对矿石采集光片鉴定样品的同时,为研究其中透明矿物及其与金属矿物的关系,应注意适当采集薄片、光薄片鉴定样品。
当对各类岩石和矿石采集化学全分析样品,同位素地质年龄测定样品时,应同时采集岩矿鉴定样品。应注意采集反映构造特征的标本,若小型标本不足以反映岩石、矿石的特殊构造时,可根据需要采集大型标本;若采集定向标本,则应注明产状方位;采集极疏松和多孔样品时,可先用丙酮胶(废胶卷溶于丙酮制成)浸透岩石、矿石,待胶结干涸后再采集样品。无特殊情况(如研究风化岩石、矿石),一般应采集新鲜样品。对于岩石标本,有时可适当保留部分风化面,以便更好地再现它的野外直观特征。
3.样品的编录
样品采集后,应在采样现场按采样目的,将欲切制成光片、薄片等部位,用醒目的色笔圈出。在一般情况下,应使切片平面垂直于层理、矿脉等延向。然后编号、登记、填写标签(同时注明切片种类、数量)等,尤其须在记录本上注明采样位置、编号、采样目的等。
透光片双层注射模设计
双层注射模是满足多品种同模成型的注射模具。该具不仅解决双层注射的顶出问题,并设置了实现顺序分型的简易定距拉紧机构,且能实现流道自动脱落。
超薄硅双面抛光片抛光工艺技术
MEMS器件、保护电路、空间太阳电池等的制作需要使用硅双面抛光片,并且要求抛光片的厚度很薄,传统的硅抛光片加工工艺已经不能满足这一要求。介绍了一种用于超薄硅单晶双面抛光片加工的抛光工艺方法。通过对硅片抛光机理[1]、抛光方式、抛光工艺的研究和对抛光工艺试验结果的分析,解决了超薄硅单晶双面抛光片在加工过程中碎片率高、抛光片背面表面质量不易控制的技术难题,研制出了高质量的超薄硅单晶双面抛光片。
塑料反光片常用的有:亚克力反光片,PS反光片,PC反光片,PVC反光片,PET反光片。
什么是偏光片
偏光片的全称应该是偏振光片,学过物理的应该知道什么是偏振光,液晶显示器的成像必须依靠偏振光,所有的液晶都有前后两片偏振光片紧贴在液晶玻璃,组成总厚度1mm左右的液晶片。如果少了任何一张偏光片,液晶片都是不能显示图像的。
偏光片贴附机的主要特点
偏光片贴附机具有效率高,对位方便,产品优质率高等特点。一方面比传统的人工贴合更加节省成本,在改善人工劳动强度的同时,也摆脱了对人员熟练度的过度依赖;也完全克服了人工贴合时产生的气泡、皱着、光晕环、水纹等缺点。
除此以外,它还具备如下优点:
工作平稳,无振动
基片厚度:0.1~10mm以内均可
贴合平整,无气泡,无皱折
操作方便,调整定位容易
加工尺寸变更灵活
采用PLC控制,动作可靠,操作简单
贴附头压力可调节
LCD平台由精密滑轨,确保位置精度
宽带滤光片通常可以用短波通和长波通滤光片组合而成。考虑到膜层吸收特性,某些短波通或长波通滤光片其本身就可以当作宽带滤光片。截止滤光片膜系可以镀在不同的基片上,若干不同截止波长的截止滤光片可组成一套具有不同半宽度和峰值波长的宽带滤光片,一般情况下,这样组成的宽带滤光片,不适用于成像系统,因为膜系之间的多次反射可能会造成鬼像。为了消除鬼像,必须把整个薄膜滤光片都镀在基底的同一侧,最有效的设计方法仍然是采用对称周期膜系。
采用对称周期膜系时,可用等效单层膜来表示短波通膜系和长波通膜系,这样有三个需要匹配的界面,假如用A和B表示两个等效膜,其中B靠近基片,则在基片和B,B和A及A和入射介质之间都需要考虑匹配膜层,用简单的
某些多半波滤光片膜系(即含有多个半波层的膜系)也可以构成宽带滤光片,例如全介质四半波滤光片: