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单模光纤数值孔径的测量
单模光纤数值孔径的测量
大孔径光纤过渡器中光波特性分析
2002 年 10 月 第 4 卷第 10 期 中国工程科学 Engineering Science Oct12002 Vol 14 No110 学 术 论 文 大孔径光纤过渡器中光波特性分析 王云明 , 孙小菡 , 张明德 (东南大学电子工程系 , 南京 210096) [摘要 ] 提出了基于束传输法 (BPM ) 的大孔径光纤锥形过渡器理论分析模型 。讨论了过渡器在纵向边界线 性和非线性情况下 (包括类似正弦型和余弦型变化 ) , 分别以大小端作为输入端口 , 耦合角度以及耦合长度对过 渡器的损耗和耦合效率的影响 , 得出了过渡器最佳纵向边界 、耦合角度和耦合长度 。 [关键词 ] 束传输法 (BPM ) ; 大孔径光纤 ; 锥形过渡器 ; 插入损耗 [中图分类号 ] TN 253 [文献标识码 ] A [文章编号 ] 1009 - 1742 (2002 ) 10 -
PKL 用户接口宏指令;单模及多模光纤谱损耗测试软件;单模光纤谱截止波长控制测试软件;多模光纤数值孔径测试程序;多模光纤芯经测试程序;单模光纤谱模场直径控制;2500-DMD 微分模时延选项控制测试软件;2500PBW或2500PBA及TDS8000带宽测试选项的程序控制。
测量光纤的衰减时,若光纤存在不连续,由于各段的背向散射系数不同,测得的衰减是不准确的,可能有很大的偏差。但是对于均匀、连续的光纤,衰减测量结果足够精确,与剪断法很一致。如图所示的曲线中,曲线斜率恒定区,衰减
(VA-VB),衰减常数α(λ)=A(λ)/LA-B。利用此法测衰减,由于无法控制背向散射光的模式分布I背向散射对光纤数值孔径、直径、散射系数等物理变化很敏感,这常会使两个传输方向上测得的衰减常数不同,所以通常是取两个方向测量结果的平均值。
利用背向散射曲线出现不连续的台阶,可以测量接头损耗。对仪表显示的数值应该小心处理,因为显示的是背向散射功率(电平值),与背向散射系数成正比,为了减小背向散射系数不同所产生的影响,接头损耗值必需按两个方向测得的结果取平均来确定。
第1章 绪论
第2章 光纤光学基础实验
2.1 光纤端面处理、耦合与连接技术
2.2 光纤损耗谱测试
2.3 光纤数值孔径测量
2.4 基于光时域反射仪进行光纤长度、损耗及断点测试实验
2.5 LD/LED功率-电流及电压-电流特性曲线测试
2.6 LD/LED输出光谱特性测试
2.7 LD远场特性测试
2.8 光探测器直流参数的测试
2.9 光纤模场分布观察、模场半宽测试及光纤带宽测试综合实验(设计型实验)
2.10 密集波分复用器的设计
2.11 掺铒光纤激光器的设计
第3章 光纤通信基础实验