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铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法

《铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法(第3部分):分光束显微镜法(GB/T 8014.3-2005)》修改采用ISO 2128:1976《铝及铝合金阳极氧化—氧化膜厚度测定—分光束显微镜无损测定法》(英文版),并根据ISO 2128:1976重新起草。本部分与ISO 2128:1976的差异体现在编写格式方面。为方便比较,在资料性附录A中列出了本部分章条和对应的国际标准章条的对照一览表。本部分代替GB/T 8015.2—1987《铝及铝合金阳极氧化膜厚度的试验方法 分光束显微法》,本部分与GB/T 8015.2—1987的差异体现在编写格式方面。《铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法(第3部分):分光束显微镜法(GB/T 8014.3-2005)》系无损检测方法。

铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法基本信息

铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法简介

《铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法(第3部分):分光束显微镜法(GB/T 8014.3-2005)》的附录A为资料性附录。本部分由中国有色金属工业协会提出。本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。本部分负责起草单位:北京有色金属研究总院。本部分参加起草单位:深圳华加日铝业有限公司、广东坚美铝型材厂有限公司。本部分主要起草人:朱祖芳、李永丰、熊进平、戴悦星、谭群燕、章吉林。本部分由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本部分所代替历次版本标准发布情况为:GB/T 8015.2—1987。2100433B

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铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法造价信息

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铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法常见问题

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铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法文献

铝及铝合金阳极氧化 铝及铝合金阳极氧化

铝及铝合金阳极氧化

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铝及铝合金阳极氧化、阳极氧化膜、厚度的定义和有关测量厚度的规定 在铝及铝合金阳极氧化膜厚度的特性数据中,最小厚度值是比较重要参数。在很多测量场合下都会涉及到 它。 本标准的主要目的在于使用铝及铝合金阳极氧化膜厚度检验方法时,要确切地知道何谓 “最小厚度 ”这 一术语的定义。 本标准规定了有关铝及铝合金阳极氧化膜厚度的术语和最小厚度的测量原则。 本标准等同于 ISO 2164-1980 《金属镀层和其他无机涂层 --定义和有关测量厚度的规定》。 1 定义 1.1 有效表面 零件表面所氧化的这部分膜层,其性能和外观都很重要。 1.2 测量面 在有效表面上作一次性测量的面。 用于下列方法时,对 “测量面”作如下规定: a.用于重量发时,去掉氧化膜的面。 b. 用于阳极溶解发时,由封闭环绝缘封闭的面。 c.用于显微法检验时,仅供一次性测量的面。 d.用于无损检验时,指探头区或诱导出读数的面。 1.

铝及铝合金阳极氧化膜的封闭方法 铝及铝合金阳极氧化膜的封闭方法

铝及铝合金阳极氧化膜的封闭方法

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文章概述了铝及铝合金阳极氧化膜的封闭方法,包括有水合封闭、金属盐封闭、溶胶凝胶封闭、有机物封闭。比较了不同封闭方法的优缺点,指出更多绿色、高效且易于工业化生产的封孔方法将被提出。

薄膜厚度测量测量方法

随着科技的进步和精密仪器的应用,薄膜厚度的测量方法有很多,按照测量的方式分可以分为两类:直接测量和间接测量。直接测量指应用测量仪器,通过接触(或光接触)直接感应出薄膜的厚度,常见的直接法测量有:螺旋测微法、精密轮廓扫描法(台阶法)、扫描电子显微法(SEM);间接测量指根据一定对应的物理关系,将相关的物理量经过计算转化为薄膜的厚度,从而达到测量薄膜厚度的目的。常见的间接法测量有:称量法、电容法、电阻法、等厚干涉法、变角干涉法、椭圆偏振法。按照测量的原理可分为三类:称量法、电学法、光学法。常见的称量法有:天平法、石英法、原子数测定法;常见的电学法有:电阻法、电容法、涡流法;常见的光学方法有:等厚干涉法、变角干涉法、光吸收法、椭圆偏振法。

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柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法编制进程

2020年3月6日,《柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法》发布。

2021年2月1日,《柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法》实施。

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铝及铝合金阳极氧化膜检测方法编辑推荐

《铝及铝合金阳极氧化膜检测方法(第2部分):用轮式磨损试验仪测定阳极氧化膜的耐磨性和耐磨系数(GB/T 12967.2-2008)》由中国标准出版社出版。

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