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双天线射电干涉仪是由两面天线组成的射电望远镜。两面天线分设在距离为D 的基线两端,它们接收同一个天体"点源"所发出的波长为λ 的射电信号,经过等长的传输线,使信号在接收机内相加或相乘,则所检测到的输出功率,将随地球自转而呈现准正﹑余弦形状的干涉图形(见射电干涉仪)。
从的关系可以看出,当接收机系统的频带宽度为△时,△范围内的各个不同波长的信号也将有不同的相位差,而这种相位差的值等于。因此,和前面所说的情况一样,条纹幅度也会降低。煌?氖签o当为0时,△也为0。所以,在 为0的方向附近,这种由频宽引起的条纹损失并不严重。愈大,损失也愈大。通常使用人工延迟(如加"延迟线")的办法,使两路信号没有相位差,以消除这种影响。
由两面天线组成的射电望远镜。两面天线分设在距离为D 的基线两端,它们接收同一个天体"点源"所发出的波长为λ 的射电信号,经过等长的传输线,使信号在接收机内相加或相乘,则所检测到的输出功率,将随地球自转而呈现准正﹑余弦形状的干涉图形(见射电干涉仪)。若天体射电波的波前平面与干涉仪基线的交角为 ,则两个天线收到的信号的程差将为D sin ,从而得出两路信号之间的相位差,两路迭加之后的输出功率正比于cos。天体的周日运动使 随时间t 而变化,从而使发生变化,产生了干涉图形cos(t )。这种图形通常称为干涉条纹。如果射电源不是点源,而是具有一定的角径△ ,则干涉仪在同一时间收到的信号将是来自 到 +△ 的空间范围内。在这个范围内不同方向的信号成分将有不同的相位差o假设其相应的范围为到+△,而且这些信号成分的幅度相等,则迭加后的输出功率将正比于。与点源的情况(点源即相当于△=0)相比,干涉条纹的幅度,将按照
随△的增大而下降。当 △=2π 时,条纹将完全消失。这说明干涉仪对大的"面源"是不敏感的。因此,用它来观测小角径的射电源时,条纹将不受到背景射电的影响。实际上,迄今相当一部分射电源的精确定位,是由双天线干涉仪完成的。其原理是﹕当条纹出现峰值时,=0,因而可以定出射电源此时处于 =0的方向(当然,峰值可以发生在=0,2π ,4π ,…,它们相当于不同的射电源方向,必须用另外的条件来判断真正的方位)。如果射电源有一定的角径,通过干涉条纹的幅度,可估计出角径的大小。对于基线距离为3,000米左右的干涉仪,在10厘米左右的波长上,对射电源的位置测量精度可优于1,但是,测量射电源的细节和前面说过的"面源",双天线干涉仪是无能为力的。
干涉原理上来说,白光和激光没有本质区别,就是频率有差别而已 。但目前使用的大部分迈克尔逊干涉仪是 白光式的。
白光干涉仪是用于对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器,它是以白光干涉技术为原理,光源发出的光经过扩束准直后经分光棱镜后分成两束,一束经被测表面反射回来,另外一束光经参考镜反射,两束反射光最终汇聚并发...
白光干涉仪是用于对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器,它是以白光干涉技术为原理,光源发出的光经过扩束准直后经分光棱镜后分成两束,一束经被测表面反射回来,另外一束光经参考镜反射,两束反射光最终汇聚并发...
JDG—1型激光多用干涉仪
我国第一台多用途、高精度的光学测试仪器—JDG-1型激光多用干涉仪,最近在安徽光学精密机械研究所研制成功.这台仪器可用于测量光学零件的平面度、平行度、球面
激光干涉仪使用方法
用激光干涉仪系统进行精确的线性测量 — 最佳操作及实践经验 1 简介 本文描述的最佳操作步骤及实践经验主要针对使用激光干涉仪校准机床如车床、铣床以及 坐标测量机的线性精度。但是,文中描述的一般原则适用于所有情况。与激光测量方法相 关的其它项目,如角度、平面度、直线度和平行度测量不包括在内,用于实现 0.1 微米即 0.1 ppm 以下的短距离精度测量的特殊方法(如真空操作)也不包括在内。 微米是极小的距离测量单位。( 1 微米比一根头发的 1/25 还细。由于太细,所以肉眼无 法看到,接近于传统光学显微镜的极限值)。可实现微米级及更高分辨率的数显表的广泛 使用,为用户提供了令人满意的测量精度。尽管测量值在小数点后有很多位数,但并不表 明都很精确。(在许多情况下精度比显示的分辨率低 10-100 倍)。实现 1 微米的测量分 辨率很容易,但要得到 1 微米的测量精度需要特别注意一些细节。本文