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Wedge Bond楔形结合点.半导体封装工程中,在芯片与引脚间进行各种打线;如热压打线 TC Bond、热超音波打线TS Bond、及超音波打线UC Bond等。
介绍名词
打牢结合后须将金线末端压扁拉断,以便另在其它区域继续打线。此种压扁与拉断的第二点称为 Wedge Bond。至于打线头在芯片上起点处,先行压缩打上的另一种球形结合点,则称为 Ball Bond。左四图分别为两种结合点的侧视图与俯视图,以及其等之实物体。Welding熔接也是属于一种金属的结合(Bonding)方法,与软焊(soldering或称锡焊)、硬焊(Brazing)同属"冶金式"(Metallugical)的结合法。熔接法的强度虽很好,但接点之施工温度亦极高,须超过被接合金属的熔点,故较少用于电子工业。
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美国线的BOND是美国的一种合约保险。美国线FMC(Federal MaritimeCouncil)(美国联邦海事委员会):是掌握美国进/出口航商及海运事务的官方组织。Carrier必向它申请...
请问键价和(bond-valence sum, BVS)是什么参数?有什么具体意义吗,或是能描述什么性质?
(1)若原子A和原子B各有一未成对电子且自旋相反,则可互相配对而构成共价单键,如原子A和原子B各有两个或三个未成对电子,则可分别配对机时构成共价双键或三键;(2)每一原子形成共价键的数目有一最大值,例...
德高L-BOND界面剂施工
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铝线邦定(Bond)技术基础
Sub:Bond技術基礎培訓資料 Date: SEP 30 ,2006 1. Bond簡介 Bond的中文意思是焊接的意思,是晶片組裝的一門技術是將晶片直接粘在 PCB上用引線鍵合達到晶片與 PCB的電氣聯結然後用黑膠包封,也稱 COB (Chip -on-Board) 板載晶片技術。 2. Bond 原理 Bond是利用超聲波發生器產生的能量,通過換能器在超高頻的磁場感應下 產生彈性振動,使焊頭相應振動,同時在焊頭上施加一定的壓力於是焊頭在這 兩種力的共同作用下,帶動 AI線在被焊區的金屬層表面迅速摩擦,使 AI線和被 焊區的金屬化層表面產生塑性變形,這種形變破壞了 AI線表面和被焊區的金屬 層表面的氧化層,使兩個純淨的金屬表面緊密接觸達到原子間的結合從而形成 焊接。在摩擦過程中產生的熱量加速了金屬原子
Wire Pull Testing (WPT), or bond pull testing, is one of several available time-zero tests for wire bond strength and quality. It consists of applying an upward force under the wire to be tested, effectively pulling the wire away from the die.
拉线测试(WPT),或称键合力度拉扯测试,是评价金线键合力度与质量的有效方法之一。方法:在键合金线的下方施加一个向上的拉力使键合部从芯片表面被拉开,并对拉力的大小进行测量。
Wire pull testing requires a special equipment commonly referred to as a wire pull tester (or bond pull tester), which consists of two major parts: 1) a mechanism for applying the upward pulling force on the wire using a tool known as a pull hook; and 2) a calibrated instrument for measuring the force at which the wire eventually breaks. This breaking force is usually expressed in grams-force.
拉线测试所需设备:拉线测试设备(键合力度拉扯测试设备),主要由两部分构成,1)由一机械装置驱动一拉钩产生一向上的拉力,2)经校准后的力度测试装置,用来测量金线从芯片表面拉开时的力度。该力度一般用gF(克力)来表示。
There exist many variants or test conditions for performing the WPT, but the most widely used test condition for conventional wirebonded devices is the double-bond wire pull test. This procedure consists of applying the pull hook under a wire that is attached at both ends (say, one end to a bond pad on the die, and the other end to the bonding finger or bonding post of the package). The pull hook is usually positioned at the highest point along the loop of the wire, and the pulling force is usually applied perpendicular to the die surface (vertically if the die surface is horizontal).
目前有多种方法与测试环境对金线键合力度进行测试,但运用最多最广泛的方法是双线键合拉线测试。该方法将拉钩置于已经键合在芯片和封装材料两端的金线下方(即,其中一端为金线与芯片之间的键合点,另一端为金线与封装材料之间的键合点)。拉钩通常置于金线弧度的最高点,拉扯力度方向与芯片表面垂直(若芯片表面为一平面)。
The wire pull tester measures the pulling force at which the wire or bond fails. The measured force is then recorded in grams-force. Aside from the bond strength reading, the operator must also record the bond failure mode. Failure mode in this context refers to one of the following: 1) first bond (ball bond) lifting; 2) neck break; 3) midspan wire break; 4) heel break; and 5) second bond (wedge bond) lifting. First or second bond lifting is unacceptable and should prompt the process owner to investigate why such a failure mode occurred.
拉线测试装置用于测试金线被拉扯开时代力度,该力度用gF(克力)单位记录。在记录键合力度读数的同时,亦需记录拉线失效模式。拉线失效模式为以下之一:1)第一键合点(金球键合点)被拉起,2)金线颈部断开,3)金线中部断开(指金线弧度与线脚之间--NovHeaven),4)线脚部分断开,5)第二键合点(楔型线脚)被拉起。其中第一键合点与第二键合点被拉起的模式是不被接受的,需提示流程负责人研究其产生的原因。
拉线测试一般用于半导体封装流程的前段,其为监控生产能力与稳定性的重要标准之一,一般SPC测试中的重要一项。
拉线测试相关国际标准:MIL-STD-883E-2011 (美军标MIL-STD-883E中的方法2011,该标准为非互联网免费共享,需购买)。
冷固结球团法 cold bond pelletizing
词目:水胶联结
英文:hydrogel bond,bound water bond
释文:水胶联结又称结合水联结,是由结合水膜将土粒联结在一起的联结类型。被生在粘性土中的水联结。