选择特殊符号
选择搜索类型
请输入搜索
对样品工件进行相控阵检测,分析样品缺陷。 2100433B
0.25MHZ-20MHZ(-3dB) Φ32~Φ159的小径管。
招标实际上是政府采购,所谓政府采购是指各级国家机关、事业单位和团体组织,使用财政性资金采购依法制定的集中采购目录以内的或者采购限额标准以上的货物、工程和服务的行为。 如果你公司要自行采购的话,应符合下...
成像的不知道,检测的有
按行业分:医学检测设备(B超、心电、X-CT....);化工检测设备机械检测设备(各种探伤设备、疲劳检测...)电子检测设备(示波器...)....按原理分类:热的(温度检测)力的(压力、硬度、扭矩,...
超声相控阵检测教材第四章超声检测设备探头及试块
第四章超声相控阵检测设备、探头及试块 4.1 相控阵检测的设备 4.1.1 相控阵检测设备概述 1、设备的作用 相控阵检测设备时超声波相控阵检测的主体设备, 它的作用是通过改变相控阵探头晶片 的激发接受延迟产生超声波, 同时将探头送回的电信号进行放大, 通过一定图像方式显示出 来,从而得到被检测工件内部有无缺陷及缺陷位置和大小等信息。 2、相控阵检测设备系统结构 超声相控阵检测设备主要包括超声发射部分和接收部分, 目前国内外大型超声检测设备 的系统设设计方案主要有三种: 发射与接收分离系统; 发射与接收集成且发射与接收板集成 和发射与接收集成但是发射与接收板级分离。它们的优缺点如下所示。 数字相控阵超声成像检测系统是一个复杂的系统, 通道数多, 而且通道之间一致性要求 很高,为了较高的综合指标, 采用发射与接收集成但是发射与接收板级分离的方案。 板卡之 间通过总线相连。 优点 缺点 发射
检测设备清单
检测设备、仪器、工具清单 设备名称 设备型号 设备功能 设备精度 设备厂家 报价 线圈圈数测量仪 YG108-10 圈数测量量程: 0-60000圈 内径 Φ>10mm外径 Φ<120mm高度 H<110mm 5位直读式数字显示 0-300圈±0 圈、 500-20000圈±0.2%、 20000-60000圈±0.5% 上海沪光电子控制设备厂 3200 YG110-10 圈数测量量程: 0-60000圈 内径 Φ>10mm外径 Φ<120mm高度 H<110mm LCD 液晶模块显示 自由设置 “圈数超差 ”、“线圈短路 ”等分选功能 0-300圈±0 圈、 500-20000圈±0.2%、 20000-60000圈±0.5% 上海沪光电子控制设备厂 3500 匝间耐压测试仪 TH2882AS-3 可有效判断电机或变压器线圈匝间、层间短路, 绝缘不良,圈数超差。 脉冲峰
不同厂家超声相控阵设备的功能、操作及显示方式等各不相同,但是检测应用基本相同。本文现以以色列Sonotron NDT 公司生产的相控阵设备(即ISONIC-UPA) 应用为例来分析介绍。ISONIC-UPA 设备有其独特的技术特点和优势,不同于其他厂家的相控阵设备,体现了超前的理念。
1 角度补偿
传统工业相控阵定量方法不具有角度、声程、晶片增益修正技术,多晶片探头通过楔块入射到工件内部时存在入射点漂移现象和能量分布变化。采用单一入射点校准方式与常规距离-波幅曲线修正,造成的扇形扫查区域中能量分布不均匀及测量误差等问题未能有效解决,如图7 所示。而ISONIC-UPA 相控阵设备具有角度补偿功能,能有效地解决此类问题。
所谓角度补偿就是针对不同的聚焦法则,输入扇形扫查所需的角度范围及入射角度的增量后,晶片可以分别进行角度增益调整,也就是晶片角度增益修正。
有了角度增益补偿设置功能,可以取代传统的通过设置DAC曲线的方法来补偿增益变化。在ASME Case2557 标准中明确指出进行扇形扫描时要进行角度增益补偿。角度增益补偿曲线如图8所示,经过角度补偿后得到的等量化数据。
2 二次波显示
传统相控阵扇形扫查采用单纯的声程显示,不能显示缺陷的真实位置。这种成像模式将处在二次波位置上的缺陷转换成一次波位置进行成像显示,给分辨缺陷的具体位置增加难度,不能直观给出缺陷真实位置。对于检测角焊缝、T 形焊缝、K形焊缝及Y 形焊缝无法显示真实成像结果,使该成像模式的应用受到限制,仅能用于检测对接接头。
而ISONIC-UPA 采用二次波检测成像显示模式,成像结果与真实几何结构一致。这种成像模式能直观显示缺陷的位置及被检工件焊缝的真实结构,这是声程显示成像模式无法比拟的。
1.1 动作原理
超声相控阵是超声探头晶片的组合,由多个压电晶片按一定的规律分布排列,然后逐次按预先规定的延迟时间激发各个晶片,所有晶片发射的超声波形成一个整体波阵面,能有效地控制发射超声束(波阵面)的形状和方向,能实现超声波的波束扫描、偏转和聚焦。它为确定不连续性的形状、大小和方向提供出比单个或多个探头系统更大的能力。
超声相控阵检测技术使用不同形状的多阵元换能器产生和接收超声波束,通过控制换能器阵列中各阵元发射(或接收)脉冲的不同延迟时间,改变声波到达(或来自)物体内某点时的相位关系,实现焦点和声束方向的变化,从而实现超声波的波束扫描、偏转和聚焦。然后采用机械扫描和电子扫描相结合的方法来实现图像成像。
通常使用的是一维线形阵列探头,压电晶片呈直线状排列,聚焦声场为片状,能够得到缺陷的二维图像,在工业中得到广泛的应用。
超声相控阵检测技术是近年来发展起来和广泛应用的一项新兴无损检测技术,其基本原理是利用指定顺利排列的线阵列或面阵列的阵元按照一定时序来激发超声脉冲信号,使超声波阵面在声场中某一点形成聚焦,增强对声场中微小缺陷检测的灵敏度,同时,可以利用对阵列的不同激励时序在声场中形成不同空间位置的聚焦而实现较大范围的声束扫查。
因此,在超声相控阵换能器不移动的前提下就可以实现大范围内高灵敏度的动态聚焦扫查,这正是超声相控阵检测技术的优越特点,是常规超声检测不具备的,也是该技术广泛发展和应用的重要原因。本书原著作者Lester W. Schmerr Jr教授长期从事超声无损检测和超声相控阵检测原理和技术的研究,著有多本超声无损检测学术专著。本书是作者多年科研和教学的经验积累和研究成果。
本译著是国内第一本详细阐述超声相控阵检测基本原理的专著,全面阐述了其基本工作原理、基本构成和相关数学模型和基础理论,对我国超声相控阵检测技术、检测仪器和相控阵探头的发展具有重要参考价值和借鉴意义。