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X射线荧光衍射光谱仪

X射线荧光衍射光谱仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的分析仪器,于2006年12月1日启用。

X射线荧光衍射光谱仪基本信息

X射线荧光衍射光谱仪主要功能

固体样品,粉末样品中各种成分的快速定性、定量分析。例如,钢铁、有色冶金、矿石、土壤、水泥、陶瓷、玻璃、晶体、化学试剂、化工产品等材质中的各种成分的快速定性和定量分析、元素分布等分析。 2100433B

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X射线荧光衍射光谱仪造价信息

  • 市场价
  • 信息价
  • 询价

原子荧光光谱仪

  • AF-610
  • 13%
  • 柳州市测光科技设备公司
  • 2022-12-08
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直空直读光谱仪

  • 7503B
  • 金恒
  • 13%
  • 济南金恒翔机电有限公司
  • 2022-12-08
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光电直读光谱仪

  • 7502B-1CP
  • 金恒
  • 13%
  • 济南金恒翔机电有限公司
  • 2022-12-08
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SPCTROMAXx落地式直读光谱仪

  • 波长范围:140——670(nm)外形尺寸:740*600*1370(mm)
  • 13%
  • 吉林省永华建筑工程有限公司
  • 2022-12-08
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智能APP双出水光谱仪RO机

  • 说明:智能光谱净水机水流程配置:PP+UDF+RO600G+T331、600加仓RO膜,每天制水量高达2270L,充分满足大量饮水需求:2、
  • 亚摩斯
  • 13%
  • 合肥甘霖商贸有限公司
  • 2022-12-08
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光谱仪

  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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数字快速对线仪

  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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场强

  • RR3A
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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记录

  • 一月-03
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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导通测试

  • TEXE.ALL.IV
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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发射光谱仪

  • 发射光谱仪
  • 1台
  • 3
  • 高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2022-09-15
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直读光谱仪

  • 双光室设计(可见光室和真空紫外光室),保证长短波达到最佳性能、可测不锈钢中最低30ppm的氮元素、智能通用曲线配置,可满足不同种材料的盲测
  • 1台
  • 3
  • 中档
  • 含税费 | 含运费
  • 2020-09-04
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直读光谱仪

  • 详见原档
  • 1台
  • 1
  • 中档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2020-10-28
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直读光谱仪

  • ▲1.双光室设计(可见光室和真空紫外光室),保证长短波达到最佳性能 ▲2.不低于14块高性能CCD探测器 ▲3.可测不锈钢中最低30ppm的氮元素 4.智能通用曲线配置,可满足不同种材料的盲测
  • 1台
  • 2
  • 非进口,2家不同厂家报价
  • 中高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2020-10-22
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落地式x射线衍射

  • 1.X射线光源部分 ▲1.1.最大输出功率:3kw 1.2.最大管电压:60KV 1.3.最大管电流:80mA 1.4.光管类型:Cu靶
  • 1台
  • 2
  • 进口,2家不同厂家报价
  • 中高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2020-10-22
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X射线荧光衍射光谱仪技术指标

上照式、波长色散扫描式荧光光谱仪,靶材及功率:Rh靶 4kW,可以对5B到92U进行快速定性、定量分析,元素的检量范围0.0001%~100%,双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室),位置分辨率可达100um,可以进行0.5mm的微区分析,48位自动进样器,先进的分析软件,NEW SQX软件。

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X射线荧光衍射光谱仪常见问题

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X射线荧光衍射光谱仪文献

X射线荧光光谱仪恒温控制模块设计 X射线荧光光谱仪恒温控制模块设计

X射线荧光光谱仪恒温控制模块设计

格式:pdf

大小:395KB

页数: 未知

研制一种高精度高稳定度的恒温控制系统运用于波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪。采用PT1000铂电阻作为温度传感器,体积小精度高并且反应迅速。执行器采用发热电阻丝,利用PWM波形和双向可控硅控制电阻丝两端电压值,可提高控制精度增大温度控制范围。运用Fuzzy模糊控制和PID控制算法相结合,使系统有很好的鲁棒性和很小的稳态误差。最终使温室恒定在36℃,控制精度0.1℃。

光谱仪论文 光谱仪论文

光谱仪论文

格式:pdf

大小:395KB

页数: 3页

题名:光栅光谱仪测量分析光源的光谱特性 作者:姓名:沈鹏飞 学号: 08281049 单位:北京交通大学计算机与信息技术学院 摘要: 光栅光谱仪是目前比较先进的进行光谱测量和分析的仪器,也是目前光谱测量中最为 常用的仪器,操作简单、方便,结果准确,应用广泛。本文主要讨论利用光栅光谱仪测试 光谱的方法及原理。 Grating spectrometer is the more advanced spectral measurement and analysis instruments, is currently the most commonly used spectral measurement instruments, simple operation, convenient, accurate and widely used. This article focuses on the

X射线衍射原理

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。

X射线衍射布拉格方程

1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布拉格方程:2dsinθ=nλ

式中d为晶面间距;n为反射级数;θ为掠射角;λ为X射线的波长。布拉格方程是X射线衍射分析的根本依据。

X射线衍射运动学衍射理论

Darwin的理论称为X射线衍射运动学理论。该理论把衍射现象作为三维Frannhofer衍射问题来处理,认为晶体的每个体积元的散射与其它体积元的散射无关,而且散射线通过晶体时不会再被散射。虽然这样处理可以得出足够精确的衍射方向,也能得出衍射强度,但运动学理论的根本性假设并不完全合理。因为散射线在晶体内一定会被再次散射,除了与原射线相结合外,散射线之间也能相互结合。Darwin不久以后就认识到这点,并在他的理论中作出了多重散射修正。

X射线衍射动力学衍射理论

Ewald的理论称为动力学理论。该理论考虑到了晶体内所有波的相互作用,认为入射线与衍射线在晶体内相干地结合,而且能来回地交换能量。两种理论对细小的晶体粉末得到的强度公式相同,而对大块完整的晶体,则必须采用动力学理论才能得出正确的结果。

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X射线衍射简介

物质结构的分析尽管可以采用中子衍射、电子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法,但是X射线衍射是最有效的、应用最广泛的手段,而且X射线衍射是人类用来研究物质微观结构的第一种方法。X射线衍射的应用范围非常广泛,现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中,成为一种重要的实验方法和结构分析手段,具有无损试样的优点。

X射线是一种波长很短(约为20~0.06埃)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用高能电子束轰击金属“靶”材产生X射线,它具有与靶中元素相对应的特定波长,称为特征(或标识)X射线。考虑到X射线的波长和晶体内部原子面间的距离相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束 X射线通过晶体时将发生衍射,衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样,便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。

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X射线衍射应用

X 射线衍射技术已经成为最基本、最重要的一种结构测试手段,其主要应用主要有以下几个方面:

X射线衍射物相分析

物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较,确定材料中存在的物相;后者则根据衍射花样的强度,确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。

X射线衍射结晶度的测定

结晶度定义为结晶部分重量与总的试样重量之比的百分数。非晶态合金应用非常广泛,如软磁材料等,而结晶度直接影响材料的性能,因此结晶度的测定就显得尤为重要了。测定结晶度的方法很多,但不论哪种方法都是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积决定。

X射线衍射精密测定点阵参数

精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的测定。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化;当达到溶解限后,溶质的继续增加引起新相的析出,不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数,从而确定固溶体类型;还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。

X射线衍射X射线衍射仪

基本构成

(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。

(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。

(3) 射线检测器 检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。

(4) 衍射图的处理分析系统 现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。

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