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比长仪是以不接触光学定位方法瞄准被测长度，主要用于测量线纹距离的精密长度测量工具。
比长仪一般采用测量显微镜或光电显微镜作为瞄准定位部件，并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，与被测长度比较而确定量值。比长仪主要用于检定线纹尺，测量分划板上的线距和物理、天文类照相底片上的光波谱线距离，也可用于测量孔径。
