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塞贝克系数/电阻测量系统（ZEM-3/ZEM-5）可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估，可同时测量材料的塞贝克系数和电阻。该设备采用温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器，因此能实现实验过程中的无污染精确控温。同时，设备全自动电脑控制，允许自动测量消除背底电动势，拥有欧姆接触自动检测功能。除ZEM标准配置外，还可根据用户不同需求定制高阻型，增加薄膜测量选件、低温选件等。
塞贝克系数/电阻测量系统（ZEM-3/ZEM-5）可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估，可同时测量材料的塞贝克系数和电阻。该设备采用温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器，因此能实现实验过程中的无污染精确控温。同时，设备全自动电脑控制，允许自动测量消除背底电动势，拥有欧姆接触自动检测功能。除ZEM标准配置外，还可根据用户不同需求定制高阻型，增加薄膜测量选件、低温选件等。
