精品文献
小角x射线散射
回火金属玻璃小角X射线散射强度的背底校正
回火金属玻璃小角X射线散射强度的背底校正
提出校正回火金属玻璃（非晶合金）小角ｘ射线散射强度的背底误差的方法：将淬火态非晶合金的小角Ｘ射线散射强度作为在相同的实验条件下得到的回火非晶合金小角Ｘ射线散射强度的背底而予以扣除。并将这样扣除背底和用通常方法扣除背底得到的结果相比较，由前者得到的散射强度遵从Ｐｏｒｏｄ律，并进而得到Ｐｏｒｏｄ常数Ｋ＿ｐ＝４．６０１３３１０￣（－２）（ｎｍ￣（－３）），积分不变量￣０Ω＝１．６３（ｎｍ￣（－２）），比内表面Ｓ＿ｐ＝８４ｍ￣２／ｃｍ￣３，Ｐｏｒｏｄ半径Ｒ＿ｐ＝４．４ｎｍ用通常方法扣除背底后的散射强度不满足Ｐｏｒｏｄ规律。
Cu_(60)Zr_(30)Ti_(10)非晶合金弛豫和晶化过程的小角X射线散射研究
Cu_(60)Zr_(30)Ti_(10)非晶合金弛豫和晶化过程的小角X射线散射研究
应用小角X射线散射技术研究了Cu60Zr30Ti10非晶合金从300到813K之间微结构的演化情况.发现在淬火状态下Cu60Zr30Ti10非晶合金中存在直径30nm左右的富Cu区.非晶的结构弛豫包括573K之前的低温结构弛豫和573K到玻璃转变温度的高温结构弛豫,弛豫的结果是产生含有有序原子团簇的富Cu区,这些有序原子团簇的富Cu区是随后晶化过程中晶核产生的基础.Porod曲线分析表明,晶化生成的纳米体心立方CuZr相和基体之间有明锐的界面.