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HAST加速寿命试验装置是在高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
设计,美观大方,做工精细。
对应IEC60068-2-66条件,具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。
采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口.
采用高效真空泵,使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态。
具有缓降压、排气、排水功能,控制避免试验结束后压力温度的急变,保证试验结果的正确。
多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。
HAST加速寿命试验装置可根据客户产品定制专用产品架.
型号: HAST-250 HAST-350 HAST-250D HAST-350D HAST-250 M HAST-350 M
尺寸(cm) 内箱: Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60 Φ25×D35 Φ30×D45
外箱 : W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135
W86×H135×D145 W56×H65×D105 W66×H105×D125
温度范围 105℃~132℃ 105℃~142.9℃ 105℃~155℃
压力范围 : 表压力+0.2~2.0kg/cm2 表压力+0.2~3.0kg/cm2 表压力+0.2~3.5kg/cm2
湿度范围 : 65%~100%RH(可调);
控制器: HAST-6890 型 专用控制器,中英文表示,具USB接口,R-232C接口.数据曲线下载;
分辨率温度:0.1℃ ,湿度:0.1%RH ,压力: 0.1 kg/cm2;
温湿度波动范围非饱和控制:±0.5℃ / ±2.5%RH 、 湿润饱和控制:±0.5℃ / 100%RH;
温湿度均匀度 ±0.5℃ / ±5%RH;
偏压端子 无 标配8条(8~55条可选),交直流125V 1A;
气源增压 有外接气源 有外接气源 有外接气源;
加压时间 大约45分钟 大约50分钟 大约55分钟;
循环方式 风叶强制对流循环;
内箱材质 SUS316#不锈钢;
外箱材质 冷轧钢板防静电喷涂;
绝缘材料 玻璃棉;
压力容器 加热器、加湿器、温度传感器、试样信号端子、对流风扇、对流风扇电动机、防过热/干烧检测端子
试样架 试样隔板,可定制专用试样架;
控制面板 控制器、电源开关键、工序显示灯、报警灯、机械压力表、手动紧急泄压阀、USB接口、R-485接口;
通信功能 RS-485,供水方式 自动供水;
安全保护 试验时全程检测超温超压保护,第一阶段仪表内部超高温保护,第二阶段仪表内部加湿器缺水保护,高压力保护,水箱缺水报警断电,第二阶段加湿管极限温度保护,第二阶段超高压保护,第三阶段紧急泄压保护,手动泄压保护,自动泄压等。
随着半导体可靠性的提高,前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。
变频串联谐振交流耐压试验装置采用了调节电源的频率的方式使得电抗器与被试电容器实现谐振,在被试品上获得高电压大电流,是当前高电压试验的一种新的方法和潮流,在国内外已经得到广泛的应用。变频串联谐振试验装置...
试验装置就是阀门试压台,有做气压的,有做水压的,一套装置一般都要几万元,就看你们最大的阀是多大口径的,压力范围多大,要是做低压的自己做也行,找便宜的厂家做也行,估计也要万儿八千的。
误操作安全装置:高压加速老化试验箱锅门若未关紧则机器无法启动.
超压安全保护:当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压.
超温保护:当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.
防烫伤保护:特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.
手动安全保护排压伐.
塑料外壳式断路器寿命试验装置
一、概述 塑料外壳式断路器在工业生产中由于使用面广、用量大,国内生产厂家众多,品种及规格也较为繁杂。对于该类产品的寿命检验工作,目前一般由人工操作完成。由于试验次数较多,少则数千次,多则上万次,试验周期也较长,需耗费大量人力。现有的电动机操作机构按寿命试验设备的要求来衡量,其可靠性和耐久性较差,且不能频繁操作使用。考虑到气动机构的寿命较长,若用于寿命试验将是一个很好的方案,但现有的气动操作机构一般均采用简单的限位式直线运动,而塑料外壳式断路器具有一定的分闸角、合闸角,在断路器操作手柄具有一定回转半径的情况下,手柄上的操作点在分
高加速寿命试验不用于确定产品的寿命。因为我们关心的是使产品尽可能提高可靠性,可靠性量值的测定并不重要。然而,对于具有耗损时间的机械产品,尽可能准确地知道其寿命是非常重要的。
高加速寿命试验比起加速寿命试验来,一个重要优势就是在找寻影响外场使用的缺陷方面的速度较快。完成一个典型的高加速寿命试验仅需2-4天,而且我们找寻的最终将变成外场使用问题的缺陷的成功率非常高。
加速寿命试验比起高加速寿命试验的一个优势是,我们不需要任何环境设备。通常,台架上试验就足够了。并且许多情况下,在用户的设施上就能进行该试验。另一个好处就是试验能同时确定产品的寿命,而这一点对高加速寿命试验来说却做不到。2100433B
HAST高度加速老化试验机(又名HAST高压加速老化试验机)试验目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验 。
高加速寿命试验HALT一词是Gregg K. Hobbs 于1988年提出的。是一种利用阶梯应力加诸于试品,并在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。试品通过HALT所暴露的缺陷,涉及线路设计、工艺、元部件和结构等方面。HALT的主要目的是在产品设计和试产阶段,通过试验,快速发现产品的潜在缺陷,并加以改进和验证,从而增加产品的极限值,提高其坚固性及可靠性。施加于试品的应力,包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。
HALT试验是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法,现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周,且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致,故HALT的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。
在产品研制阶段,为得出产品设计裕度和极限承载能力(破坏或损伤极限)而设计的一种试验,它应用步进的方法给产品施加环境应力并检测其性能,直到产品失效为止。为提高试验效率,所施应力并非工作环境的模拟而是加速应力,通常为高变温率(至少应大于25°C/min)的温度循环和多轴随机振动,还包括有通电循环、电压偏低、频率偏差等电应力。高加速寿命试验得到的应力极限值可以作为确定高加速环境应力筛选的应力量值的依据。
目前能进行高加速寿命试验的实验室有环境可靠性与电磁兼容试验服务中心、航天环境可靠性试验与检测中心等。