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HAST加速寿命试验装置产品应用

2018/06/19159 作者:佚名
导读: 随着半导体可靠性的提高,前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。

随着半导体可靠性的提高,前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。

*文章为作者独立观点,不代表造价通立场,除来源是“造价通”外。
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