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边界扫描(Boundary Scan)测试发展于上个世纪90年代,随着大规模集成电路的出现,印制电路板制造工艺向小,微,薄发展,传统的ICT 测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多,元器件体积小,板的密度特别大,根本没有办法进行下探针测试。一种新的测试技术产生了,联合测试行为组织(Joint Test Action Group)简称JTAG 定义这种新的测试方法即边界扫描测试。
基础边界在哪啊,白色虚线框是笩板基础边界还是垫层边界呢?——:白色虚线是筏板基础外边线的吧您看看您的基础大样图
答:路面宽度不包路缘石含路平石,人行道宽度含路缘石和路侧石。
你说的是理正的渗流分析模块吧,我在几个小型水库上用过,据我的经验一般只要“面边界条件”输入正确,那么“点边界条件”可不用输入,结果没有影响。如果要非要输入“点边界条件”,则可以输入下游水位与坡面交点,...
基于边界扫描技术的集成电路可测性设计
随着集成电路规模的不断增大,芯片的可测性设计正变得越来越重要。研究了目前较常用的边界扫描测试技术的原理、结构,并给出了边界扫描技术的应用。重点研究了基于边界扫描的外测试方式,即电路板上芯片间连线的固定故障、开路和短路故障的测试;利用硬件描述语言Verilog设计出TAP控制器,得到TAP状态机的仿真结果。
基于TCL语言和边界扫描技术的存储器测试脚本设计
为了提高存储器的边界扫描测试软件的通用性,提出一种基于TCL语言及边界扫描技术的存储器测试脚本设计方案。结合存储器测试理论及边界扫描逻辑簇测试技术,研究基于TCL脚本语言的存储器测试脚本设计方法,用以在进行存储器簇测试时描述存储器自身的读写特性及与其外部边界扫描测试单元的连接关系等,并给出HY6264SRAM静态存储器功能测试的例子。通过测试验证,使用TCL脚本语言与高级语言联合编程能够提高边界扫描测试软件的工作效率。
数组边界检查可防止缓冲区溢出的产生。为了实现数组边界检查,应当检查所有对数组的读写操作以确保正确的范围内对数组的操作。数组下标检查是指在程序中,所有数组下标的表达式的结果在真正被用来访问某一个特定的元素之前,先把它的值和定义数组时给出的数组上界和下界进行比较。如果一个下标超出了预期的范围时,那么就引发一个错误来阻止进一步的访问。比如在访问一个下标范围是0~9的数组前检查下标是否也在0~9内,而不是如25之类的越过数组结尾的下标。除了软件实现的下标检查之外,VAX架构的计算机拥有一条INDEX汇编指令,可以用来检查数组的下标是否越界,可以至多提供6个任意VAX编址的地址。B6500和一些相似的伯勒斯计算机则以硬件进行边界检查,无论是采用什么语言撰写的程序。
冗余数组边界检查消除是指在程序中删除被证明是合法的数组访问所对应的边界检查。当数组索引能够保证在到一之间,则该数组访问对应的数组边界检查被视为完全冗余,可从程序中删除。如果数组边界检查位在循环体中,循环边界和数组长度都是循环不变量,并且数组索引变量是循环归纳变量,那么可以通过把边界检查移出循环体来减少数组边界检查的执行次数。这种冗余被称为部分冗余。
数组边界检查导致程序运行时性能的减慢主要有两个原因一是执行这些边界检查操作需要时间开销。边界检查需要得到数组的长度信息,这需要一个访存操作,而判断当前的访问索引是否合法,又需要一个比较操作。如果边界检查处在一些频繁访问的循环中,那么这些操作的开销将是非常可观。二是数组边界检查可能会阻止其他的优化机会,比如代码移动。和嵌套循环优化等 。
ZnO压敏电阻的晶粒涂料边界从结晶的Bi-O变化到无定形相,最终变化为ZnO-ZnO晶粒没有任何第二相。这种变化看来决定于晶粒边界的总厚度。
结晶相和无定形相存在于Bi-O相宽度15~50nm处的点所以,采用高分辨率的HREM沿ZnO晶粒边界从三角结点到无第二相的点处追踪观测了Bi—相的形态。Bi偏析区范围还采用具有能量弥散X衍射光谱的场致发射型TEM进行了精确分析。
边界扫描测试BST(Board Scan Test)对符合IEEE1149.1标准的器件,通过BCDL(边界扫描描述语言)文件生成测试向量,测试器开路短路的一种测试方法2100433B