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ZnO压敏电阻的晶粒涂料边界从结晶的Bi-O变化到无定形相,最终变化为ZnO-ZnO晶粒没有任何第二相。这种变化看来决定于晶粒边界的总厚度。
结晶相和无定形相存在于Bi-O相宽度15~50nm处的点所以,采用高分辨率的HREM沿ZnO晶粒边界从三角结点到无第二相的点处追踪观测了Bi—相的形态。Bi偏析区范围还采用具有能量弥散X衍射光谱的场致发射型TEM进行了精确分析。