INNOV-X ALPHA-4000关于矿藏的勘探、发现与开采

XRF是在采矿业进行元素分析的标准技术。过去，矿工们只能收集样品送实验室分析，费用高昂，而且相当耗时。而现在Innov-X携带型XRF分析仪已经成为采矿现场工具箱中不可或缺的设备。Innov-X携带型XRF分析仪不仅缩短了测试耗时，而且削减了分析费用。它可以现场完成从磷到铀的元素分析。大部分采矿企业都实行可持续发展战略，希望最小化采矿带来的环境污染以及对健康的危害。在熔炼过程中，有害的炉渣不仅会被分析，而且分析结果还得按照应急计划和公众知情权法案（EPCRA）进行处理。美国职业安全及健康部门（OSHA）也要求参考过滤物周围空气的元素分析结果来控制有害灰尘对矿工的危害。

关于美国Innov-X Systems(伊诺斯)

美国Innov-X Systems公司(伊诺斯)公司于1993 年7 月成立于美国的波士顿市，是美国纽约证券交易所上市交易，是全球首家通过ISO 9001 质量体系认证的微型X 荧光处理供应商，同时伊诺斯公司还通过了NATO AQAPI 标准，该标准为北大西洋公约组织对精密武器及其零件供应商的最高品质要求。

美国便携式矿石分析仪INNOV-X ALPHA-4000适用领域

Innov-X a-4000可对各种矿石进行多元素分析，广泛应用于各类矿石的检测和分析，还应用于矿渣精炼分析及考古研究。包括金矿、银矿、铜矿、铁矿、锡矿、锌矿、镍矿、钼矿、铱矿、砷矿、铅矿、钛矿、锑矿、钒矿、碘矿、硫矿、钾矿、磷矿、铀矿等从磷到铀的所有自然矿石、矿渣、岩石、泥土、泥浆。被检测的样品可以是固体、液体、粉尘、粉末、实心体、碎片、过滤物质、薄膜层等有形物体。

美国便携式矿石分析仪INNOV-X ALPHA-4000性能介绍

伊诺斯Innov-X ALPHA-4000便携式矿石分析仪是现在最先进的便携式矿石分析系统，由美国Innov-X Systems公司出品。Innov-X Systems是一家专业生产和制造通用型和高性能的便携式X-射线荧光分析仪(XRF)的全球知名公司。Alpha系列分析仪为目前市场上提供体积最小、分析速度最快、功能最多、精度最高的便携式多用途掌上型X射线荧光分析仪，该分析仪可适用于任何场所，从而确保材料质量，确保材料无放射性，辐射比大理石安全。多种可选择的滤波器。可即时传送、读数，其主要部件是一根微小的X射线管和高分辨率探测器。

该分析仪重量轻（1.6 kg），操作简单，一键式按钮、长时间工作无疲劳感，可适用于-10°C至 50°C任何场所。

Innov-X ALPHA-4000分析仪可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。通过现场测试的成熟的X射线管分析系统，无辐射性同位素，现场分析时能做出快速而全面的矿石类型研究，对样品要求低，但是测试结果准确，能准确分析高浓度样品，避免了验证性的实验室测试。

· 进行原地检测：只需将伊诺斯矿石分析仪直接接触待测地面、岩石表面、反循环（RC）样品、循环气流（RAB）样品或钻核，用户即可在短时间内采集大量的数据，从而能够有效地描述矿脉、为矿石分等级以及表征潜在的环境危险。

· 对矿体的评估：无须等待和花费即可现场确定矿石等级。现场元素鉴定。

· 对铣头、精矿和矿渣的分析：对进料、精矿、和矿渣进行快速、精确的分析，以建立高效开采和富集的过程。

· 矿山图的绘制以及矿石等级的控制：Alpha4000伊诺史矿石分析仪可实时通过现场检测多个样品，来引导钻井程序、管理挖掘和爆破。

· 矿物勘探：在野外对土壤、沉积物、钻孔样品等地球化学进行测定，更高。

· 在铬分析方面性能最好的携带型XRF分析仪：矿石中铬的含量仅为25－45ppm也能检测到。

· 可对过滤介质进行检测。

· 可对灰尘抹布进行分析。

· 分析袋装或液体样品时，可方便地使用测试台

便携式矿石品位快速检测仪简介

便携式矿石元素分析仪可以很准确的分析出矿石中的元素的种类以及各种元素的含量，分析的范围以化学元素周期表为参照，从硅（SI）到铀（U）之间的所有元素。便携式矿石元素分析仪操作简单，测试方便，不受地理条件的限制，能够实现现场检测，现场既能得出所需数据。广泛应用于地质勘测，野外探矿，矿石采选等等。

便携式矿石品位快速检测仪原理

矿石元素分析仪是一种x射线荧光光谱仪器，即XRF。在试验中当我们用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源。便携式矿石品位快速检测仪是一种能量色散的光谱仪。

能量色散谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，锂漂移锗探测器，高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电子-空穴对，电子-空穴对在电场作用下形成电脉冲，脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段时间内，来自试样的荧光X射线依次被半导体探测器检测，得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲，经放大器放大后送到多道脉冲分析器（通常要1000道以上）。按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数，脉冲幅度可以用X光子的能量标度，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能谱图。其形状与波谱类似，只是横坐标是光子的能量。

能量色散的最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素。因此，分析速度快。另一方面，由于能谱仪对X射线的总检测效率比波谱高，因此可以使用小功率X光管激发荧光X射线。另外，能谱仪没有光谱仪那么复杂的机械机构，因而工作稳定，仪器体积也小。

便携式矿石品位快速检测仪分析元素范围

Si硅 P磷 S硫 Cl氯 Ar氩 K钾 Ca钙 Sc钪 Ti钛 V钒 Cr铬 Mn锰 Fe铁 Co钴 Ni镍 Cu铜 Zn锌 Ga镓 Ge锗 As砷 Se硒 Br溴 Kr氪 Rb铷 Sr锶 Y钇 Zr锆 Nb铌 Mo钼 Tc锝 Ru钌 Rh铑 Pd钯 Ag银 Cd镉 In铟 Sn锡 Sb锑 Te碲 I碘 Xe氙 Cs铯 Ba钡 57～71 La～Lu镧系 La镧 Ce铈 Pr镨 Nd钕 Sm钐 Eu铕 Gd钆 Tb铽 Dy镝 Ho钬 Er铒 Tm铥 Yb镱 Lu镥 Hf铪 Ta钽 W钨 Re铼 Os锇 Ir铱 Pt铂 Au金 Hg汞 Tl铊 Pb铅 Bi铋 Po钋 At砹 Rn氡 Fr钫 Ra镭 Ac锕 Th钍 Pa镤 U铀

此类仪器属于高科技领域尚未掌握核心技术的仪器，根据商务部《2007鼓励外商投资高新技术产品目录》中提到的，此类仪器是需要国外技术支持的高科技领域仪器范畴。

我国有科研实力的某大学也没有掌握核心技术，有些零部件依然需要进口，但是成本太高一直没有推广，没有形成市场化运作。

国外掌握此项技术的有美国、德国、日本、比利时等国家。在中国市场反应比较好的有美国Innov-X公司生产的矿石分析仪，还有美国热电公司的产品都是比较好的，美国Innov-X公司的产品价格比较合理，热电公司的产品价格太高，两款仪器在性能上没有什么区别，只是走的市场路线不同。

以下是两款仪器由美国官方提供的性能对比：

EPA的SITE项目组组织了对现场的八台便携式X射线荧光（以下简称“XRF”）分光计在分析微量元素方面的性能认证。表1概述了实证中的各仪器的一些关键性的技术规格并列出了创新技术认证报告（以下简称“ITVR”）的参考编号。

利用X荧光光谱特性分析矿石样品中各种金属及非金属元素成分/含量以及品位的仪器称为矿石样品分析仪.每种元素都有自己特点的光谱图,矿石样品分析仪通过X射线管激发X射线发射到矿石样品上激发矿石中元素发生能量跃迁,产生二次射线.并通过与光谱图比较分析出元素的种类.美国伊诺斯矿石样品分析仪ALPHA-4000是目前世界最先进的仪器(美国伊诺斯中国服务中心,王深源,）