术语“负载测试”在测试文献资料中通常都被定义为给被测系统加上它所能操作的最大任务数的过程。负载测试有时也会被称为“容量测试”，或者“耐久性测试/持久性测试”。 容量测试的例子：

通过编辑一个巨大的文件来测试文字处理软件；

通过发送一个巨大的作业来测试打印机；

通过成千上万的用户邮箱来测试邮件服务器；

有一种比较特别的容量测试是叫作“零容量测试”，它是给系统加上空任务来测试的。 耐久性测试/持久性测试的的例子：在一个循环中不停的运行客户端超过一个扩展时间段。

负载测试的目的：

找到一些在测试流程中前面的阶段所进行的粗略测试中没有被找出的bugs，例如，内存管理bugs，内存泄露，缓冲器溢出等等。保证应用程序达到性能测试中确定的性能基线。这个可以在运行回归试验时，通过加载特定的最大限度的负载来实现。尽管性能测试和负载测试似乎很像，但他们的目的还是有差异的。一

方面，性能测试使用负载测试的技术，工具，以及用不同的负载程度来测度和基准化系统。在另一方面来讲，负载测试是在一些已经定义好的负载程度上进行测试的，通常对系统加上最大负载之后，系统应该仍然可以提供全部功能。这里需要明确一点，负载测试并不是要对系统加载上过度的负载而使系统不能工作，而是要使系统像一个上满了油的机器嗡嗡叫。 在负载测试的相关内容中，我想应该非常重要的是要有十分充足的数据来进行测试。从我的经验中得知，假若不用非常大的数据*去测的话，有很多严重的bug是不会的到的。比如说，LDAP/NIS/ActiveDirectory数据库中成千上万的用户，邮件服务器中成千上万的邮箱，数据库中成G成G的表，文件系统中很深的文件或者目录的层次，等等。显然，测试人员就需要使用自动化工具来产生这些庞大的数据集，比较幸运的是任何优秀的脚本语言都可以胜任这些工作。

飞针测试机是一个在制造环境测试PCB的系统。不是使用在传统的在线测试机上所有的传统针床(bed-of-nails)界面，飞针测试使用四到八个独立控制的探针，移动到测试中的元件。在测单元(UUT, unit under test)通过皮带或者其它UUT传送系统输送到测试机内。然后固定，测试机的探针接触测试焊盘(test pad)和通路孔(via)从而测试在测单元(UUT)的单个元件。测试探针通过多路传输(multiplexing)系统连接到驱动器(信号发生器、电源供应等)和传感器(数字万用表、频率计数器等)来测试UUT上的元件。当一个元件正在测试的时候，UUT上的其它元件通过探针器在电气上屏蔽以防止读数干扰(图一)。

飞针测试机可检查短路、开路和元件值。在飞针测试上也使用了一个相机来帮助查找丢失元件。用相机来检查方向明确的元件形状，如极性电容。随着探针定位精度和可重复性达到5-15微米的范围，飞针测试机可精密地探测UUT。

飞针测试解决了在PCB装配中见到的大量现有问题，如在开发时缺少金样板(golden standard board)。问题还包括可能长达4-6周的测试开发周期；大约$10,000-$50,000的夹具开发成本；不能经济地测试少批量生产；以及不能快速地测试原型样机(prototype)装配。这些情况说明，传统的针床测试机缺少测试低产量的低成本系统；缺乏对原型样机装配的快速测试覆盖；以及不能测试到屏蔽了的装配。

因为具有紧密接触屏蔽的UUT的能力和帮助更快到达市场(time-to-market)的能力，飞针测试是一个无价的生产资源。还有，由于不需要有经验的测试开发工程师，该系统可认为是节省人力的具有附加价值和时间节省等好处的设备。