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第4版前言
第3版前言
第2版前言
第1版前言
绪论1
第一篇材料X射线衍射分析3
第一章X射线物理学基础5
第一节X射线的基本性质5
第二节X射线的产生及X射线谱7
第三节X射线与物质的相互作用11
习题17
第二章X射线的衍射基础18
第一节几何晶体学简介18
第二节X射线晶体衍射原理23
第三节布拉格定律的相关讨论25
第四节倒易空间的衍射方程式及
埃瓦尔德图解27
第五节多晶体衍射花样的形成30
第六节原子散射因子和几何结构因子31
第七节洛伦兹因子35
第八节衍射强度的其他影响因素与
积分强度公式37
习题39
第三章多晶物相分析41
第一节照相法41
第二节衍射仪法43
第三节定性物相分析50
第四节定量物相分析54
第五节点阵参数测定60
习题67
第四章应力测量与分析68
第一节测量原理68
第二节测量方法72
第三节数据处理方法76
第四节三维应力及薄膜应力测量80
习题82
第五章多晶体织构测量83
第一节织构分类83
第二节极图及其测量83
第三节反极图及其测量88
第四节三维取向分布函数89
习题90
第六章三维X射线显微镜92
第一节三维X射线显微镜的结构92
第二节X射线计算机断层成像97
第三节X射线衍射衬度断层成像106
第四节三维X射线显微镜在材料学
研究中的应用110
习题116
第二篇材料电子显微分析117
第七章电子光学及电子显微学
基础119
第一节电子波与电磁波119
第二节电磁透镜的像差与分辨率122
第三节电磁透镜的景深和焦长125
第四节电子束与固体样品作用时
产生的信号126
习题128
第八章透射电子显微镜的结构与
工作原理129
第一节透射电子显微镜的结构与
成像原理129
第二节主要部件的结构与工作原理134
第三节透射电子显微镜分辨率和放大
倍数的测定139
习题141
第九章电子衍射和衍衬成像分析142
第一节概述142
第二节电子衍射原理143
第三节电子显微镜中的电子衍射152
第四节单晶体电子衍射花样标定155
第五节复杂电子衍射花样158
第六节薄膜样品的制备方法160
第七节薄晶体衍射衬度成像原理163
第八节衍射运动学理论165
第九节衍衬动力学简介173
第十节晶体缺陷分析176
习题184
第十章高分辨透射电子显微术185
第一节高分辨透射电子显微镜的
结构特征185
第二节高分辨电子显微像的原理186
第三节高分辨透射电子显微术在材料
科学中的应用195
第四节高分辨透射电子显微术应用
实例详解202
习题211
材料分析方法第4版目录第十一章分析透射电子显微术212
第一节电子与物质的相互作用212
第二节扫描透射电子显微术214
第三节原子分辨率EDS218
第四节电子能量损失谱及能量
过滤成像222
习题230
第十二章扫描电子显微镜和电子
探针231
第一节扫描电子显微镜的系统结构与
工作原理231
第二节环境扫描电子显微镜的工作
原理及应用233
第三节扫描电子显微镜的主要性能235
第四节表面形貌衬度原理及其应用237
第五节原子序数衬度原理及其应用242
第六节电子探针仪的结构与工作原理244
第七节电子探针仪的分析方法及应用248
习题250
第十三章电子背散射衍射分析
技术252
第一节概述252
第二节电子背散射衍射技术相关
晶体学取向基础252
第三节电子背散射衍射技术硬件系统262
第四节电子背散射衍射技术原理及
花样标定264
第五节电子背散射衍射技术成像
及分析268
第六节电子背散射衍射技术数据处理272
习题277
第十四章其他显微分析方法278
第一节离子探针显微分析278
第二节低能电子衍射分析280
第三节俄歇电子能谱分析284
第四节场离子显微镜与原子探针289
第五节扫描隧道显微镜与原子力
显微镜295
第六节X射线光电子能谱分析300
第七节红外光谱303
第八节激光拉曼光谱311
第九节紫外可见吸收光谱314
第十节原子发射光谱319
第十一节原子吸收光谱322
第十二节核磁共振326
习题331
实验指导332
实验一用X射线衍射仪进行多晶体
物质的相分析332
实验二宏观残余应力的测定335
实验三金属板织构的测定339
实验四透射电子显微镜结构原理及
明暗场成像342
实验五选区电子衍射与晶体取向分析345
实验六扫描电子显微镜的结构原理及
图像衬度观察350
实验七电子背散射衍射技术的工作原理与
菊池花样观察及标定354
实验八电子背散射衍射技术的数据
处理及其分析应用357
实验九电子探针结构原理及分析方法360
附录363
附录A物理常数363
附录B质量吸收系数μl/ρ363
附录C原子散射因子f364
附录D各种点阵的结构因子F2HKL365
附录E粉末法的多重性因数Phkl365
附录F角因数1 cos22θsin2θcosθ366
附录G德拜函数(x)x 14之值368
附录H某些物质的特征温度Θ368
附录I12cos2θsinθ cos2θθ的数值369
附录J应力测定常数371
附录K立方系晶面间夹角372
附录L常见晶体标准电子衍射花样375
附录M立方与六方晶体可能出现的
反射379
附录N特征X射线的波长和能量表380
参考文献382
该书共共十四章,其内容包括:X射线物理学基础、X射线的衍射基础、多晶物相分析、应力测量与分析、多晶体织构测量、三维X射线显微镜、电子光学及电子显微学基础、透射电子显微镜的结构与工作原理、电子衍射和衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、分析透射电子显微术、扫描电子显微镜和电子探针、电子背散射衍射分析技术和其他显微分析方法以及实验指导。书中的实例分析着重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
2021年9月26日,《材料分析方法(第4版)》被国家教材委员会授予首届全国教材建设奖全国优秀教材(高等教育类)一等奖。
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按照造价清单材料汇总查看下,具体还要看损耗量。只是参考
周玉,先进陶瓷材料学家。黑龙江省五常市人。1982年毕业于哈尔滨工业大学金属材料及工艺系。1989年哈尔滨工业大学和日本东京大学中日联合培养博士,获博士学位。英国利兹大学访问学者。中国工程院院士,世界陶瓷学院院士。主要从事陶瓷相变与韧化、陶瓷复合材料抗热震与耐烧蚀性能及其在航天防热部件上应用等研究。
材料分析报告与表征方法实验报告材料
实用标准文档 文案大全 材料分析与表征方法实验报告 热重分析实验报告 一、实验目的 1.了解热重分析法的基本原理和差热分析仪的基本构造。 2.掌握热重分析仪的使用方法。 二、实验原理 热重分析指温度在程序控制时, 测量物质质量与温度之间的关系的技术。 热 重分析所用的仪器是热天平, 它的基本原理是, 样品重量变化所引起的天平位移 量转化成电磁量, 这个微小的电量经过放大器放大后, 送入记录仪记录; 而电量 的大小正比于样品的重量变化量。 当被测物质在加热过程中有升华、 汽化、分解 出气体或失去结晶水时,被测的物质质量就会发生变化。 三、实验原料 一水草酸钙 CaC2O4·H2O 四、实验仪器 美国 TA公司 TGA55 升温与降温速率( K/min) 0.1-100 ℃/min 天平灵敏度 (μg) 0.1 μg 温度范围(° C) 室温 -1000℃ 五、操作条件 第一组:10
周玉等的《材料分析方法(第3版)》主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。其内容包括:X射线物理学基础、X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法、物相分析及点阵参数精确测定、宏观残余应力的测定、多晶体织构的测定、电子光学基础、透射电子显微镜、电子衍射、晶体薄膜衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、扫描电子显微镜、电子背散射衍射分析技术、电子探针显微分析、其他显微结构分析方法及实验指导。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
《材料分析方法(第3版)》可以作为材料科学与工程学科的本科生和研究生教材或教学参考书,也可供材料成形及控制工程等其他专业师生和从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员学习参考。
第3版前言
第2版前言
第1版前言
绪论
第一篇 材料X射线衍射分析
第一章 X射线物理学基础
第一节 X射线的性质
第二节 X射线的产生及X射线谱
第三节 X射线与物质的相互作用
习题
第二章 X射线衍射方向
第一节 晶体几何学简介
第二节 布拉格方程
第三节 X射线衍射方法
习题
第三章 X射线衍射强度
第一节 多晶体衍射图相的形成
第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
第三节 洛伦兹因数
第四节 影响衍射强度的其他因数
第五节 多晶体衍射的积分强度公式
习题
第四章 多晶体分析方法
第一节 德拜-谢乐法
第二节 其他照相法简介
第三节 X射线衍射仪
习题
第五章 物相分析及点阵参数精确测定
第一节 定性分析
第二节 定量分析
第三节 点阵参数的精确测定
第四节 非晶态物质及其晶化过程的X射线衍射分析
习题
第六章 宏观残余应力的测定
第一节 物体内应力的产生与分类
第二节 X射线宏观应力测定的基本原理
第三节 宏观应力测定方法
第四节 X射线宏观应力测定中的一些问题
习题
第七章 多晶体织构的测定
第一节 极射赤面投影法
第二节 织构的种类和表示方法
第三节 丝织构指数的测定
第四节 极图的测定
第五节 反极图的测定
习题
第二篇 材料电子显微分析
第八章 电子光学基础
第一节 电子波与电磁透镜
第二节 电磁透镜的像差与分辨率
第三节 电磁透镜的景深和焦长
习题
第九章 透射电子显微镜
第一节 透射电子显微镜的结构与成像原理
第二节 主要部件的结构与工作原理
第三节 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定
习题
第十章 电子衍射
第一节 概述
第二节 电子衍射原理
第三节 电子显微镜中的电子衍射
第四节 单晶体电子衍射花样标定
第五节 复杂电子衍射花样
习题
第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析
第一节 概述
第二节 薄膜样品的制备方法
第三节 衍射衬度成像原理
第四节 消光距离
第五节 衍衬运动学
第六节 衍衬动力学简介
第七节 晶体缺陷分析
习题
第十二章 高分辨透射电子显微术
第一节 高分辨透射电子显微镜的结构特征
第二节 高分辨电子显微像的原理
第三节 高分辨透射电子显微镜在材料科学中的应用
习题
第十三章 扫描电子显微镜
第一节 电子束与固体样品作用时产生的信号
第二节 扫描电子显微镜的构造和工作原理
第三节 扫描电子显微镜的主要性能
第四节 表面形貌衬度原理及其应用
第五节 原子序数衬度原理及其应用
习题
第十四章 电子背散射衍射分析技术
第一节 概述
第二节 电子背散射衍射技术相关晶体学取向基础
第三节 电子背散射衍射技术硬件系统
第四节 电子背散射衍射技术原理及花样标定
第五节 电子背散射衍射技术成像及分析
第六节 电子背散射衍射技术数据处理
习题
第十五章 电子探针显微分析
第一节 电子探针仪的结构与工作原理
第二节 电子探针仪的分析方法及应用
习题
第十六章 其他显微结构分析方法
第一节 离子探针显微分析
第二节 低能电子衍射分析
第三节 俄歇电子能谱分析
第四节 场离子显微镜与原子探针
第五节 扫描隧道显微镜与原子力显微镜
第六节 X射线光电子能谱分析
第七节 红外光谱
第八节 激光拉曼光谱
第九节 紫外-可见吸收光谱
第十节 原子发射光谱
第十一节 原子吸收光谱
第十二节 核磁共振
第十三节 电子能量损失谱
第十四节 扫描透射电子显微镜
习题
实验指导
实验一 单相立方系物质X射线粉末相计算
实验二 用X射线衍射仪进行多晶体物质的相分析
实验三 宏观残余应力的测定
实验四 金属板织构的测定
实验五 透射电子显微镜结构原理及明暗场成像
实验六 选区电子衍射与晶体取向分析
实验七 扫描电子显微镜的结构原理及图像衬度观察
实验八 电子背散射衍射技术的工作原理与菊池花样观察及标定
实验九 电子背散射衍射技术的数据处理及其分析应用
实验十 电子探针结构原理及分析方法
附录
附录A 物理常数
附录B 质量吸收系数μl/ρ
附录C 原子散射因数f
附录D 各种点阵的结构因数F2HKL
附录E 粉末法的多重性因数Phkl
附录F 角因数1 cos22θsin2θcosθ
附录G 德拜函数"para" label-module="para">
附录H 某些物质的特征温度Θ
附录I 12cos2θsinθ cos2θθ的数值
附录J 应力测定常数
附录K 立方系晶面间夹角
附录L 常见晶体标准电子衍射花样
附录M 立方与六方晶体可能出现的反射
附录N 特征X射线的波长和能量表2100433B
作 者:周玉 主编 出 版 社:机械工业出版社
出版时间:2011-6-1
版 次:3页 数:344字 数:546000
印刷时间:2011-6-1开 本:16开纸 张:胶版纸
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