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探针测试。
2.1 探针台(针座,探针等),1套 1) 手动探针台,宽大的测试空间,能对晶圆、芯片及单器件进行IV/CV及S参数测试 2) 载片台直径:6英寸,平坦度:±5um 3) 载片台整体采用气浮移动方式,快速移动范围:185×235 mm,可单手控制自由移动,包含锁死装置,千分尺精细调节方式,调节范围:25×25mm 4) 载片台快速旋转角度:360°,精细调节范围:±5° 5) 载片台具备两个独立的附加载台,陶瓷吸波材料制作,可用于吸附射频校准片 6) 载片台采用完全独立的真空孔吸附,真空孔直径0.5um;可分区吸附样品,并具备各分区独立真空控制开关 7) 平台包含三挡抬升方式,包括接触位(0)、分离位(300μm)和装载位(3mm),且有相应阻尼缓冲设计 8) 平台高度可调整范围25mm;平台大小可同时容纳10个直流针座或者4个射频针座。 9) 搭配筒式显微镜,可后仰90度抬头,增大平台可操作空间 10) 显微镜系统的最大放大倍率400倍,可连续变焦 11) 显微镜XY方向移动范围:50 x 50 mm 12) 显示器尺寸:21吋 13) 4套射频针座,精确度±2μm,重复性±2μm。
摄像头芯片大至分为CCD和COMS两种,你说的SONY和SHARP是属于CCD芯片,而CMOS是比较廉价的的,两者成本和成像原理是不一样的,CCD的成像清晰,使用长久,CMOS的时间长了会散焦,变色。...
led芯片就是发光二极管芯片,也就是你说的照明芯片。本质上来说,就是一个pn节,电子和空穴在pn节的耗尽层复合,复合后多出的能量以光子的形式发射出去,也就是发光照明了。这个产业分成三个部分:外延生长,...
你好,希望能帮到你 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor), 互补金属氧化物...
利用CMOS芯片设计的多功能闪光报警器
指出用CMOS芯片设计的闪光报警器特点,简述报警器各部分电路组成及原理,阐述了本报警器在各种不同状态下电路的工作原理和状况
几种常用led芯片的比较3528芯片6530芯片1W大功率
关于几种常用芯片的比较 3528 芯片:单颗 0.06W,单颗流明 7-9LM 3528 技术稳定成熟, 发热量极低, 光衰小, 光色一致性好, 并广泛应用于 LED 电脑显示器, LED 电视机背光照明使用。 3528 芯片因为亮度高,光线柔和,单颗功率低,发热量低等特点,完全符合 LED 吸顶灯全 面板光源需求, 全面板光源的应用完全弥补了环形灯管光线不均匀, 中间以及外围有暗区的 缺陷,真正实现了无暗区。 5630/6040 芯片:单颗功率 0.5-0.6W,单颗流明 30-50W 新近出现的封装模式, 发光强度及发热量介于中功率和大功率之间, 产量低, 光色一致性较 差,主要用于灯泡,射灯,筒灯,天花灯等高密度灯具,光强很强,炫光感强,很刺眼,必 须配独立的全铝散热器,否则在很短时间内会出现严重光衰,严重影响灯具寿命。 大功率 1W 芯片:单颗功率为 1W,单颗流明 80-90
探针台分类
探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动
从功能上来区分有:温控探针台,真空探针台(超低温探针台),RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台
经济手动型
根据客户需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可选)
X-Y移动行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可选)
chuck Z轴方向升降10mm(选项)方便探针与样品快速分离
显微镜:金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜(可选)
显微镜移动方式:立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型(可选)
探针座:有0.7um、2um、10um精度可选,磁性吸附带磁力开关
可搭配Probe card测试
适用领域:晶圆厂、研究所、高校等
半自动型
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y电动移动行程200mm/150mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm
可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6~8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"
可搭配Probe card测试
适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品
电动型
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金)
X,Y电动移动行程300mm x 300mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数8~12颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
材质:花岗岩台面 不锈钢
可搭配Probe card测试
适用领域:12寸Wafer、IC测试之产品
LCD半自动探针台
机械手臂取放片
电动、键入坐标寻位置
量测尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
LCD手动探针台
白炽灯或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量测分析
机台尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
PCB量测探针台(TDR)
高频测试探头GSG / GS / SG
频率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
机台尺寸同LCD 探针台
太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)
量测软体:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太阳光模拟器
探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动
从功能上来区分有:温控探针台,真空探针台(超低温探针台),RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台
根据客户需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可选)
X-Y移动行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可选)
chuck Z轴方向升降10mm(选项)方便探针与样品快速分离
显微镜:金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜(可选)
显微镜移动方式:立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型(可选)
探针座:有0.7um、2um、10um精度可选,磁性吸附带磁力开关
可搭配Probe card测试
适用领域:晶圆厂、研究所、高校等
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y电动移动行程200mm/150mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm
可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6~8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"
可搭配Probe card测试
适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金)
X,Y电动移动行程300mm x 300mm
chuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数8~12颗
显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"
材质:花岗岩台面+不锈钢
可搭配Probe card测试
适用领域:12寸Wafer、IC测试之产品
机械手臂取放片
电动、键入坐标寻位置
量测尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
白炽灯或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量测分析
机台尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
高频测试探头GSG / GS / SG
频率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
机台尺寸同LCD 探针台
量测软体:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太阳光模拟器
主要应用于半导体行业 (IC和MEMS)以及光电行业的测试。主要使用在电子,机电,化工,材料特性研究所,及光电系所,纳米机械,航空电子等,其目的在于保证质量及器件的可造性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
双面探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动
双面探针台 从功能上来区分有:高温探针台,低温探针台,RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台