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彭晓雷、张逊民主编的《光电器件测试技术》以光电器件测试技术为
主要对象,通过各种光电器件测试仪器来讲解测试技术,较全面地介绍了
在光学量和非光学量测试中所涉及的基本理论和概念、主要测试原理和测
试方法、仪器组成及主要技术特点。
《光电器件测试技术》共分8个项目,项目一介绍光电器件测试的概念
;项目二介绍常见光通量的测试原理;项目三介绍常见光谱特性分析原理
及方法、光谱分析系统的组成及使用;项目四介绍节能灯光电参数的测试
;项目五介绍LED光电参数测试的方法;项目六介绍LED空间光色分布的测
量方法;项目七介绍照度计、亮度计和色度计的作用、原理及意义;项目
八介绍老化试验和加速环境模拟试验的原理、目的、意义和操作。上述光
电器件测试技术广泛地应用于工业、农业、文教、卫生、国防、科研和家
庭生活等各个领域。本书还配有DVD教学光盘,详见前言。
本书可作为中等职业学校光电工程、测控技术与仪器、电光源技术、
照明通信工程等专业的教材或参考书,也可供有关工程技术人员参考。
A:华星光电技术有限公司 地址:深圳市宝安区塘明大道9-2号 B:深圳市鑫丰亿源光电技术有限公司 地址:深圳市宝安区民治樟坑向南大厦302 以上是深圳led光电器件比较好的两家,希望对你有所帮助。
该书共分11章,主要描述了光电检测技术的基本概念,基础知识,各种检测器件的结构、原理、特性参数、应用,光电检测电路的设计,光电信号的数据与计算机接口,光电信号的变换和检测技术,光电信号变换形式和检测方...
《光电检测技术》是2009年中国计量出版社出版的一本图书,作者是雷玉堂。该书可作为高等学校光电信息工程、光学工程、光信息科学与技术、测控技术与仪器、计量技术、电子技术、质量工程、通信工程、应用物理、应...
氧化锌基材料、异质结构及光电器件
Ⅱ-Ⅵ族直接带隙化合物半导体氧化锌(ZnO)的禁带宽度为3.37 eV,室温下激子束缚能高达60 meV,远高于室温热离化能(26 meV),是制造高效率短波长探测、发光和激光器件的理想材料。历经10年的发展,ZnO基半导体的研究在薄膜生长、杂质调控和器件应用等方面的研究获得了巨大的进展。本文主要介绍了以国家"973"项目(2011CB302000)研究团队为主体,在上述方面所取得的研究进展,同时概述国际相关研究,主要包括衬底级ZnO单晶的生长,ZnO薄膜的同质、异质外延,表面/界面工程,异质结电子输运性质、合金能带工程,p型掺杂薄膜的杂质调控,以及基于上述结果的探测、发光和激光器件等的研究进展。迄今为止,该团队已经实现了薄膜同质外延的二维生长、硅衬底上高质量异质外延、基于MgZnO合金薄膜的日盲紫外探测器、可重复的p型掺杂、可连续工作数十小时的同质结紫外发光管以及模式可控的异质结微纳紫外激光器件等重大成果。本文针对这些研究内容中存在的问题和困难加以剖析并探索新的研究途径,期望能对ZnO材料在未来的实际应用起到一定的促进作用。
光电器件混合组装工艺中SMT技术贴片工艺研究
1.引言将元器件、芯片等组装到PCB基板上称为二级封装,也可称为板卡级封装,业界也普遍认可\"组装\"这个术语。目前电子组装主要利用表面贴装技术SMT(surface mounted technology)和通孔安装技术THT(through hole technology)。这两种组装技术可以单独使用,也可以混合同时使用,现阶段SMT技术占主导地位。光电器件因其不断提高的光电集成水平,需要满足高速传输速率、优秀性能指标、小型