《固体材料常用表征技术》共十三章，分别介绍X射线光电子能谱分析技术，X射线粉末衍射分析技术，俄歇电子能谱分析技术，X射线吸收精细结构分析技术，固体材料的质谱分析技术，电子显微镜分析技术，电子探针X射线显微分析技术，核磁共振波谱分析技术，电子顺磁共振谱分析技术，衍射散射式激光粒度分析技术，氮气吸附分析技术，正电子湮没分析技术，电化学阻抗谱分析技术。

第1章 X射线光电子能谱分析技术

1.1 引言

1.2 仪器构造与样品制备

1.2.1 X射线源

1.2.2 超高真空系统（IJHV）

1.2.3 分析器与数据系统

1.2.4 其他附件

1.2.5 灵敏度和检测限

1.2.6 清洁表面制备

1.3 基本原理

1.3.1 XPS的物理基础

1.3.2 XPS谱的结合能参照基准

1.3.3 结合能化学位移

1.4 XPS在化学上的应用及实例解析

1.4.1 定性分析

1.4.2 定量分析

1.5 新技术

1.5.1 单色化XPS（Mono XPS）和小面积XPS（SAXPS）

1.5.2 SAXPS深度剖析

1.5.3 成像XPS（iXPS）

1.5.4 XPS线扫描分析

本章小结

参考文献

第2章 X射线粉末衍射分析技术

2.1 引言

2.2 X射线粉末衍射仪

2.2.1 基本构造

2.2.2 工作原理

2.2.3 试样制备

2.2.4 应用及图例解析

本章小结

参考文献

第3章 俄歇电子能谱分析技术

3.1 引言

3.2 俄歇表面分析技术的基本理论

3.2.1 俄歇过程和俄歇电子

3.2.2 俄歇电子能量与特征谱线的关系

3.2.3 俄歇电子的强度

3.2.4 化学效应

3.3 仪器结构

3.3.1 样品室

3.3.2 电子枪

3.3.3 氩离子枪

3.3.4 电子能量分析器

3.3.5 检测器

3.3.6 真空系统

3.3.7 俄歇电子能谱仪的分辨率和灵敏度

3.4 实验技术

3.4.1 样品的制备技术

3.4.2 离子束溅射技术

3.4.3 样品的荷电问题

3.4.4 俄歇电子能谱的采样深度

3.5 俄歇电子能谱图的分析技术

3.5.1 表面元素定性鉴定

3.5.2 表面元素的半定量分析

3.5.3 表面元素的化学价态分析

3.5.4 深度分析

3.5.5 微区分析2100433B

出版时间：2011-01-01

版　次：1

页　数：306

装　帧：平装

开　本：16开

固体酸、碱催化剂在化学工业中具有广阔的应用前景,其催化活性与其表面的酸、碱性质密切相关。现有的酸、碱性表征技术通常在催化剂活化后进行酸碱的单独表征，难以反映催化剂的实际酸碱性质。本项目采用固态魔角旋转核磁共振技术，利用其易定量的优点及酸碱性或氧化还原性与电荷密度/化学位移的联系，探索了酸碱探针分子联合表征和含水气氛下酸碱性测定等方法。初步研究显示，固体核磁共振技术可结合酸碱探针分子同时表征催化剂表面的酸碱性，还可在含水条件下研究催化剂表面的酸性，为探索接近于实际反应体系中催化剂酸、碱性质的研究提供了新的信息。另外，固体核磁共振技术还可较灵敏地研究不同晶面择优氧化物的酸碱性。

固体酸、碱催化剂以其易与产物分离、可再生、工艺过程简单、对设备腐蚀性小及环境友好等优点在化学工业中具有广阔的应用前景。固体酸、碱的催化活性与其表面的酸、碱性质（主要包括酸、碱位的数量、强度和类型等）密切相关，现有的各种固体酸、碱表征技术各有所长亦各有不足，往往需要多种方法联合才有可能对固体酸、碱性质进行完整表征。本项目采用固态魔角旋转核磁共振技术，利用核磁共振技术的优点，通过选择系列探针分子对代表性的固体酸、碱进行酸、碱性表征研究并与已有方法相比较，在此基础上进一步开发酸、碱探针分子的联合表征方法，完善和发展固体酸碱的核磁共振谱表征技术。

材料表征，通过各种物理、化学等测试方法，揭示和确定材料的结构特征。利用光束、电子束或其他粒子与样品的相互作用，产生表征材料结构特征的各种信息，从而给出形貌、成分和结构的丰富资料。是材料表征的主要方法。