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主要起草单位:国家金属制品质量监督检验中心、中冶建筑研究总院有限公司、首钢集团有限公司、冶金工业信息标准研究院。
主要起草人:王军、苏建锋、郭淼、尹亚豪、刘宝石、王文中、龚坚、王玉婕、石建锐、郭继飞。 2100433B
2019年3月25日,《金属材料—电阻率测量方法》发布。
2020年2月1日,《金属材料—电阻率测量方法》实施。
B.1 测量目的测量土壤电阻率ρ的目的是为了进行有效的接地设计。 B.2 一般原则 B.2.1土壤电阻率是土壤的一种基本物理特性,是土壤在单位体积内的正方体相对两面间在一定电场作用下,对电流的导电性能...
电阻测量是电子元件中最基本的,也是相对比较容易的。 可以说绝大部分电阻都有明确的指标标识,尤其是体积比较大的电阻,指标标识更清楚直观,较小的电阻其指标标识可能需要简单换算。电阻指标最主要的有三项...
金属电阻率随温度升高而增大;金属(除汞外)在常温下都是晶体,它在内部结构与性能上有着晶体所共有的特征,但金属晶体还具有它独特的性能,如具有金属光泽以及良好的导电性、导热性和塑性。但金属与非金属的根本区...
混凝土电阻率测量方法与应用
混凝土电阻率测量方法与应用
试论电阻法在金属材料蠕变损伤检测中的运用
在科技发达的二十一世纪,金属材料已成为社会不可缺少的一种重要材料。为减少金属材料在使用过程中损伤的发生,延长金属材料使用寿命,本文立足于电阻法,首先对金属材料发生蠕变损伤过程中电阻率变化情况进行简单分析,然后对电阻法在金属材料蠕变损伤检测中的具体应用进行了深入探究。
摘要:以测量银铜合金的为例,从测量原理、测量技术要求等方面进行了分析,说明了测量铜合金电阻率的方法,解决了一些实际测量问题。
原文链接:
基本信息
标准号 StandardNo:GB/T 351-1995
中文标准名称StandardTitle in Chinese:金属材料电阻系数测量方法
英文标准名称:Metallic materials--Resistivity measurement method
发布日期IssuanceDate :1995-04-11
实施日期ExecuteDate:1995-12-01
首次发布日期FirstIssuance Date :1964-09-05
标准状态StandardState :现行
复审确认日期ReviewAffirmance Date : 2010-07-28
计划编号Plan No:
代替国标号ReplacedStandard :GB 351-1964
被代替国标号ReplacedStandard:
废止时间RevocatoryDate :
采用国际标准号AdoptedInternational Standard No: IEC 60468:1974
采标名称AdoptedInternational Standard Name:
采用程度ApplicationDegree : EQV
采用国际标准AdoptedInternational Standard : IEC
国际标准分类号(ICS) :77.040.77
中国标准分类号(CCS) :H21
标准类别StandardSort:方法
标准页码Number ofPages:
标准价格(元)Price(¥) :
主管部门Governor :中国钢铁工业协会
归口单位TechnicalCommittees :全国钢标准化技术委员会
起草单位DraftingCommittee:冶金工业部金属制品研究院
RMS高温电阻率测量系统系列分为:绝缘材料高温电阻率测量系统、半导体材料高温电阻率测量系统(高温四探针测量系统)、导电材料高温电阻率测量系统。
随着科学技术的飞速发展,电磁测量的方法和手段也越来越丰富,越来越先进。霍尔系数和电阻率的测量已成为研究半导体材料的主要方法之一。通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电阻率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数。
直流四探针法也称为四电极法,主要用于半导体材料或超导体等的电阻率的测量(即半导体材料高温电阻率测量系统又叫高温四探针测量系统)。四探针的排列分为两种,一种是四探针在同一平面的同一直线上,称为直流等间距四探针法;另一种四探针可排列成正方形或矩形,这种方形排列的四探针更适合测量小区域的样品特性,可观察电阻率的不均匀性。
范德堡方法是由Leo J. van der Pauw在1958年提出的,目前它已是一种用来测量半导体的方块电阻和霍尔效应的常用技术。范德堡方法基于方形四探针,主要配置有电流源,电压表和磁体。
块体材料四线电阻法测量的电阻率为体积电阻率;适用于块体样品;
等距四探针法测量的电阻为方块电阻,电阻率为表面电阻率,适用于薄片或薄膜样品;
范德堡法为方形四探针,测量的电阻为方块电阻,电阻率为表面电阻率,适用于薄片或薄膜样品;
等距四探针法和范德堡法都是四探针测量原理,所测量的电阻率都是表面电阻率,
测量导电材料(导体)主要采用“四线电阻法”测量导电材料,适用于块体样品;
测量半导体材料主要采用“等距四探针法或范德堡法”测量半导体材料,适用于薄片或薄膜样品;
等距四探针法:非常薄的样品,例如外延晶圆片和导电涂层上;
范德堡(van der Pauw)法用于扁平、厚度均匀、任意形状,而不含有任何隔离的孔的样品材料。