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《金属粉末粒度分布的测定:光透法(GB 6524-1986)》由中国标准出版社出版,一般来说,非金属粉末粒度分布的测定,亦可参考本标准。
金属粉末涂料一般用于车··等等有用很亮的效果,简单的说就是里面含有金属颜料的粉末涂料。
优点:1、绝大多数难熔金属及其化合物、假合金、多孔材料只能用粉末冶金方法来制造。 2、由于粉末冶金方法能压制成最终尺寸的压坯,而不需要或很少需要随后的机械加工,故能大大节约金属,降低产品成本。用粉末冶...
简介:江苏天元金属粉末有限公司,成立于2003年7月,专业从事铝粉,球形铝粉,雾化铝粉,超细铝粉,高纯球形铝粉,铝银浆用铝粉,太阳能导电浆料用铝粉和耐火材料用铝粉。法定代表人:葛海平成立时间:2003...
金属粉末检测项目
序号 检测项目 标准 检测方法 仪器名称及型号 技术要求 粉体特性 仪器特点 GB 1482-2010 标准漏斗法 FT-102 流动性和松装密度测定仪 漏斗孔径 2.5mm 和 5.0mm 粉体自然流出漏斗 简易人工操作 GB1479-84 FT-102B 自动流动性和松装密度仪 粒度均匀 智能 +打印 FT-102BA 自动松装密度测定仪 智能 +打印 GB/T 1479.2-2011 斯柯特容量计法 FT-101 斯柯特容量计松装密度测试仪 筛网: 1.18mm , IS0 3923 ;GB/T 5060 方形漏斗: 60°方锥体 SJT 10215-1991 振动漏斗法 FT-102A 振动漏斗松装密度测定仪 漏 斗 孔 径为 7.5 mm 电源 220v ISO 3923/3 圆柱量筒容积为 25士0 5cm. 粉体流动性非常差 频率可调节 GB/T5061-1998 漏斗锥度
ASTM新的金属粉末标准涵盖对粉末冶金产品的测量
维普资讯 http://www.cqvip.com
高清成像X光透视技术
BJI-G工业X光透视仪是独创且业界领先的高清晰X光透视设备,它可高清晰的分辨率对众多半导体/元器件等细小工业品制品进行高清晰的X光透视检测。
成像分辨率大幅跨越式提升
BJI-G型工业检测X光透视仪在检测清晰度有了跨越式的提升,可清晰分辨大量常规的X光透视仪无法分辨的检测物,分辨精度高达227线/厘米。
检测工业、IC元件
BJI-G可应用于大量工业品、电子元器件、IC半导体、电路板等制品的封装、焊接、结构等检测,是工厂、制造商、质检部门、科研试验室等场所机构的首选检测设备。
高倍放大,可清晰放大30-120倍
BJI-G工业检测X光透视仪可高倍放大检测图像,这非常适于对精密半导体/元器件结构或焊接点的检测,通过放大,可清晰查看0.04MM(毫米)的线结构影像。
便携式的设计
本机拥有良好的便携性,机身设计有手提凹槽,可供操作人员直接手提设备。恒胜创新工业检测X光机附带专用手提箱,可放置设备主机及设备附件,手提箱可直接携带。
BJI-G工业X光透视仪是独创且业界领先的高清晰X光透视设备,它可高清晰的分辨率对众多半导体/元器件等细小工业品制品进行高清晰的X光透视检测。
BJI-G型工业检测X光透视仪在检测清晰度有了跨越式的提升,可清晰分辨大量常规的X光透视仪无法分辨的检测物,分辨精度高达227线/厘米。
BJI-G可应用于大量工业品、电子元器件、IC半导体、电路板等制品的封装、焊接、结构等检测,是工厂、制造商、质检部门、科研试验室等场所机构的首选检测设备。
BJI-G工业检测X光透视仪可高倍放大检测图像,这非常适于对精密半导体/元器件结构或焊接点的检测,通过放大,可清晰查看0.04MM(毫米)的线结构影像。
本机拥有良好的便携性,机身设计有手提凹槽,可供操作人员直接手提设备。恒胜创新工业检测X光机附带专用手提箱,可放置设备主机及设备附件,手提箱可直接携带。
图为防蓝光母粒(LG-M420)制为1mm板材蓝光透射比。