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用立式光学比较仪测量零件,一般是按比较测量的方法进行的,即先将量块组放在仪器的测头与工作台面之间,以量块尺寸L调整仪器的指示表到达零位,再将工件放在测头与工作台面之间,从指示表上读出指针对零位的偏移量,即工件高度对量块尺寸的差值ΔL,则被测工件的高度为X=L ΔL。
图1 立式光学比较仪
1-底座 2-立柱 3-横臂升降螺母 4、11、12-紧固螺钉 5-横臂 6-直角光管 7-上下偏差调整螺钉 8-目镜
9-反光镜 10-零调螺钉面 13-偏心手轮 14-测头 15-拨叉 16-工作台 17-调整螺钉
你好,这一个是可以重复进行测试的这样可以设置就行了
实际就是透镜成像的原理,只不过光学投影仪和放大镜、望远镜、显微镜使用的场合不同,光学结构不同,因此成像情况也有所差别
利用高频调制的光线在待测距离上往返产生的相位移推算出光束度越时间△t,从而根据D=C△t/2得到距离D。
光学原理测量硬盘振动
1 几何光学测量硬盘振动模型 摘 要 本文通过理论分析和与实验数据的对比 , 研究了通过几何光学测量硬盘振动问题 , 并求出了硬盘盘面的局部表面方程,分析了不同分辨率对局部表面方程的影响,较好的 解释了硬盘振动的规律。 首先研究不考虑盘片中心的上下振动的情形 . 针对问题做出了几何模型 , 利用所给 数据 ,并参照查阅资料, 最终求出考虑盘片中心上下振动情况下的结果, 并对求解结果采 用代数检验符合要求 , 提出模型的改进方向。 对于问题一 , 查阅了硬盘的工作原理和内部结构,从几何上进行理论分析,讨论了 一条和多条光线对模型测量的影响,通过分析光路、成本、技术等因素得出结论采用两 束光线的方案为最优。 对于问题二 , 首先建立了不考虑盘片中心的上下振动的理想模型,通过几何关系和 数学定理 ,顺利求出了盘片局部表面方程的参数 a、b,并得到 c=0;其次在前面计算基础 上建立了考虑盘片
质量比较仪的测量不确定度评定
不确定度对检测工作的质量控制有很大的帮助,尤其是检测值处于标准的临界值时,计算不确定度一方面能检查检测工作是否存在差错,另一方面也能减轻检测人员和检测机构的风险,更利于检测结论的判定。
利用光学测微仪作为放大指示部件。常见的有立式、卧式和影屏式 3种。
①立式光学比较仪:又称立式光学计,图3[光学测微仪的光学系统]为光学测微仪的光学系统。它是按自准直原理(见自准直仪)设计的。分划板位于物镜焦平面上,平面反射镜按杠杆原理设置。当测杆上下移动时,平面反射镜绕支点转动一个很小角度,由平面反射镜反射回去的光线,经直角棱镜后成象在分划板上的刻度尺象发生偏移。偏移量的大小与测杆移动距离成比例。光学测微仪的分度值为 1微米,示值范围为0.1毫米。立式光学计适宜在计量室使用,测量范围为0~180毫米,常用于检定量块和光滑量规以及测量工件的外径、厚度。
②卧式光学比较仪:又称卧式光学计,其工作原理与立式光学计相同,测量范围为0~500毫米,适用于在计量室测量较大的或在立式光学计上不易定位的工件,如圆盘等,也常利用测孔附件测量孔径。
③影屏式光学比较仪:又称投影光学计,其光学系统与立式光学计相似,但刻度尺影像经投影放大透镜放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值为 0.2微米的光学系统采用多次反射以增大光学杠杆的放大比。此外,还有用光波干涉法测量的接触式干涉比较仪,其分度值为0.05微米、0.1微米和0.2微米。
利用光学测微仪作为放大指示部件。常见的有立式、卧式和影屏式 3种。
①立式光学比较仪:又称立式光学计,图3[光学测微仪的光学系统]为光学测微仪的光学系统。它是按自准直原理(见自准直仪)设计的。分划板位于物镜焦平面上,平面反射镜按杠杆原理设置。当测杆上下移动时,平面反射镜绕支点转动一个很小角度,由平面反射镜反射回去的光线,经直角棱镜后成象在分划板上的刻度尺象发生偏移。偏移量的大小与测杆移动距离成比例。光学测微仪的分度值为 1微米,示值范围为0.1毫米。立式光学计适宜在计量室使用,测量范围为0~180毫米,常用于检定量块和光滑量规以及测量工件的外径、厚度。
②卧式光学比较仪:又称卧式光学计,其工作原理与立式光学计相同,测量范围为0~500毫米,适用于在计量室测量较大的或在立式光学计上不易定位的工件,如圆盘等,也常利用测孔附件测量孔径。
③影屏式光学比较仪:又称投影光学计,其光学系统与立式光学计相似,但刻度尺影像经投影放大透镜放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值为 0.2微米的光学系统采用多次反射以增大光学杠杆的放大比。此外,还有用光波干涉法测量的接触式干涉比较仪,其分度值为0.05微米、0.1微米和0.2微米。
常用电感式或电容式测微仪(见长度传感器)作为放大、指示部件。图4 [数字显示电感式比较仪]是数字显示的电感式比较仪,其分辨率有1微米、0.1微米和0.01微米等几好种。2100433B