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BGA封装的其中一个缺点,就是锡球无法像长引脚那样可以伸展,因此他们在物理特性上是不具材料刚度的。所有的表面贴焊装置,因PCB基板和BGA封装在热膨胀系数的差异而弯曲(热应力),或延展并振动(机械应力)下,就可能导致焊点断裂。
热膨胀问题可透过PCB与封装两者相近的热特性配合来解决,通常塑化BGA装置可以比陶瓷BGA装置更接近符合PCB的热特性。
普遍采用的RoHS相容无铅焊料合金产线,更显示出BGA封装所需面临的挑战,例如回焊过程时的“枕头效应”(Head-in-Pillow)、“承垫坑裂”(pad cratering)问题,相较于含铅焊料的BGA封装,由于RoHS相容焊料的低延展性,在高温、高热冲击和高G力等极端环境下,有些BGA封装的可靠度也因此降低。
机械应力问题可透过一种叫做“底部填充”(Underfilling)的手续将装置黏合在板子上,此手续会在装置贴焊到PCB上后,在其下方注射环氧混合物,有效地将BGA装置贴合至PCB上。有数种底部填充材料可供应用,可对应各种不同应用与热传导的需求提供不同的特性。底部填充的另一个好处是,能够限制住锡须的增生。
解决非延展性接点的另一个解决办法,就是将封装内放入一道“延展性涂层”,能允许底部的锡球能按照封装的相对应位置移动实际位置。这个技巧已成了BGA封装DRAM厂的标准之一。
其他在PCB层级上用来增加封装可靠度的技巧,还包括了专为陶瓷BGA(CBGA)使用的低延展性PCB、封装与PCB板之间导入的中介板(interposers),或重新封装装置等。
当封装物贴焊至定位后,要找到焊接时的缺陷就变得困难。为了要检测焊接封装的底部,业界均开发了X光机、工业电脑断层扫描机、特殊显微镜、和内视镜等设备来克服这个问题。若一块BGA封装发现是贴焊失败,可以在“返修台”(通称rework station)上移除它,这是一台装有红外线灯(或热风机)的夹具,以及备有热电偶和真空装置以便吸取封装物。BGA封装可以替换另一颗新的、重工(或称“除锡植球”,英文称reballing)并重新安装在电路板上。
由于视觉化X光的BGA检测方式所费不赀,电路测试法反而也经常被采用。常见的边界扫描测试法可透过IEEE 1149.1JTAG接口连接进行测试。
在开发阶段时,就将BGA装置焊接至定点的话其实不切实际,通常反而是先使用插槽,虽然这样比较不稳定。通常有两种常见的插槽:较可靠的类型具有弹簧针脚,可以贴紧下方的锡球,但不允许使用锡球已被移除的BGA装置,因为这样弹簧针脚可能会不够长。
而不可靠的类型是一种叫做“ZIF插槽”(Zero Insertion Force),具有弹簧钳可以抓住锡球。但这个不容易成功,特别是当锡球太小的话。
要可靠地焊接BGA装置,需要昂贵的设备。人工焊接的BGA装置非常困难且不可靠,通常只用在少量且小型的装置。然而,由于越来越多的IC只提供在无铅(例如,四侧扁平无铅封装(quad-flat no-leads package))或BGA封装使用,已逐渐发展出各种的DIY法(重工)可使用便宜的加热源,例如热风枪、家用烤箱以及平底电热锅等。
CABGA:Chip Array Ball Grid Array,芯片阵列BGA。
CBGA和PBGA代表BGA所附着的基底材料为陶瓷(Ceramic)或塑料(Plastic)。
CTBGA:Thin Chip Array Ball Grid Array,薄芯片阵列BGA。
CVBGA:Very Thin Chip Array Ball Grid Array,特薄芯片阵列BGA。
DSBGA:Die-Size Ball Grid Array,晶粒尺寸型BGA。
FBGA:Fine Ball Grid Array 建构在BGA技术上。其具备更细的接点,且主要用在系统单芯片设计,也就是Altera公司所称的FineLine BGA。与Fortified BGA有所不同。
FCmBGA:Flip Chip Molded Ball Grid Array,覆晶铸模BGA。
LBGA:Low-profile Ball Grid Array,薄型BGA。
LFBGA:Low-profile Fine-pitch Ball Grid Array,薄型细间距BGA。
MBGA:Micro Ball Grid Array,微型BGA。
MCM-PBGA:Multi-Chip Module Plastic Ball Grid Array,多芯片模组塑料BGA。
PBGA:Plastic Ball Grid Array,塑料型BGA。
SuperBGA (SBGA):Super Ball Grid Array,超级BGA。
TABGA:Tape Array BGA,载带阵列BGA。
TBGA:Thin BGA,薄型BGA。
TEPBGA:Thermally Enhanced Plastic Ball Grid Array,热强化塑料型BGA。
TFBGA:Thin and Fine Ball Grid Array,薄型精细BGA。
UFBGA或UBGA:Ultra Fine Ball Grid Array,极精细BGA。
为了容易使用球栅阵列装置,大部分的BGA封装件仅在封装外围有锡球,而内部方形区域均留空。
Intel使用称作BGA1的封装法在他们的Pentium II和早期的Celeron行动型处理器上。BGA2为Intel在其Pentium III的封装法以及一些较晚期的Celeron行动型处理器上。BGA2也就是所称的FCBGA-479,用来取代它上一代的BGA1技术 。
例如,“微型覆晶球栅阵列”(Micro Flip Chip Ball Grid Array,以下称Micro-FCBGA)为Intel的BGA镶嵌方法供采用覆晶接合技术的行动型处理器。此技术被采用在代号Coppermine的行动型Celeron处理器。Micro-FCBGA具有479颗锡球,直径0.78mm。 处理器透过焊接锡球方式,黏着在主板上,比起针栅阵列插槽配置法还要更轻薄,但不可移除。
479颗锡球的Micro-FCBGA封装(几乎与478针脚可插入式Micro-FCPGA封装法相同)配置出六道外围1.27mm间距(每英寸间距内有20颗锡球)构成26x26方栅,其内部有14x14区域是留空的。
BGA封装技术是从插针网格阵列(pin grid array; PGA)改良而来,是一种将某个表面以格状排列的方式覆满(或部分覆满)引脚的封装法,在运作时即可将电子讯号从集成电路上传导至其所在的印刷电路板(printed circuit board,以下简称PCB)。在BGA封装下,在封装底部处引脚是由锡球所取代,每个原本都是一粒小小的锡球固定其上。这些锡球可以手动或透过自动化机器配置,并透过助焊剂将它们定位。装置以表面贴焊技术固定在PCB上时,底部锡球的排列恰好对应到板子上铜箔的位置。产线接着会将其加热,无论是放入回焊炉(reflow oven) 或红外线炉,以将锡球溶解。表面张力会使得融化的锡球撑住封装点并对齐到电路板上,在正确的间隔距离下,当锡球冷却并固定后,形成的焊接接点即可连接装置与PCB。
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是阵列红外摄像机吧,就是采用大功率阵列红外灯的摄像机
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BGA封装技术是在生产具有数百根引脚的集成电路时,针对封装必须缩小的难题所衍生出的解决方案。插针网格阵列(Pinned grid array)和双列直插封装(Dual in-line package)的表面贴焊(小型塑封集成电路; Small-outline integrated circuit; SOIC)封装生产时,由于必须加入越来越多引脚且彼此的间隙必须减少,这样却导致了焊接过程时的困难。当封装引脚彼此越来越近时,焊锡时意外地桥接到相邻的引脚风险就因此增加。BGA封装技术在工厂实作的焊接下,就没有这类的困扰。
BGA封装技术的另一个优势,胜过分离式引脚(如含针脚的封装技术)的其他封装技术,那就是在封装与PCB间能有较低的热阻抗。这可以让封装内的集成电路产生的热能更容易传导至PCB,避免芯片过热。
更短的导体也就意味着不必要的电感度能降低,此特性在高速的电子电路中会导致不必要的信号失真。BGA封装技术,在封装与PCB之间的距离非常短,有了低电感引脚,相较于针脚装置能有更优异的电子特性。
BGA零件主要的目标使用者均为原始设备制造商(OEM, Original Equipment Manufacturer)。在电子产品DIY爱好者中也有一定的市场,例如逐渐盛行的手作加工。一般来说OEM厂会从制造厂或其批发商取得他们的元件来源,而业余爱好者通常透过电子元件的提供者或批发商在改装品市场取得BGA零件。
光纤布喇格光栅封装技术研究
光纤布喇格光栅(FBG)封装技术是光器件集成化中的一项关键技术。提出了一种全部注胶的封装方案,由于胶水固化时所产生的应力使得光纤布喇格光栅的性能出现劣化,反射谱和透射谱出现多峰。在第二套封装方案中,通过减少注胶范围和增加保护结构,实现了性能良好的封装方案,FBG反射谱和透射谱形状均正常。
肖特推出全球首创“玻璃-铝”封装技术
随着当今世界电子设备和系统的不断发展,铝电解电容因其重要的电存储功能越来越受到市场的亲睐。对电容技术及性能提高的要求正不断升高,电动车、大功率系统、可再生能源、国防和航空航天以及重工业等领域都依靠铝电容来满足高电力需求。
FBGA是底部球型引脚封装,也就是塑料封装的 BGA 。
下面介绍下BGA封装:
20世纪90年代随着技术的进步,芯片集成度不断提高,I/O引脚数急剧增加,功耗也随之增大,对集成电路封装的要求也更加严格。为了满足发展的需要,BGA封装开始被应用于生产。BGA是英文Ball Grid Array Package的缩写,即球栅阵列封装。
采用BGA技术封装的内存,可以使内存在体积不变的情况下内存容量提高两到三倍,BGA与TSOP相比,具有更小的体积,更好的散热性能和电性能。BGA封装技术使每平方英寸的存储量有了很大提升,采用BGA封装技术的内存产品在相同容量下,体积只有TSOP封装的三分之一;另外,与传统TSOP封装方式相比,BGA封装方式有更加快速和有效的散热途径。
FBGA(通常称作CSP)是一种在底部有焊球的面阵引脚结构,使封装所需的安装面积接近于芯片尺寸。这种高密度、小巧、扁薄的封装技术非常适宜用于设计小巧的手持式消费类电子装置,如个人信息工具、手机、摄录一体机、以及数码相机。
BGA封装内存
BGA封装的I/O端子以圆形或柱状焊点按阵列形式分布在封装下面,BGA技术的优点是I/O引脚数虽然增加了,但引脚间距并没有减小反而增加了,从而提高了组装成品率;虽然它的功耗增加,但BGA能用可控塌陷芯片法焊接,从而可以改善它的电热性能;厚度和重量都较以前的封装技术有所减少;寄生参数减小,信号传输延迟小,使用频率大大提高;组装可用共面焊接,可靠性高。2100433B
TinyBGA封装内存
说到BGA封装就不能不提Kingmax公司的专利TinyBGA技术,TinyBGA英文全称为Tiny Ball Grid Array(小型球栅阵列封装),属于是BGA封装技术的一个分支。是Kingmax公司于1998年8月开发成功的,其芯片面积与封装面积之比不小于1:1.14,可以使内存在体积不变的情况下内存容量提高2~3倍,与TSOP封装产品相比,其具有更小的体积、更好的散热性能和电性能。采用TinyBGA封装技术的内存产品在相同容量情况下体积只有TSOP封装的1/3。TSOP封装内存的引脚是由芯片四周引出的,而TinyBGA则是由芯片中心方向引出。这种方式有效地缩短了信号的传导距离,信号传输线的长度仅是传统的TSOP技术的1/4,因此信号的衰减也随之减少。这样不仅大幅提升了芯片的抗干扰、抗噪性能,而且提高了电性能。
TinyBGA封装的内存其厚度也更薄(封装高度小于0.8mm),从金属基板到散热体的有效散热路径仅有0.36mm。因此,TinyBGA内存拥有更高的热传导效率,非常适用于长时间运行的系统,稳定性极佳。
BGA(Bdll Grid Array)封装,即球栅阵列封装,它是在封装体基板的底部制作阵列焊球作为电路的I/O端与印刷线路板(PCB)互接。采用该项技术封装的器件是一种表面贴装型器件。与传统的脚形贴装器件(LeadedDe~ce如QFP、PLCC等)相比,BGA封装器件具有如下特点。
1)I/O数较多。BGA封装器件的I/O数主要由封装体的尺寸和焊球节距决定。由于BGA封装的焊料球是以阵列形式排布在封装基片下面,因而可极大地提高器件的I/O数,缩小封装体尺寸,节省组装的占位空间。通常,在引线数相同的情况下,封装体尺寸可减小30%以上。例如:CBGA-49、BGA-320(节距1.27mm)分别与PLCC-44(节距为1.27mm)和MOFP-304(节距为0.8mm)相比,封装体尺寸分别缩小了84%和47%。
2)提高了贴装成品率,潜在地降低了成本。传统的QFP、PLCC器件的引线脚均匀地分布在封装体的四周,其引线脚的节距为1.27mm、1.0mm、0.8mm、0.65mm、0.5mm。当I/O数越来越多时,其节距就必须越来越小。而当节距<0.4mm时,SMT设备的精度就难以满足要求。加之引线脚极易变形,从而导致贴装失效率增加。其BGA器件的焊料球是以阵列形式分布在基板的底部的,可排布较多的I/O数,其标准的焊球节距为1.5mm、1.27mm、1.0mm,细节距BGA(印BGA,也称为CSP-BGA,当焊料球的节距<1.0mm时,可将其归为CSP封装)的节距为0.8mm、0.65mm、0.5mm,与现有的SMT工艺设备兼容,其贴装失效率<10ppm。
3)BGA的阵列焊球与基板的接触面大、短,有利于散热。
4)BGA阵列焊球的引脚很短,缩短了信号的传输路径,减小了引线电感、电阻,因而可改善电路的性能。
5)明显地改善了I/O端的共面性,极大地减小了组装过程中因共面性差而引起的损耗。
6)BGA适用于MCM封装,能够实现MCM的高密度、高性能。
7)BGA和~BGA都比细节距的脚形封装的IC牢固可靠。