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势垒电容​测量

势垒电容​测量

当加在结两端的电压发生变化时,一方面使结势垒度发生变化,引起了势垒区内空间电荷的变化,这相当于对电容的充放电,因为它是势垒度的变化引起电容量的变化的,所以我们用势垒电容CT来表示这种作用;另一方面也使注入到p区的电子和注入到n区空穴数目发生变化,引起p区和n区的载流子浓度梯度的变化。为维持电中性条件,多数载流子也要作相应的变化,相当于载流子在扩散区中的"充"和"放",就如同电容的充放电一样。因为它是在扩散去内载流自变化引起的.故称为扩散电容,用CD表示。P-N结电容包括势垒电容和扩散电容两部分:C=CT+CD

当结两端的外加电时为负(即n区为正,p区接负)时,由于P区、n区的少数载流子很少,负电压的变化并不引起p区、n区中电荷有多大的变化,所以扩散电容很小,相对势垒电容来讲,扩散电容可以忽略。即:

C=CT+CD≈CT

所以,在外加负偏压的条件下测得的P-n结电容认为是P-n结势垒电容。

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势垒电容造价信息

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智能电容

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  • 重庆宇轩机电设备有限公司
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补偿器电容

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  • 2022-12-06
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补偿器电容

  • YC-12,荧光灯用,配套支架及灯盘/12uf
  • 13%
  • 杭州市江干区吉易照明电器经营部
  • 2022-12-06
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自愈式低压并联电容

  • BSMJK0.4-15-3
  • 天正
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  • 广西玉林市易建商贸有限公司(玉林市厂商期刊)
  • 2022-12-06
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4uf补偿器电容

  • YC-4,荧光灯用,配套支架及灯盘
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  • 中山市华艺灯饰照明股份有限公司福建经销商
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荧光灯电容

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荧光灯电容

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荧光灯电容

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荧光灯电容

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荧光灯电容

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电容测量

  • 详见原档
  • 1只
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  • 中高档
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  • 2021-03-31
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电容

  • 电容50uF/440V/105℃
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电容

  • 电容
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电容

  • 电容补偿柜 PO2
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  • 国产一线品牌
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启动电容

  • 30VF启动电容
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  • 欧司朗
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  • 含税费 | 不含运费
  • 2015-05-13
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势垒电容概述

势垒电容(barrier capacitance)

在积累空间电荷的势垒区,当PN结外加电压变化时,引起积累在势垒区的空间电荷的变化,即耗尽层的电荷量随外加电压而增多或减少,这种现象与电容器的充、放电过程相同。耗尽层宽窄变化所等效的电容称为势垒电容。

势垒电容具有非线性,它与结面积、耗尽层宽度、半导体的介电常数及外加电压有关。

势垒电容是二极管的两极间的等效电容组成部分之一,另一部分是扩散电容。

二极管的电容效应在交流信号作用下才会表现出来。

势垒电容在正偏和反偏时均不能忽略。而反向偏置时,由于少数载流子数目很少,可忽略扩散电容。

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补充说明:

势垒电容是p-n结所具有的一种电容,即是p-n结空间电荷区(势垒区)的电容;由于势垒区中存在较强的电场,其中的载流子基本上都被驱赶出去了--耗尽,则势垒区可近似为耗尽层,故势垒电容往往也称为耗尽层电容。

耗尽层电容相当于极板间距为p-n结耗尽层厚度(W)的平板电容,它与外加电压V有关 (正向电压升高时,W减薄,电容增大;反向电压升高时,W增厚,电容减小)。因为dV ≈ W · dE = W·(dQ/ε),所以耗尽层电容为Cj = dQ/dV = ε/W。对于单边突变p+-n结,有Cj = ( qεND / 2Vbi )1/2;对于线性缓变p-n结,有Cj = (q aε2 / 12Vbi)1/3。势垒电容是一种与电压有关的非线性电容,其电容的大小与p-n结面积、半导体介电常数和外加电压有关。当在p-n结正偏时,因有大量的载流子通过势垒区,耗尽层近似不再成立,则通常的计算公式也不再适用;这时一般可近似认为:正偏时的势垒电容等于0偏时的势垒电容的4倍。不过,实际上p-n结在较大正偏时所表现出的电容,主要不是势垒电容,而往往是所谓扩散电容。

值得注意的是,势垒电容是相应于多数载流子电荷变化的一种电容效应,因此势垒电容不管是在低频、还是高频下都将起到很大的作用(与此相反,扩散电容是相应于少数载流子电荷变化的一种电容效应,故在高频下不起作用)。实际上,半导体器件的最高工作频率往往就决定于势垒电容。

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势垒电容应用

在集成电路中,一般利用PN结的势垒电容,即让PN结反偏,只是改变电压的大小,而不改变极性。---变容二级管。

变容二极管的工作原理

根据普通二极管内部PN结结电容能随外加反向电压的变化而变化。

变容二级管用途:用于自动频率控制(AFC)和调谐用的小功率二极管,在无绳电话机中主要用在手机或座机的高频调制电流上,实现低频率信号调制到高频信号上,并发射出去。

变容二级管发生故障,主要表现为漏电或性能变差:

1) 发生漏电现象时,高频调制电路将不工作或调制性能变差。

2) 变容性能变差时,高频调制电路的工作不稳定,使调制后的高频信号发送到对方,被对方接收后产生失真。

3) 出现上述情况之一时,就应该更换同型号的变容二级管。

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势垒电容​测量常见问题

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势垒电容​测量文献

电容传感器新型微弱电容测量电路 电容传感器新型微弱电容测量电路

电容传感器新型微弱电容测量电路

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微弱电容测量电路是一种新型的电路,其是在电荷放大的基础上提出来的,在电容传感器中有着良好的应用,这种新型电路性能比较强,可以抵抗干扰,还可以降低电荷对测量分辨率的影响。这种新型电路不需要应用滤波器,而且采集信号的速度比较快,灵敏度与分辨率比较高,应用新型微弱电容测量电路,可以有效的提高电容传感器的效能。

电容传感器微电容测量电路的分析与研究 电容传感器微电容测量电路的分析与研究

电容传感器微电容测量电路的分析与研究

格式:pdf

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页数: 4页

电容传感器微电容测量电路的分析与研究 祝  敏 (湖南永州职业技术学院 电子系 , 湖南 永州 425100) 摘  要 :电容式传感器微电容检测电路的选用与设计一直是研究的难点问题之一 。文章介绍了基于电荷转移原理 和基于振荡电路的两种测量方法 。分析了两种测量电路的组成及工作原理 。电路消除了寄生电容和电子开关的 电荷注入效应等因素对测量结果的影响 ,系统采用直流恒压源作激励信号 ,不需要滤波 ,可以提高采样速度 ,采用 差动输出 ,进一步提高了电路抗干扰能力 ,这对研究电容式传感器的电容量及其电容的变化量的测量有一定的现 实意义 。 关键词 :电容式传感器 ; 电容测量 ; 电荷转移 ; 电容 - 频率转换 中图分类号 :TP21     文献标识码 :A     文章编号 :1008 - 8725(2010) 03 - 0056 - 04 Analysis and Research

密勒电容性能影响

密勒电容对器件的频率特性有直接的影响。

密勒电容对于BJT的影响

在共射(CE)组态中,集电结电容势垒电容正好是密勒电容,故CE组态的工作频率较低。而在共基极(CB)组态中,集电结和发射结的势垒电容都不是密勒电容,故CB组态的频率特性较好,工作频率高、频带宽。因此,把CE与CB组态结合起来,即可既提高了增益(CE的作用),又改善了频率特性(CB的作用)。对于由CC和CE组态构成的达林顿管,情况与CE组态相同,故频率特性较差。而对于CC-CE复合管,因为去掉了密勒电容,故频率特性较好。

密勒电容对于MOSFET的影响

MOSFET的输出电容是源极与漏极之间的覆盖电容Cds。在共源组态中,Cdg正好跨接在输入端(栅极)与输出端(漏极)之间,故密勒效应使得等效输入电容增大,导致频率特性降低。在共栅极组态中,Cdg不是密勒电容,故频率特性较好。对于MOSFET的共源-共栅组态,则既提高了增益(等于两级增益的乘积,共源组态起主要作用),又改善频率特性(共栅极组态起主要作用),从而可实现高增益、高速度和宽频带。

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密勒电容影响

密勒电容对器件的频率特性有直接的影响:

BJT的影响

在共射(CE)组态中,集电结电容势垒电容正好是密勒电容,故CE组态的工作频率较低。而在共基极(CB)组态中,集电结和发射结的势垒电容都不是密勒电容,故CB组态的频率特性较好,工作频率高、频带宽。因此,把CE与CB组态结合起来,即可既提高了增益(CE的作用),又改善了频率特性(CB的作用)。对于由CC和CE组态构成的达林顿管,情况与CE组态相同,故频率特性较差。而对于CC-CE复合管,因为去掉了密勒电容,故频率特性较好。

MOSFET的影响

MOSFET的输出电容是栅极与漏极之间的覆盖电容Cdg。在共源组态中,Cdg正好跨接在输入端(栅极)与输出端(漏极)之间,故密勒效应使得等效输入电容增大,导致频率特性降低。在共栅极组态中,Cdg不是密勒电容,故频率特性较好。对于MOSFET的共源-共栅组态,则既提高了增益(等于两级增益的乘积,共源组态起主要作用),又改善频率特性(共栅极组态起主要作用),从而可实现高增益、高速度和宽频带。

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半导体电容-电压技术简介

(1)对单边突变的p -n结,其势垒电容C与电压V之间的关系可表示为:1/C2 = 2( Vbi –V)/(qεNdA2 ),则可通过测量1/C2~V关系曲线的斜率和截距来求得n型一边的掺杂浓度Nd和结的内建电势Vbi 。对线性缓变结, 也可以通过测量1/C3~V关系曲线来求得Nd和Vbi 。

对于一般的p-n结或者金属-半导体接触,也可通过C-V曲线的测量来得到轻掺杂一边的杂质浓度的分布N(W) : N(W) = (2/qA2ε) [d(1/C2)/dV] 。

(2)对于MOS系统,通过其高频C-V特性曲线的测量(或者再加热测量)还可以得到其中的界面态和固定的与可动的电荷的数量;在MOS器件及其IC的制造过程中,C-V测量技术已经成为了一种常规的检测手段,用来监控工艺的质量。

此外,通过测量瞬态的C-V关系(例如深能级瞬态谱[DLTS]技术),还可以获得关于系统中界面态的信息。2100433B

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