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水泥用X射线荧光分析仪

《水泥用X射线荧光分析仪》是2008年12月1日实施的一项行业标准。 

水泥用X射线荧光分析仪基本信息

水泥用X射线荧光分析仪起草单位

中国建筑材料科学研究总院、北京邦鑫伟业仪器公司。2100433B

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水泥用X射线荧光分析仪造价信息

  • 市场价
  • 信息价
  • 询价

SS分析仪

  • 型号:TSS10AC+TSS-S0C10
  • 天健创新
  • 13%
  • 天健创新(北京)监测仪表股份有限公司
  • 2022-12-07
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线余氯PH温度分析仪

  • 型号:FCL20AC+FCL-S11C10
  • 天健创新
  • 13%
  • 天健创新(北京)监测仪表股份有限公司
  • 2022-12-07
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线余氯PH温度分析仪

  • XRP-CL8132H2M
  • 南京新锐鹏
  • 13%
  • 株洲中车机电科技有限公司
  • 2022-12-07
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分析仪

  • 品种:分析仪;产品描述:FCA3103;说明:通道数量2-300MHz1-3GHz时间分辨率50ps频率分辨率12位/秒;频率(MHZ):3
  • 泰克
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2022-12-07
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分析仪

  • 品种:分析仪;产品描述:FCA3000;类型:2通道;说明:时间分辨率 100 ps 频率分辨率 12 位/秒;频率(MHZ):300;
  • 泰克
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2022-12-07
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逻辑分析仪

  • K2016通道
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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谐波分析仪

  • F41
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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7号信令分析仪

  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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通信性能分析仪

  • 2Mb/s-2.5Gb/s
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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频谱分析仪

  • HP8563E
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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HQD分析仪

  • HQD分析仪
  • 1台
  • 2
  • 中档
  • 不含税费 | 不含运费
  • 2022-04-24
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定位分析仪

  • 定位分析仪含(老师/学生/板书分析仪)
  • 1台
  • 2
  • 中档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2022-07-14
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激光粒度分析仪

  • WJL-622干湿两激光粒度分析仪
  • 1台
  • 1
  • 普通
  • 含税费 | 含运费
  • 2017-06-21
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线PH分析仪

  • 线PH分析仪
  • 16台
  • 1
  • 广州高山/天健创新/哈希
  • 中档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2021-05-14
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线COD分析仪

  • 线COD分析仪
  • 1套
  • 1
  • 中档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2021-04-21
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水泥用X射线荧光分析仪起草人

刘玉兵、赵鹰立等。

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水泥用X射线荧光分析仪常见问题

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水泥用X射线荧光分析仪文献

X射线荧光分析仪在水泥生产中的应用 X射线荧光分析仪在水泥生产中的应用

X射线荧光分析仪在水泥生产中的应用

格式:pdf

大小:134KB

页数: 4页

X 射线荧光分析仪在水泥生产中的应用 祝建清 ,吴松良 (浙江红火集团 江山虎球水泥有限公司 ,浙江 江山 324109) 中图分类号:TQ172.16 文献标识码:B 文章编号:1002-9877(2009)04-0050-04 我公司 于 2008 年 5 月份 引进一台 Venus200 X 射线荧光 分析仪,经过 5 个多月的使用和维护 ,建立 了生料、熟料、废铝土 、石 煤渣、石灰石和铜矿渣 6 条 工 作曲 线 ,能较 稳 定分析各种物料中的 SiO2、Al 2O3、 Fe2O3、CaO、MgO、K2O 和 Na2O 的含量,为生料配料和 2 样片的制备 在水泥行业的应用中 ,熔片法虽然能消除颗粒效 应及矿物效应 ,准确性较好 ,但因操作费时 、成本较高 而尚未被广泛采用 ;压片法则操作简单 、快速 ,是目前 国内水泥厂主要采用的 XRF 制样方法 。我公司采用 压片法 。 2

X射线荧光分析仪测量室粉尘污染防治 X射线荧光分析仪测量室粉尘污染防治

X射线荧光分析仪测量室粉尘污染防治

格式:pdf

大小:134KB

页数: 未知

我公司使用的帕纳科公司AXIOS 2.4kW扫描型顺序式X射线荧光分析仪,采用硼酸衬底粉末压片法制样。使用不到4个月,因进样位置底部密封圈受污染引起测量室真空报警,只能停机维护。1原因分析1)与先前使用的飞利浦公司的PW1660固定道同时式X射线荧光分析仪相比,两台仪器X光管照射试样的方式不同,前者为上照射式,后者为下照射式,因而样品传送系统不同(见图1),在样片传送过

X射线荧光分析仪器分类

根据分光方式的不同,X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类,也 就是通常所说的能谱仪和波谱仪,缩写为EDXRF和WDXRF。

通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析,相应的仪器称之为能谱仪,通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散X射线荧光分析,相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。

根据激发方式的不同,X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种:用放射性同位素源发出的X射线作为原级X射线的X荧光分析仪称为源激发仪器;用X射线发生器(又称X光管)产生原级X射线的X荧光分析仪称为管激发仪器。

就能量色散型仪器而言,根据选用探测器的不同,X射线荧光分析仪可分为半导体探测器和正比计数管两种主要类型。

根据分析能力的大小还可分为多元素分析仪器和个别元素分析仪器。这种称 呼多用于能量色散型仪器。

在波长色散型仪器中,根据可同时分析元素的多少可分为,单道扫描X荧光光谱仪、小型多道X荧光光谱仪和大型X荧光光谱仪。

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X射线荧光分析仪产品特点

1、在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出最具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,

从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。

3、当某些元素的电子由高等级向低等级跃迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由

此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。

4、逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素

的含量较高或者能量较高,其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。

5、在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

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X射线荧光分析仪技术参数

分析原理

能量色散X射线荧光分析法

分析元素

Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)

Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)

样品室气氛

大气

X射线管

靶材

Rh

管电压

最大50KV

管电流

最大1mA

X射线照射径

1/3/5mm

防护

检测器

硅SIPIN探测器

光学图像观察

倍率15倍

软件

定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移)

照射径:1/3/5mm

定量分析:基础参数法/标准法/1点校正

计算机

CPU

PentiumIV1.8GHz以上

内存

256MB以上

硬盘

20GB以上

OS

WindowXP

监视器

17寸LCD

周围温度

10~35C(性能温度)/5~40C(动作温度)

周围湿度

5~31C时温度范围:最大相对湿度80%以下 /31~40C时温度范围:相对湿度50%以下

电源

AC110V/220V±10%、50/60HZ

消耗电力

1.3KVA以下(含计算机、LCD、打印机)

设备重量

约65kg(不含桌子、计算机)

外形寸法

600(W)×545(D)×435(H)mm

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