| 分析原理 |
能量色散X射线荧光分析法 |
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| 分析元素 |
Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型） |
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| Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型） |
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| 样品室气氛 |
大气 |
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| X射线管 |
靶材 |
Rh |
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| 管电压 |
最大50KV |
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| 管电流 |
最大1mA |
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| X射线照射径 |
1/3/5mm |
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| 防护 |
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| 检测器 |
硅SIPIN探测器 |
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| 光学图像观察 |
倍率15倍 |
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| 软件 |
定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移） |
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| 照射径：1/3/5mm |
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| 定量分析：基础参数法/标准法/1点校正 |
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| 计算机 |
CPU |
PentiumIV1.8GHz以上 |
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| 内存 |
256MB以上 |
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| 硬盘 |
20GB以上 |
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| OS |
WindowXP |
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| 监视器 |
17寸LCD |
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| 周围温度 |
10～35C（性能温度）/5～40C（动作温度） |
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| 周围湿度 |
5～31C时温度范围：最大相对湿度80%以下 /31～40C时温度范围：相对湿度50%以下 |
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| 电源 |
AC110V/220V±10%、50/60HZ |
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| 消耗电力 |
1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机） |
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| 设备重量 |
约65kg(不含桌子、计算机） |
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| 外形寸法 |
600（W）×545（D）×435（H）mm |
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