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XRD 即X-ray diffraction 的缩写，是X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
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XRD 即X-ray diffraction 的缩写，是X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
通常定量分析的样品细度应在45微米左右，即应过325目筛。
X射线衍射现象发现后，很快被用于研究金属和合金的晶体结构，出现了许多具有重大意义的结果。如韦斯特格伦(A.Westgren)(1922年)证明α、γ和δ铁都是体心立方结构，γ-Fe并不是一种新相;而铁中的α─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体，从而最终否定了γ-Fe硬化理论。随后,在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。如对超点阵结构的发现，推动了对合金中有序无序转变的研究，对马氏体相变晶体学的测定，确定了马氏体和奥氏体的取向关系;对铝铜合金脱溶的研究等等。
目前 X射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。在金属中的主要应用有以下方面:
物相分析 是 X射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相;后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。
精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的测定。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化;当达到溶解限后，溶质的继续增加引起新相的析出，不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数，从而确定固溶体类型;还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。
取向分析 包括测定单晶取向和多晶的结构(见择优取向)。测定硅钢片的取向就是一例。另外，为研究金属的范性形变过程，如孪生、滑移、滑移面的转动等，也与取向的测定有关。
晶粒(嵌镶块)大小和微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。在形变和热处理过程中这两者有明显变化，它直接影响材料的性能。
宏观应力的测定 宏观残留应力的方向和大小，直接影响机器零件的使用寿命。利用测量点阵平面在不同方向上的间距的变化，可计算出残留应力的大小和方向。
对晶体结构不完整性的研究 包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究(见晶体缺陷)。
合金相变 包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学关系，等等。
结构分析 对新发现的合金相进行测定，确定点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。
液态金属和非晶态金属 研究非晶态金属和液态金属结构，如测定近程序参量、配位数等。
特殊状态下的分析 在高温、低温和瞬时的动态分析。
此外，小角度散射用于研究电子浓度不均匀区的形状和大小,X射线形貌术用于研究近完整晶体中的缺陷如位错线等，也得到了重视。
对于组成元素未知的单组份化合物或者多组分混合物，直接用XRD进行物相分析是存在一定问题的，由于同族的元素具有相似的性质和晶体结构。造成在同位置出现衍射峰，从而不能确定物相。所以对于未知组成的晶态化合物首先要进行元素的定性分析。
X射线是一种波长很短(约为20~0.06埃)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属"靶"产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征(或标识)X射线。
很好撒，峰很强，很清楚的阿尔法氧化铝图谱。你要分析什么东西？如果你要看是不是阿尔法氧化铝，那么它是。你可以比照标准图谱，就清楚了。最多再看看有没有其他晶型的氧化铝杂质峰。其他的估计看不出来。特别是纳米...
应该是有晶格的就行。
纳米二氧化钛的XRD图谱分析 确定是锐钛型想知道各个峰代表什么
你这个不是纯的锐钛型二氧化钛，是否纳米级这个没法看出来，但是我可以肯定你的不是纯的锐钛型二氧化钛，里头掺杂了金红石型二氧化钛。比如锐钛型二氧化钛一般在25度左右有一个明显的特征峰，在37-40度之间有...
X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的粒子(原子、离子或分子)所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而使得散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量粒子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。
满足衍射条件，可应用布拉格公式:2dsinθ=nλ
应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析;另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。
金属X射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成金属研究和材料测试的常规方法。早期多用照相法，这种方法费时较长，强度测量的精确度低。50年代初问世的计数器衍射仪法具有快速、强度测量准确，并可配备计算机控制等优点，已经得到广泛的应用。但使用单色器的照相法在微量样品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。从70年代以来，随着高强度X射线源(包括超高强度的旋转阳极X射线发生器、电子同步加速辐射,高压脉冲X射线源)和高灵敏度探测器的出现以及电子计算机分析的应用，使金属 X射线学获得新的推动力。这些新技术的结合，不仅大大加快分析速度，提高精度，而且可以进行瞬时的动态观察以及对更为微弱或精细效应的研究。
X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域.
X射线是波长介于紫外线和γ射线间的电磁辐射。X射线管是具有阴极和阳极的真空管，阴极用钨丝制成，通电后可发射热电子，阳极(就称靶极)用高熔点金属制成(一般用钨，用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料)。用几万伏至几十万伏的高压加速电子，电子束轰击靶极，X射线从靶极发出。电子轰击靶极时会产生高温，故靶极必须用水冷却。
XRDX-射线衍射(Wide Angle X-ray Diffraction)主要是对照标准谱图分析纳米粒子的组成，分析粒径，结晶度等。
应用时应先对所制样品的成分进行确认。在确定后，查阅相关手册标准图谱，以确定所制样品是否为所得。
劳埃利用连续X射线照射硫酸铜单晶体获得衍射斑点图就是第一个用于晶体研究的例子，劳埃同时推导劳埃的衍射方程研究晶体结构。从那以后布拉格父子等一批物理学家和化学家利用X射线衍射研究了许多无机物晶体结构;上世纪20年代开展了有机物晶体结构的测定工作，30年代开始利用X射线对胃蛋白酶、胰岛素等蛋白质和生物物质晶体结构进行研究。至今经过许多科学工作者的努力，积累了大量的晶体结构数据，现在已经有20多万种，并在国际上建立了五种主要的晶体学数据库。
(1)剑桥结构数据库(The Cambridge Structural Database,CSD)。它有近16万种X射线或中子衍射测定的三维晶体结构数据(统计到1997年)。该数据库收集含碳化合物(包括有机物、有机金属化合物及无机含碳化合物，如碳酸盐等)的结构数据。有多种检索方法如:化合物名称、作者姓名、某些原子基团、整个分子或部分化学结构等。
(2)蛋白质数据库(The Protein Data Bank,PDB)。该库开始建立于1971年，建立在美国Brookhaven国家实验室。现已有127020多个生物大分子的三维结构数据(统计到2017年初)。数据库中对每个蛋白质晶体列出下列内容:收集的衍射数目、修正方法、偏差数值、已测定水分子位置的数目、蛋白质分子中氨基酸连接次序、螺旋、折叠层及转弯的分析、原子坐标参数，以及和蛋白质结合的金属原子、底物及抑制剂等的坐标参数等。
(3)无机晶体结构数据库(The Inorganic Crystal Structural Database)，建立在德国，约3万多个无机化合物的结构(不含C-C和C-H键的化合物)。
(4)NRCC金属晶体学数据文件(The National Research Council of Canada Crystallographic Data File,NRCC)。该建立在加拿大，约为1.1万个金属合金、金属间物相及部分金属氢化物和氧化物。
(5)粉末衍射数据文件(The Powder Diffraction File)。该库建立在美国，汇集有6.7万种单相物质的粉晶衍射资料(统计到1997年) ，称为国际衍射数据中心的粉晶数据库(JCPDS-ICDD)。储存各化合物的晶面间距dhkl和相对强度、晶胞、空间群和密度等数据，主要用于物质的鉴定。
XRD类型及特点
XRD类型及特点
常用的 XRD 分析软件有 4种： 1.pcpdgwin 我认为是最原始的了。它是在衍射图谱标定以后，按照 d 值检索。一般可以有 限定元素、 按照三强线、 结合法等方法。 所检索出的卡片多时候不对。 一张复杂的衍射谱有 时候一天也搞不定。 2.search match 可以实现和原始实验数据的直接对接，可以自动或手动标定衍射峰的位置， 对于一般的图都能很好的应付。而且有几个小工具使用很方便。如放大功能、十字定位线、 坐标指示按钮、 网格线条等。 最重要的是它有自动检索功能。 可以帮你很方便的检索出你要 找的物相。 也可以进行各种限定以缩小检索范围。 如果你对于你的材料较为熟悉的话， 对于 一张含有 4、5 相的图谱，检索也就 3分钟。效率很高。而且它还有自动生成实验报告的功 能！ 3.high score 几乎 search match中所有的功能， highscore 都具备， 而且它
MDIJade最完整教程(XRD分析)
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简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。
俗话说：“磨刀不误砍柴工”了解XRD样本的要求、制备过程并细心的制作XRD样品，可以起到事半功倍的效果，而不是本末倒置，急于得到衍射图谱而粗心准备样品，这样往往引起实验数据误差，从而给结果分析带来困难，浪费大量的分析时间。
1. XRD运用对象
X射线衍射仪技术可以获得材料的晶体结构、结晶状态等参数，这些材料包括金属材料和非金属材料，大致如下：
X射线衍射技术可以分析研究金属固溶体、合金相结构、氧化物相合成、材料结晶状态、金属合金化、金属合金薄膜与取向焊接金属相、各种纤维结构与取相、结晶度、原料的晶型结构检验、金属的氧化、各种陶瓷与合金的相变、晶格参数测定、非晶态结构、纳米材料粒度、矿物原料结构、建筑材料相分析、水泥的物相分析等。
非金属材料的X射线衍射技术可以分析材料合成结构、氧化物固相相转变、电化学材料结构变化、纳米材料掺杂、催化剂材料掺杂、晶体材料结构、金属非金属氧化膜、高分子材料结晶度、各种沉积物、挥发物、化学产物、氧化膜相分析、化学镀电镀层相分析等。
2. XRD样品制样要求
XRD可以测量块状和粉末状的样品，对于不同的样品尺寸和样品性质有不同的要求，下面对分别对其作简要的介绍：
图1 XRD样品制备
（1）块状样品的要求及制备
对于非断口的金属块状试样，需要了解金属自身的相组成、结构参数时，应该尽可能的磨成平面，并进行简单的抛光，这样不但可以去除金属表面的氧化膜，也可以消除表面应变层。然后再用超声波清洗去除表面的杂质，但要保证试样的面积应大于10 × 10 mm，因为XRD是扫过一个区域得到衍射峰，对试样需要一定的尺寸要求。
对于薄膜试样，其厚度应大于20 nm，并在做测试前检验确定基片的取向，如果表面十分不平整，根据实际情况可以用导电胶或者橡皮泥对样本进行固定，并使样品表面尽可能的平整。
对于片状、圆柱状的试样会存在严重的择优取向，造成衍射强度异常，此时在测试时应合理的选择响应方向平面。
对于断口、裂纹的表面衍射分子，要求端口尽可能的平整并提供断口所含元素。
（2） 粉末样品的要求及制备
颗粒度的要求：
对粉末样品进行X射线粉末衍射仪分析时，适宜的晶粒大小应在320目粒度（约40 um）的数量级内，这样可以避免衍射线的宽化，得到良好的衍射线。
原因：任何一种粉末衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒，使试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒。因为只有这样，才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件：即试样受光照体积中晶粒的取向是完全随机的。这样才能保证用照相法获得相片上的衍射环是连续的线条；或者，才能保证用衍射仪法获得的衍射强度值有很好的重现性。
样品试片平面的准备：
在X射线衍射时，虽然样品平面不与衍射仪轴重合、聚焦圆相切会引起衍射线的宽化、位移及强度发生复杂的变化，但在实际试验中，如要求准确测量强度时，一般首先考虑如何避免择优取向的产生而不是平整度。
图2 （来源：education.mrsec.wisc.edu）
避免择优取向的措施：
使样品粉末尽可能的细，装样时用筛子筛入，先用小抹刀刀口剁实并尽可能轻压等等。
把样品粉末筛落在倾斜放置的粘有胶的平面上通常也能减少择优取向，但是得到的样品表面较粗糙。
通过加入各向同性物质（如 MgO，CaF2等）与样品混合均匀，混入物还能起到内标的作用。
对于具有十分细小晶粒的金属样品，采用形变的方法（碾、压等）把样品制成平板使用时也常常会导致择优取向的织构，需要考虑适当的退火处理。
图3 各种样品试片
粉末样品的制备
研磨（球墨）和过筛：对固体颗粒采用研钵（球磨机）进行研磨，一般对粉末进行持续的研磨至低于360目的粉末，手摸无颗粒感，认为晶粒大小已经符合要求。
注意：
（1）在研磨过程中，需要不断过筛，分出已经细化的颗粒。
（2）对于软而不便于研磨的物质，可采用液氮或干冰使其变脆，在进行研磨。
（3）有些样品需要用整形锉刀制得金属细屑，此时需要对制得的挫屑进行退火处理消除锉刀带来的点阵应力。
图4 制粉流程操作流程
涂片法：把粉末撒在一片大小约 25 × 35 × 1 mm3的显微镜载片上（撒粉的位置要相当于制样框窗孔位置），然后加上足够量的丙酮或酒精（假如样品在其中不溶解），使粉末成为薄层浆液状，均匀地涂布开来，粉末的量只需能够形成一个单颗粒层的厚度就可以，待丙酮蒸发后，粉末粘附在玻璃片上，可供衍射仪使用，若样品试片需要永久保存，可滴上一滴稀的胶粘剂。
压片法：如图4把样品粉末尽可能均匀地洒入（最好是用细筛子--360目筛入）制样框的窗口中，再用小抹刀的刀口轻轻剁紧，使粉末在窗孔内摊匀堆好，然后用小抹刀把粉末轻轻压紧，最后用保险刀片（或载玻片的断口）把多余凸出的粉末削去，然后，小心地把制样框从玻璃平面上拿起，便能得到一个很平的样品粉末的平面。
注意：涂片法采用样品粉末量最少，根据实际粉末量多少选择不同的方法。
图5 压片法操作流程
3. X射线衍射仪的使用方法
接下来以某品牌XRD进行使用说明
（1）装填样品
按下衍射仪面板上的Door按钮，指示灯闪烁、蜂鸣器发出报警声，缓慢的向右拉开衍射仪保护门。
将样品表面朝上安装到样品台上，此时注意尽可能的将样品置于载物台的中心位置。
向左轻拉右侧门，两门自动吸住后报警声停止。
图6 XRD衍射示意图
（2）设置仪器参数
点击桌面Right Measurement System图标，进入到软件控制界面。
双击Condition下面的1，进入到测量条件的设置界面，根据所测试样品要求，设置Start Angle（起始角）、Stop Angle（终止角）、Scan speed（扫描速度）等参数（注意：一般扫描电压和扫描电流这些参数不要更改）
条件设置好以后，关闭条件设置界面，返回主界面（注意：在设置参数的时候，XRD的起始角一般是大于3°，终止角小于140°，否则会使测角仪的旋转臂撞到其他部件，使测角仪受到损坏）。
点击Browse按钮，进入到保存文件对话框，设置文件保存位置和样品名称后，返回主界面。
（3）开始测试
在主界面上点击Executement，系统开始调整KV、MA值，此时弹出新的测量窗口，直到测量完成，测量数据自动保存在所设置为保存位置。
（4）数据存盘
一般为了防止U盘存在病毒，拷取实验数据需要光盘。
（5）关闭系统
在测试的时候根据实际情况，如果后面仍有学需要测试，在完成自己样品测试后，将自己的样品取出即可。如果没有人测试，则关闭X射线衍射仪。
(来源:测了么)
腾龙SPAF17-50mmF2.8XRDillVC
数码单反相机变焦镜头
膜厚测试仪XRD