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X射线光电子能谱分析定义及原理

X射线光电子能谱分析定义及原理

X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析，包括价态。 X射线光电子能谱因对化学分析最有用，因此被称为化学分析用电子能谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, ESCA) 。1887年，Heinrich Rudolf Hertz发现了光电效应。二十年后的1907年，P.D. Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球 (电子能量分析仪)和照相平版做实验来记录宽带发射电子和速度的函数关系。

X射线光电子能谱分析造价信息

市场价
信息价
询价

频谱分析仪

规格型号：
品种:频谱分析仪;规格型号:HM-5014;产品说明:频谱分析仪,0.5MHz-1GHz,数显,分辨率10k,有跟踪源,RS232.;
价格行情：
材料单位：
台
材料品牌：
HM
材料税率：
13%
供应商：
重庆德源胜仪器有限公司
报价时间：
2022-12-08

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频谱分析仪

规格型号：
品种:频谱分析仪;说明:频谱分析仪,100Hz-26.5GHz.;产品描述:E4407B;
价格行情：
材料单位：
套
材料品牌：
是德
材料税率：
13%
供应商：
重庆德源胜仪器有限公司
报价时间：
2022-12-08

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频谱分析仪

规格型号：
品种:频谱分析仪;规格型号:NS132;产品说明:频谱分析仪,9KHz-13.2GHz,-110-30dBm.;
价格行情：
材料单位：
台
材料品牌：
NEX1
材料税率：
13%
供应商：
重庆德源胜仪器有限公司
报价时间：
2022-12-08

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频谱分析仪

规格型号：
品种:频谱分析仪;说明:频率范围:100KHz至6GHz;产品描述:N1996A-506;
价格行情：
材料单位：
套
材料品牌：
是德
材料税率：
13%
供应商：
重庆德源胜仪器有限公司
报价时间：
2022-12-08

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频谱分析仪

规格型号：
品种:频谱分析仪;说明:手持式,电缆和天馈线测试仪,频率范围:25MHz至4GHz;产品描述:N9330B;
价格行情：
材料单位：
套
材料品牌：
是德
材料税率：
13%
供应商：
重庆德源胜仪器有限公司
报价时间：
2022-12-08

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γ射线探伤机

规格型号：
192/IY
价格行情：
材料单位：
台班
材料税率：
地区时间：
汕头市2011年3季度信息价
所属行业：
建筑工程
备注说明：

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γ射线探伤机

规格型号：
192/IY
价格行情：
材料单位：
台班
材料税率：
地区时间：
汕头市2010年4季度信息价
所属行业：
建筑工程
备注说明：

查看价格

γ射线探伤机

规格型号：
192/IY
价格行情：
材料单位：
台班
材料税率：
地区时间：
汕头市2010年3季度信息价
所属行业：
建筑工程
备注说明：

查看价格

γ射线探伤机

规格型号：
192/IY
价格行情：
材料单位：
台班
材料税率：
地区时间：
广州市2009年4季度信息价
所属行业：
建筑工程
备注说明：

查看价格

γ射线探伤机

规格型号：
192/IY
价格行情：
材料单位：
台班
材料税率：
地区时间：
汕头市2009年2季度信息价
所属行业：
建筑工程
备注说明：

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调光电子整流器

规格型号：
PLC插拨管 1×13W
需求量：
400套
报价数：
1
材料品牌：
材料档次：
费用说明：
不含税费 | 不含运费
询价时间：
2009-12-30

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反光电子支架

规格型号：
YZBK-E20A 20W单支
需求量：
7512根
报价数：
1
材料品牌：
创兴
材料档次：
中档
费用说明：
含税费 | 含运费
询价时间：
2015-11-21

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调光电子整流器

规格型号：
T5 1×21W
需求量：
450套
报价数：
1
材料品牌：
材料档次：
费用说明：
不含税费 | 不含运费
询价时间：
2009-12-30

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反光电子支架

规格型号：
YZBK-E40A 40W单支
需求量：
4700根
报价数：
1
材料品牌：
创兴
材料档次：
中档
费用说明：
含税费 | 不含运费
询价时间：
2015-06-26

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日光电子灯架

规格型号：
T8/36W
需求量：
26套
报价数：
1
材料品牌：
雷士
材料档次：
中档
费用说明：
含税费 | 含运费
询价时间：
2015-04-17

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X射线光电子能谱分析主要应用

1 元素的定性分析。可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。 2 元素的定量分析。根据能谱图光电子谱线强度(光电子峰的面积)反映原子的含量或相对浓度。 3 固体表面分析。包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面电子的电子云分布和能级结构等。 4 化合物的结构。可以对内层电子结合能的化学位移精确测量，提供化学键和电荷分布方面的信息。 5 分子生物学中的应用，e.g., 利用XPS鉴定维生素B12中的少量的Co。2100433B

X射线光电子能谱分析定义及原理常见问题

X射线荧光光谱分析的结构

X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由...
谁了解莱威光电子？

深圳市莱威光电子有限公司注册资本1000万元，拥有生产厂房10000余平方米，通过ISO9001:2008质量管理体系认证和ISO14001:2004环境管理体系认证。产品通过欧洲CE ...
x射线荧光光谱分析仪的优缺点有哪些

优点：原装进口电制冷探测器，可以快速分析从11Na到92U之间的全部元素，精度高、测量时间短，它可以广泛用于有色矿山、钢铁、水泥、耐火材料、不锈钢、合金等领域特点：1. 同时分析元素周期表中由钠（Na...

X射线光电子能谱分析定义及原理文献

镀锌三价铬钝化膜的X射线光电子能谱研究

镀锌三价铬钝化膜的X射线光电子能谱研究

镀锌三价铬钝化膜的X射线光电子能谱研究

格式：pdf

大小：900KB

页数： 3页

采用中性盐雾试验比较了酸性氯化钾镀锌层经3种不同钝化剂钝化处理后所得钝化膜的耐蚀性,采用X射线光电子能谱研究了不同钝化膜的厚度及组成。结果表明,SpectraMATETM 25彩色钝化所得钝化膜的耐蚀性最好,可以经受336 h以上的中性盐雾试验,TRI-V121钝化膜的耐蚀性次之,TRI-V120钝化膜最差。TRI-V120和TRI-V121蓝白钝化所得钝化膜的主要组成为Cr2O3,厚度均为200 nm左右,但后者的Cr含量较高,因此具有较高的耐蚀性;经SpectraMATETM 25彩色钝化所得钝化膜的组成为Cr(OH)3和Cr2O3,厚度约为800 nm,膜层厚是其具有高耐蚀性的主要原因。

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竹木质素的红外光谱与X射线光电子能谱分析

竹木质素的红外光谱与X射线光电子能谱分析

竹木质素的红外光谱与X射线光电子能谱分析

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大小：900KB

页数： 6页

应用傅里叶转换红外光谱(FTIR)和X射线光电子能谱(XPS),研究了3种提纯方法得到的竹木质素及其化学反应产物的化学结构特性.确定竹木质素C1s的电子结合能分别为283.52(C—H或C—C),284.58～285.72(C—OR或C—OH),286.10～286.44(C=O或HO—C—OR),287.65～287.72(O—C=O)eV.O1s的电子结合能分别为530.31(羟基氧原子),531.45～531.72(醛或酮的羰基氧原子),532.73～533.74(酯键或羧酸中的羰基氧原子)eV.竹木质素中的结构单元之间主要是通过醚键和碳碳单键连接,慈竹磨木木质素结构单元中醚键、碳碳单键、酯键、羰基和烯双键的比例为100∶63∶32∶40∶32(49.3∶31.0∶16.0∶19.9∶16.0).

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x射线光电子能谱应用

x射线光电子能谱概述 对固体样品的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析。固体样品表面的组成、化学状态分析，广泛应用于元素分析、多相研究、化合物结构鉴定、富集法微量元素分析、元素价态鉴定。此外在对氧化、腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆等微观机理研究；污染化学、尘埃粒子研究等的环保测定；分子生物化学以及三维剖析如界面及过渡层的研究等方面有所应用。 XPS与某些分析方法的比较： 方法名称 信息来源 分析方式 样品状态 样品用量(g) 分辨率 灵敏度 真空(Pa) XPS 表面<8nm 非破坏 固、气、液 10^-6~10^-8 较低 10^-18 1.33×10^-4~1.33×10^-9 吸收光谱 本体 非破坏 固、气、液 10^-2~10^-3 10^-9 发射光谱 本体 破坏 固 10^-12 质谱 本体 破坏 固、气、液 10^-3~10^-4 高 1^0-13 1.33×10^-2~1.33×10^-5 NMR 本体 非破坏 液（固）（气） 5×10^-3 高 穆斯堡尔谱 表面 非破坏 固（Fe，Sn，稀土） 10^-3 电子探针 表面 非破坏 固 10^-16 1.33×10^-1~1.33×10^-3 离子探针 表面 破坏 固 10^-11 X射线荧光 表面 非破坏 固 10^-17 x射线光电子能谱常规应用 1.样品表面1-12nm的元素和元素质量 2.检测存在于样品表面的杂质 3.含过量表面杂质的自由材料的实验式 4.样品中一种或多种元素的化学状态 5.一个或多个电子态的键能 6.不同材料表面12 nm范围内一层或多层的厚度 7.电子态密度测量 x射线光电子能谱应用限制 量化精确度： 分析时段 探测限制 分析区域限制 样品大小限制

X射线光电子能谱仪主要用途

XPS：固体样品的表面组成分析，化学状态分析，取样讯息深度为～10nm以内. 功能包括: 1. 表面定性与定量分析. 可得到小於10um 空间分辨率的X射线光电子能谱的全谱资讯。 2. 维持10um以下的空间分辨率元素成分包括化学态的深度分析（角分辨方式,,氩离子或团簇离子刻蚀方式） 3. 线扫描或面扫描以得到线或面上的元素或化学态分布。 4. 成像功能。 5. 可进行样品的原位处理 AES：1.可进行样品表面的微区选点分析（包括点分析，线分析和面分析） 2.可进行深度分析适合：纳米薄膜材料，微电子材料，催化剂，摩擦化学，高分子材料的表面和界面研究

X射线光电子能谱分析仪技术指标

Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV；XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。

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