选择特殊符号
选择搜索类型
请输入搜索
第1章 绪论
1.1 真空羽流的基本概念
1.1.1 姿轨控发动机
1.1.2 真空羽流
1.1.3 真空羽流效应
1.2 羽流问题的研究方法
1.2.1 半经验法与解析分析法
1.2.2 数值模拟
1.2.3 实验研究
1.3 典型真空羽流效应实验系统
第2章 总体方案设计
2.1 总体方案设计要求
2.2 真空羽流实验系统主要组成
2.3 总体方案设计方法
2.3.1 抽气能力需求分析与抽气方式选择
2.3.2 内置式深冷泵冷板面积计算
2.3.3 内置式深冷泵空间结构设计
2.4 PES总体方案设计
2.4.1 PES总体设计要求
2.4.2 深冷泵冷板面积计算和结构设计
第3章 真空容器系统设计
3.1 真空容器主要设计原则
3.2 材料选择
3.3 真空容器简体设计
3.3.1 短圆筒设计
3.3.2 长圆筒设计
3.3.3 加强筋设计
3.4 封头和大门机构设计
3.4.1 封头设计
3.4.2 大门机构设计
3.5 法兰设计
3.5.1 法兰结构形式
3.5.2 开孔补强
3.6 鞍座设计
3.6.1 鞍座选用原则
3.6.2 鞍座位置选择
3.6.3 鞍座轻重型选择
3.6.4 鞍座底板宽度
3.6.5 鞍座垫板宽度
3.6.6 鞍座的设计参数
3.6.7 鞍座的强度校核
3.7 观察窗机构
3.7.1 磁力耦合观察窗机构
3.7.2 花瓣形挡板观察窗
3.8 真空容器强度校核
3.9 真空容器的压升率与漏气率
3.1 0PES真空容器设计
3.1 0.1 真空容器简体设计
3.1 0.2 加强筋设计
3.1 0.3 封头设计
3.1 0.4 大门机构设计
3.1 0.5 开孔补强
3.1 0.6 鞍座设计
3.1 0.7 真空容器强度校核
3.1 0.8 PES真空容器的压升率与漏气率测试
第4章 真空抽气系统设计
4.1 真空抽气系统设计理论
4.1.1 真空抽气系统设计的主要参数
4.1.2 管道流导的计算
4.1.3 抽气时间的计算
4.2 真空泵的选择和配置
4.2.1 主泵选择的一般原则
4.2.2 管道及阀门布置应遵循的原则
4.2.3 粗真空抽气系统常见主泵比较和选择
4.2.4 高真空抽气系统常见主泵比较和选择
4.2.5 防污染设计
4.3 真空度测量技术
4.3.1 全压力测量
4.3.2 分压力测量
4.3.3 真空计校准
4.4 真空检漏技术
4.4.1 基本概念
4.4.2 检漏方法
4.4.3 检漏方法的选择原则
4.5 PES真空抽气系统设计
4.5.1 系统方案配置
4.5.2 真空系统工作模式及计算
4.5.3 系统调试
第5章 内置式深冷泵设计与实现
5.1 液氦深冷泵设计的基本原则
5.2 常见深冷泵的结构形式
5.2.1 空间环模深冷泵的常见形式
5.2.2 真空羽流实验深冷泵的基本结构
5.3 深冷泵材料选择
5.3.1 常用深冷泵材料的性能比较
5.3.2 材料和焊接工艺的选择
5.4 壁板方案选择和设计
5.4.1 壁板选择原则
5.4.2 常见深冷泵壁板的形式
5.4.3 壁板几何尺寸设计计算
5.4.4 深冷泵热负荷计算
5.5 深冷泵管路设计
5.5.1 流道均压理论
5.5.2 深冷泵常见的管路形式
5.6 总管和支管尺寸的确定
5.7 支撑结构
5.7.1 支撑结构的选择原则
5.7.2 支撑材料选择
5.7.3 支撑方案选择
5.8 进出口结构设计
5.8.1 进出口设计要求
5.8.2 液氮深冷泵进出口结构
5.8.3 液氦(气氦)深冷泵进出口结构
5.9 PES深冷泵设计
5.9.1 PES设计技术要求
5.9.2 PES深冷泵设计与实现
第6章 液氮气氮外流程系统设计
6.1 液氮外流程系统设计
6.1.1 液氮系统设计
6.1.2 PES液氮系统设计
6.2 气氮外流程系统设计
6.2.1 气氮系统设计
6.2.2 PES气氮系统设计
6.3 液氮、气氮系统联合调试
6.3.1 PES氮系统设备
6.3.2 调试流程
6.3.3 调试结果
第7章 液氦外流程系统设计
7.1 液氦系统方案介绍
7.1.1 开式系统
7.1.2 闭式回收液化系统
7.2 主要技术要求
7.3 系统工作过程
7.4 系统参数计算
7.4.1 最佳预冷时间分析
7.4.2 预冷所需液氦量
7.5 关键设备设计
7.5.1 液氦阀箱设计
7.5.2 液氦管道设计
7.6 PES液氦系统设计
7.6.1 主要技术要求
7.6.2 PES液氦系统方案介绍
7.6.3 液氦热沉预冷过程中需要的液氦量
7.6.4 预冷结束后维持系统正常工作所需液氦量
7.6.5 系统调试I
第8章 羽流实验测量方法
8.1 羽流流场参数测量
8.1.1 羽流压力测量
8.1.2 羽流温度
8.1.3 羽流速度
8.1.4 羽流组分测量
8.1.5 羽流显示技术
8.2 羽流气动力效应测量
8.2.1 直接测量方法
8.2.2 间接测量方法
8.3 羽流气动热效应测量
8.4 羽流污染效应测量
第9章 实验测量与控制系统设计
9.1 实验测量与控制系统设计要求
9.2 数据采集方案设计
9.2.1 基于PC标准总线的测控系统
9.2.2 基于VXI总线的测控系统
9.2.3 基于LXI总线的测控系统
9.2.4 基于PXI总线的测控系统
9.2.5 基于PLC的测控系统
9.3 PES测控方案
9.3.1 硬件方案设计
9.4 信号传输方式设计
9.4.1 测量信号传输
9.4.2 控制信号传输
9.4.3 系统软件方案设计
第10章 实验工质供应与发动机系统设计
10.1 实验工质供应系统设计
10.1.1 模型发动机工质供应系统设计
10.1.2 标准姿轨控发动机工质供应系统设计
10.2 模型发动机设计
10.2.1 单工质模型发动机
10.2.2 双工质模型发动机
10.3 标准姿轨控发动机设计
10.4 关键部件设计
10.4.1 常用阀门
10.4.2 气体减压器
10.4.3 气蚀文氏管
第11章 实验台架与实验件系统设计
11.1 实验台架与实验件系统基本原则和要求
11.2 推力测量装置
11.3 舱内移动机构
11.3.1 舱外驱动移动机构
11.3.2 舱内驱动移动机构
11.4 支撑平台
11.5 其他辅助设备
11.5.1 温控系统
11.5.2 摄像系统
参考文献2100433B
《真空羽流效应实验系统设计》对真空羽流效应实验系统设计技术进行了系统全面的论述,一套完善的真空羽流效应实验系统包括真空容器系统、真空抽气系统、内置式深冷泵系统(热沉系统)、液氮气氮外流程系统、液氦外流程系统、设备运行控制系统、实验测量与控制系统、实验工质供应系统以及实验台架与实验件系统。《真空羽流效应实验系统设计》在总体方案设计基础上,针对真空羽流实验特性,对上述主要分系统设计进行了详细论述。
现在的方案是旋流风口上送下回,冬季加了地暖辅助供暖
后来人们还做过这样一个实验,在一个浅平的锡盘中,放入一个体积很小磁性很强的永久磁铁,然后把温度降低,使锡出现超导性。这时可以看到,小磁铁竟然离开锡盘表面,飘然升起,与锡盘保持一定距离后,便悬空不动了。...
得看什么气柜 要是湿式气柜建议不要使用真空侧漏 因为有可能损坏气柜。双膜气柜可以 但是一般使用正压试漏。
真空吸盘抓取系统设计
第 2 页 ( 共 5 页 ) 二:空气负压吸盘主要用于搬运体积大、重量轻的零件,根据空气负压吸盘产生负 压的方法不同,可分为真空式、喷气式和挤气式. (1)根据图示分别简述三种工作 方式的原理及其不同点。(15分) (2)图 4是真空式吸盘的一种管路连接方式,分析其工作原理,并简述图示各元件 的作用。(15分) (3)设计工程应用中常见喷气式吸盘的管路图,并简述设计方案。 (15分) 图 1 喷气式 图 2 真空式 图 3 挤压式 (3)喷气式吸盘的管路图 (9 分) 图 4 真空式吸盘管路图 1-电机 2-真空泵 3-电磁阀 4-电磁阀 5-吸盘 6-通大气 喷气式吸盘利用流体力学原理,压缩空气高速 流经喷嘴时,其出口处气压低于吸盘腔内气压, 于是吸盘腔内气体被高速气流带走而形成负 压。(3分) 该方式产生真空的压缩空气工厂内易获得,成 本较低,市场上有各种规格的商品化
基于STM32的速热真空脱气系统设计
介绍一种基于STM32处理器的速热真空脱气系统设计方案。以STM32F103VCT6微控制器为核心,通过对流速、温度、真空度的检测和反馈控制,实现对蒸馏水、去离子水等纯化水快速脱气,同时,通过使用该芯片的FSMC功能配合CPLD的实现TFT屏的人机界面。
1.一次电光效应和晶体的折射率椭球
由电场所引起的晶体折射率的变化,称为电光效应。通常可将电场引起的折射率的变化用下式表示:
n=n0+aE0+bE02+……(1)
式中a和b为常数,n0为不加电场时晶体的折射率。由一次项aE0引起折射率变化的效应,称为一次电光效应,也称线性电光效应或普克尔(Pokells)效应;由二次项bE02引起折射率变化的效应,称为二次电光效应,也称平方电光效应或克尔(Kerr)效应。一次电光效应只存在于不具有对称中心的晶体中,二次电光效应则可能存在于任何物质中,一次效应要比二次效应显著。
光在各向异性晶体中传播时,因光的传播方向不同或者是电矢量的振动方向不同,光的折射率也不同。如图1,通常用折射率球来描述折射率与光的传播方向、振动方向的关系。在主轴坐标中,折射率椭球及其方程为
(2)
图1
式中n1、n2、n3为椭球三个主轴方向上的折射率,称为主折射率。当晶体加上电场后,折射率椭球的形状、大小、方位都发生变化,椭球方程变成
(3)
晶体的一次电光效应分为纵向电光效应和横向电光效应两种。纵向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播的方向平行时产生的电光效应;横向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播方向垂直时产生的电光效应。通常KD*P(磷酸二氘钾)类型的晶体用它的纵向电光效应,LiNbO3(铌酸锂)类型的晶体用它的横向电光效应。本实验研究铌酸锂晶体的一次电光效应,用铌酸锂晶体的横向调制装置测量铌酸锂晶体的半波电压及电光系数,并用两种方法改变调制器的工作点,观察相应的输出特性的变化。
铌酸锂晶体属于三角晶系,3m晶类,主轴z方向有一个三次旋转轴,光轴与z轴重合,是单轴晶体,折射率椭球是旋转椭球,其表达式为
(4)
式中n0和ne分别为晶体的寻常光和非常光的折射率。加上电场后折射率椭球发生畸变,当x轴方向加电场,光沿z轴方向传播时,晶体由单轴晶变为双轴晶,垂直于光轴z轴方向的折射率椭球截面由圆变为椭圆,此椭圆方程为
(5)
其中的称为电光系数。上式进行主轴变换后可得到
(6)
考虑到<<1,经简化得到
(7)
折射率椭球截面的椭圆方程化为
(8)
2.电光调制原理
要用激光作为传递信息的工具,首先要解决如何将传输信号加到激光辐射上去的问题,我们把信息加载于激光辐射的过程称为激光调制,把完成这一过程的装置称为激光调制器。由已调制的激光辐射还原出所加载信息的过程则称为解调。因为激光实际上只起到了"携带"低频信号的作用,所以称为载波,而起控制作用的低频信号是我们所需要的,称为调制信号,被调制的载波称为已调波或调制光。按调制的性质而言,激光调制与无线电波调制相类似,可以采用连续的调幅、调频、调相以及脉冲调制等形式,但激光调制多采用强度调制。强度调制是根据光载波电场振幅的平方比例于调制信号,使输出的激光辐射的强度按照调制信号的规律变化。激光调制之所以常采用强度调制形式,主要是因为光接收器一般都是直接地响应其所接受的光强度变化的缘故。
激光调制的方法很多,如机械调制、电光调制、声光调制、磁光调制和电源调制等。其中电光调制器开关速度快、结构简单。因此,在激光调制技术及混合型光学双稳器件等方面有广泛的应用。电光调制根据所施加的电场方向的不同,可分为纵向电光调制和横向电光调制。利用纵向电光效应的调制,叫做纵向电光调制,利用横向电光效应的调制,叫做横向电光调制。这次实验中,我们只做LiNbO3晶体的横向调制实验。
(1) 横向电光调制
图2
图2为典型的利用LiNbO3晶体横向电光效应原理的激光振幅调制器。其中起偏振片的偏振方向平行于电光晶体的x轴,检偏振片的偏振方向平行于y轴。因此入射光经起偏振片后变为振动方向平行于x轴的线偏振光,它在晶体的感应轴x′和y′轴上的投影的振幅和相位均相等,设分别为
ex′=A0cosωt,ey′=A0cosωt(9)
或用复振幅的表示方法,将位于晶体表面(z=0)的光波表示为
Ex′(0)=A,Ey′(0)=A(10)
所以,入射光的强度是
(11)
当光通过长为l的电光晶体后,x′和y′两分量之间就产生相位差δ,即
Ex′(l)=A,Ey′(l)=A(12)
通过检偏振片出射的光,是该两分量在y轴上的投影之和
(13)
其对应的输出光强It可写成
(14)
由(11)和(14)式,光强透过率T为
(15)
由(7)式
(16)
由此可见,δ和加在晶体上的电压有关,当电压增加到某一值时x′、y′方向的偏振光经过晶体后可产生λ/2的光程差,相应的相位差δ=π,由(15)式可知此时光强透过率T=100%,这时加在晶体上的电压称作半波电压,通常用表示。是描述晶体电光效应的重要参数。在实验中,这个电压越小越好,如果小,需要的调制信号电压也小。根据半波电压值,我们可以估计出电光效应控制透过强度所需电压。由(16)式可得到
(17)
其中d和l分别为晶体的厚度和长度。由此可见,横向电光效应的半波电压与晶片的几何尺寸有关。由(17)式可知,如果使电极之间的距离d尽可能的减少,而增加通光方向的长度l,则可以使半波电压减小,所以晶体通常加工成细长的扁长方体。由(16)、(17)式可得
因此,可将(15)式改写成
(18)
其中U0是加在晶体上的直流电压,Umsinωt是同时加在晶体上的交流调制信号,Um是其振幅,ω是调制频率。从(18)式可以看出,改变U0或Um,输出特性将相应的有变化。对单色光和确定的晶体来说,为常数,因而T将仅随晶体上所加的电压变化。
(2)改变直流偏压对输出特性的影响
①当、Um<<时,将工作点选定在线性工作区的中心处,如图3(a)所示,此时,可获得较高效率的线性调制,把代入(18)式,得
(19)
由于Um<<时
即T∝sinωt(20)
这时,调制器输出的信号和调制信号虽然振幅不同,但是两者的频率却是相同的,输出信号不失真,我们称为线性调制。
②当、Um<<时,如图3(b)所示,把代入(18)式
即T∝cos2ωt(21)
从(21)式可以看出,输出信号的频率是调制信号频率的二倍,即产生"倍频"失真。若把代入(18)式,经类似的推导,可得
(22)
即T∝cos2ωt,输出信号仍是"倍频"失真的信号。
(a)(b)
图3
③直流偏压U0在0伏附近或在附近变化时,由于工作点不在线性工作区,输出波形将失真。
④当,Um>时,调制器的工作点虽然选定在线性工作区的中心,但不满足小信号调制的要求,(19)式不能写成(20)式的形式。因此,工作点虽然选定在了线性区,输出波形仍然是失真的。
【实验仪器】
电光效应实验仪,电光调制电源、接收放大器、He-Ne激光器、二踪示波器和万用表。
(1)晶体电光调制电源。调制电源由-200V-+200V之间连续可调的直流电源、单一频率振荡器(振荡频率约为1kHz)、音乐片和放大器组成,电源面板上有三位半数字面板表,可显示直流电压值。晶体上加的直流电压的极性可以通过面板上的"极性"键改变,直流电压的大小用"偏压"旋钮调节。调制信号可由机内振荡器或音乐片提供,此调制信号是用装在面板上的"信号选择"键来选择三个信号中的任意一个信号。所有的调制信号的大小是通过"幅度"旋钮控制的。通过前面板上的"输出"插孔输出的参考信号,接到二踪示波器的一个通道与被调制后的接收信号比较,观察调制器的输出特性。
(2)调制器。调制器由三个可旋转的偏振片、一个可旋转的1/4波片和一块铌酸锂晶体组成,采用横向调制方式。晶体放在两个正交的偏振片之间,起偏振片和晶体的x轴平行。检偏振片和晶体之间可插入1/4波片,偏振片和波片均可绕其几何轴旋转。晶体放在四维调节架上,可精细调节,使光束严格沿晶体光轴方向通过。
(3)接收放大器。接收放大器由3DU光电三极管和功率放大器组成。光电三极管把被调制了的氦氖激光经光电转换,输入到功率放大器上,放大后的信号接到二踪示波器,同参考信号比较,观察调制器的输出特性。交流信号输出的大小通过"交流输出"旋钮调节。放大器内装有扬声器,用来再现声音调制信号,放大器面板上还有"直流输出"插孔,接到万用表的200mV直流电压档,用于测量光电三极管接收到的光强信号的大小。
一定条件下,导电材料的电阻值R随磁感应强度B的变化规律称为磁阻效应。如图1所示,当半导体处于磁场中时,导体或半导体的载流子将受洛仑兹力的作用,发生偏转,在两端产生积聚电荷并产生霍耳电场。如果霍耳电场作用和某一速度载流子的洛仑兹力作用刚好抵消,那么小于或大于该速度的载流子将发生偏转,因而沿外加电场方向运动的载流子数量将减少,电阻增大,表现出横向磁阻效应。若将图1中a端和b端短路,则磁阻效应更明显。通常以电阻率的相对改变量来表示磁阻的大小,即用Δρ/ρ(0)表示。其中ρ(0)为零磁场时的电阻率,设磁电阻在磁感应强度为B的磁场中电阻率为ρ(B),则Δρ=ρ(B)-ρ(0)。由于磁阻传感器电阻的相对变化率ΔR/R(0)正比于Δρ/ρ(0),这里ΔR=R(B)-R(0),因此也可以用磁阻传感器电阻的相对改变量ΔR/R(0)来表示磁阻效应的大小。
实验证明,当金属或半导体处于较弱磁场中时,一般磁阻传感器电阻相对变化率ΔR/R(0)正比于磁感应强度B的平方,而在强磁场中ΔR/R(0)与磁感应强度B呈线性关系。磁阻传感器的上述特性在物理学和电子学方面有着重要应用。
处于磁场中的磁阻器件和一个外接电阻串联,接在恒流源的分压电路中,通过对R的调节可以调节磁阻器件中电流的大小,电压表联接1或2可以分别监测外接电阻的电压和磁阻器件的电压。
按照火焰及烟的流动情形分为:
1、轴对称型烟羽流:上升过程不与四周墙壁或障碍物接触,并且不受气流干扰的烟羽流;
2、阳台溢出型烟羽流:从着火房间的门(窗)梁处溢出,并沿着火房间外的阳台或水平突出物流动,至阳台或水平突出物的边缘向上溢出至相邻高大空间的烟羽流;
3、窗口型烟羽流:从发生通风受限火灾的房间或隔间的门、窗等开口处溢出至相邻高大空间的烟羽流。