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"浴缸曲线"代表了半导体产品寿命的三个主要阶段:
早期故障率阶段:此阶段的特点是初始故障率相对较高，然后迅速下降。此特性并非在所有产品中都表现显著。此阶段的故障率通常按"每百万缺陷数" (dppm) 进行衡量。
稳定状态阶段:此阶段具有相对恒定的故障率，在器件的使用寿命期间保持稳定。按"FIT"单位或"故障间隔平均时间" (MTBF) 小时数描述此故障率。
损耗阶段:此阶段代表内在损耗机制开始居主导地位的点，故障率开始呈指数上升。产品寿命通常定义为从初始生产至损耗开始的时间。
