涡流测厚仪，用于检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如：铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层。仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速无损的膜厚检查。可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。

技术规格

量程： 0～150μm； 精 度： ±3%； 分辨率：0.1μm；

功耗： 0.06W； 外形尺寸： 150mm×80mm×30mm； 重 量： 280g。

仪器特点

* 膜厚校正片

膜厚校正片是仪器的计量基准。本仪器的膜厚校正片全部经过技术监督部门的检测，附有检测报告。这一点在国内外仪器中都是不多见的。它保证了仪器计量的准确性和可靠性。

* 探头

测厚仪最容易损坏的部件是探头，本仪器对探头做了特殊的耐久性设计，具有防磕碰、防水、探头线防折曲等防护功能。

标准配置

主机 1台

膜厚校正片 1套（4片）

校正基体 1块

仪器箱 1个

可选附件

膜厚校正片 （12μm\25μm\50μm\100μm附检测报告)

校正基体 6063铝合金