1. 由光源波动产生的误差

公式 (1)表明，如果光源的功率随时间变化，测量得到的功率最大和最小值也会随之变化，从而导致测量的不准确。因此，用于PDL测量的光源必须具有很高的稳定性。

即使光源本身非常稳定，测量系统中不同位置的微弱反射可能会反馈回激光器，干扰激光器的工作并导致输出的不稳定。因此，即使光源的输出端可能已经有了隔离器，我们仍强烈建议在PDL测量仪器的输入端加上隔离器，以减少反射。另外，为了减少连接器的反射，在光源与PDL测试仪之间的所有连接器都应该使用APC接头。

2. 由二次反射产生的误差

在测量装置中使用的某些器件可能存在微弱的反射，这些器件包括连接器和DUT。由一个器件产生的反射光可能会被另外的器件再次反射。二次反射光与主体输入光的传播方向一致，因此会与其发生干涉。总输出光功率为：

其中Pin和Pdr分别是主光束和二次反射光束的功率， ein和edr是主光束和二次反射光束的偏振态的单位复矢量，Φ是它们之间的相位差。

因为当光纤受到扰动时，主光束与二次反射光的相对相位和偏振态都会发生改变，它们之间的干涉会引起总输出功率的变化。以dB为单位，由公式（2）可以得到的相对变化的量级为：

虽然二次反射光的很弱，但由于会与强光信号（输入光）发生干涉，它的影响不容忽视。例如，如果一束光先被一个自由端的PC接头反射（典型的反射率为4%），然后再被一对PC接头（回波损耗为40dB，反射率为0.01%）反射，探测到的功率波动可达0.017dB。这个功率波动会引起PDL测量波动0.017dB。当待测器件具有相似的PDL值时，该数值是不能够被忽略的。如果在前面那个例子中使用回波损耗为60dB的APC接头代替PC接头，PDL测量结果的波动将减少到0.0017dB，这个数值在大多数情况是可以被忽略的。

为了减小二次反射带来的影响，如果可能的话，应尽量使用反射较小的APC接头。或者也可以使用短相干长度的光源（相干长度小于主光束与二次反射光的光程差）。这样，公式(2)描述的干涉现象就不会发生，从而，公式(3)描述的干涉波动不会发生。

3. 由接头和光纤产生的误差

除了DUT之外，在PDL测量中使用的光纤和（或）接头也会有很小的PDL。例如，光纤本身会有0.01dB量级的PDL，而且当光纤弯曲的曲率半径很小时，这个值还会增加。连接的光纤跳线也有较小的PDL，量级为 0.01-0.02 dB。连接不佳的光纤跳线会有更高的PDL值，这可能是在连接过程中过度挤压光纤造成的。APC接头一般会有很高的PDL，尤其是在没有与另外的APC接头配对使用时。因此，在测试过程中，一条带接头的跳线很可能会对DUT的PDL测量产生0.02dB或更高的误差。

4. PDL矢量和引起的波动

PDL可以被看成一个三维空间里的矢量，因为公式1中的Pmax和Pmin相当于输入光的两个正交偏振态，这可以描绘在邦加球上。因此，当测量装置中有两个或更多器件的PDL不为0时，总的PDL为所有器件PDL的矢量叠加。举例说明，测量得到的总PDL是A、B、C、D四个光纤接头和DUT 的PDL的矢量之和（为了简化器件，假设光纤的PDL为零）：

其中，PDLT和eT是总PDL的值和复单位矢量；PDLa,PDLb,PDLc,PDLd,PDLDUT 分别是A、B、C、D接头和待测器件的PDL；ea,eb,ec,ed,eDUT 分别为这些PDL的单位复矢量。图4用图示了PDL矢量是如何叠加的。如果所有的矢量都是平行的就会得到最大的PDL：

如果所有接头的PDL向量都平行，并与待测器件的PDL向量方向相反，就会得到最小PDL，在此假设待测器件的PDL值大于所有接头PDL值之和：

每一个器件PDL矢量的方向与器件的取向和光纤中的应力致双折射有关。当两个器件间的光纤被扰动，PDL矢量的相对方向也随之发生改变，从而导致测量值的变化。因此，PDL测量值的最大改变量为：

如果待测器件的PDL远大于连接头的PDL，相对测量误差就比较小。如果待测器件的PDL与连接头的PDL大体相当，就会产生很大的相对误差。因此，为了得到PDL较小的待测器件（如熔融拉锥耦合器）的精确特性描述，连接头和与待测器件相连的光纤的PDL必须非常小。通常，限制测量精度的因素往往不是仪器本身，而是连接头和与待测器件相连的光纤的残余PDL。

PDL矢量叠加示意图