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透光率/反射率测定仪技术参数

2018/06/19120 作者:佚名
导读: 类别I型II型III型探测器Sony ILX511 x线形CCD 阵列Sony ILX511 x线形CCD 阵列Hamamatsu S7031背照式2D-CCD检测范围380-1000nm380-1100nm360-1100nm波长分辨率<1.35nm<1.35nm<1.35nm信噪比(全信号)250:1250:11000:1相对检测误差<0.6%(400-800nm

类别

I型

II型

III型

探测器

Sony ILX511 x线形CCD 阵列

Sony ILX511 x线形CCD 阵列

Hamamatsu S7031背照式2D-CCD

检测范围

380-1000nm

380-1100nm

360-1100nm

波长分辨率

<1.35nm

<1.35nm

<1.35nm

信噪比(全信号)

250:1

250:1

1000:1

相对检测误差

<0.6%(400-800nm)

<0.6%(400-800nm)

<0.2%(400-800nm)

操作方式

手动

电动

电动

角度分辨率

0.1 &ordm;

<0.0002&ordm;

<0.0002&ordm;

重复定位精度:

-

<0.005 &ordm;

<0.005 &ordm;

旋转最大速度:

-

25 &ordm;/s

25 &ordm;/s

透射/反射测量角

>8&ordm; , <80 &ordm;,可扩展到5&ordm;

单次测量时间

<100ms

S/P光测量

可以

样品尺寸

>5mm

操作系统/接口

Windows XP Vista /USB2.0

产品尺寸

1020mm*485mm*300mm

功率/电源:

100W/220V-50HZ

其他

可自定义打印报表格式,开放式光学材料光坯反射率数据库

*文章为作者独立观点,不代表造价通立场,除来源是“造价通”外。
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