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4225-PMU超快I-V模块 进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选测试仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和信号观察功能，提高了系统对材料、器件和工艺进行特征分析的能力。
同样重要的是，利用4225-PMU可以像使用传统高分辨率源测量单元(SMU)进行直流测量那样，轻松实现超快的I-V源和测量操作。
