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离子污染程度测试仪检查残留物的等级

2018/06/19234 作者:佚名
导读: - 光板和元器件-在清洗工艺后-免清洗工艺后-在涂敷工艺之前为什么要对污染程度进行测试?导入无铅工艺之后,所有的工艺都会有所变化…谁来告诉你,到底是清洗或者免清洗工艺?只有污染程度测试仪!经常性的测试给你信心保证工艺谁需要进行离子污染程度测试?所有和组装有关的公司化学原料供应商,保证质量PCB生产商元器件生产商Pcba如何进行污染程度测试 ?使用活性非常强的IPA和DI水清洗线路板所有性的残

- 光板和元器件

-在清洗工艺后

-免清洗工艺后

-在涂敷工艺之前

为什么要对污染程度进行测试?

导入无铅工艺之后,所有的工艺都会有所变化…

谁来告诉你,到底是清洗或者免清洗工艺?只有污染程度测试仪!

经常性的测试给你信心保证工艺

谁需要进行离子污染程度测试?

所有和组装有关的公司

化学原料供应商,保证质量

PCB生产商

元器件生产商

Pcba

如何进行污染程度测试 ?

使用活性非常强的IPA和DI水清洗线路板

所有性的残留物都会在清洗液中溶解

检查导电率和时间的关系

此系统将最终的结果通过µg NaCl / cm² 表示。

什么是 µg Eq NaCl / cm²

由于在溶剂中存在不同种类残留物,所以标准通过NaCl来代表。

在导电率,腐蚀性和污染程度之间建立直接的联系

测试程序

定义线路板和所用的标准

注入清洗剂直到系统达到一个非常低的导电率(50nS/cm)

放入测试板,开始清洗和测量导电率/污染程度。

CT100 Shematic

兼容标准

美军标Mil-P-28809 和 Mil-STD-2000A 定义为: 1.3 µg Eq NaCl / cm²

英国防卫 10/03标准 (UK) 定义: 1.5 µg Eq NaCl / cm²

IPC-TR-583

由于细间距元器件的广泛应用,以上标准都需要更新。

CT100 特性

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