2.晶体三极管性能好坏的检测

已知类型和引脚排列的晶体三极管，可按下述方法来判断其性能的好坏。

（1）反向击穿电流，ICEO的检测

普通晶体三极管的ICEO可通过测量晶体三极管发射极E与集电极C之间的电阻值来进行估测。测量时，将万用表置R×1k档，NPN型管的集电极C接黑表笔，发射极E接红表笔；PNP管的集电极C接红表笔，发射极E接黑表笔。若测量晶体三极管C、E极之间的电阻值偏小，则表明被测管子的漏电流较大；若测得C、E极之间的电阻值接近零，则说明其C、E极之间已击穿损坏；如果C、E极之间的电阻值随着管壳温度的增高而变得很小，则说明该管的热稳定性不良。

也可以用晶体管直流参数测试表的ICEO档来测量晶体三极管的反向击穿电流，具体作法是：将hFE/ICEO选择开关置于ICEO档，选择晶体三极管的极性，将被测管的三个引脚插入测试孔，再按下ICEO键，即可从表中读出被测晶体三极管的ICEO值。

（2）反向击穿电压VCEO的检测

使用晶体管直流参数测试表的V（BR）测试功能，即可测得晶体三极管的反向击穿电压。测量时，先选择被测晶体三极管的极性，再将晶体三极管插入测试孔，按动相应的V（BR）键，即可从表中读出被测晶体三极管的VCEO值。

（3）放大能力β的检测

晶体三极管的放大能力可以用万用表的hFE档测量。测量时，先将万用表置于ADJ档进行调零后，再拨至hFE档，将被测晶体管的C、B、E三个引脚分别插入相应的测试插孔中，即可从hFE刻度线上读出管子的放大倍数。

若万用表无hFE挡，也可使用万用表的R×1k档来估测晶体三极管的放大能力，具体作法是：对于PNP型管，将黑表笔接E、红表笔接C，再在B、C极之间并接1只电阻（硅管为100kΩn、锗管为20kΩ），然后观察万用表的阻值变化情况。万用表指针摆动幅度越大，说明晶体三极管的放大能力越强。如果万用表指针不变或摆动幅度较小，则说明晶体三极管无放大能力或放大能力较差。对于NPN型管，测试时应将黑表笔接C、红表笔接E，具体测试方法与PNP型管相同。

3.特殊晶体三极管性能好坏的检测

（1）达林顿晶体三极管的检测

1）普通达林顿晶体三极管的检测

将万用表置R×1k或R×10k档，测量达林顿晶体三极管各电极之间的正、反向电阻值。正常时，C-B极之间的正向电阻为3～10kΩ（测NPN型管时黑表笔接基极B，测PNP型管时黑表笔接集电极C），反向电阻为无穷大；E-B极之间的的正向电阻是C-B极之间正向电阻的2～3倍（测NPN型管时黑表笔接基极B、测PNP型管时黑表笔接发射极E），反向电阻值为无穷大；C-E极之间的正、反向电阻值均接近无穷大。若测得C-E极或B-E极、B-C极之间的正反向电阻值均接近零，则说明该管已击穿损坏；反之，若测得为无穷大，则说明该管已开路损坏。