扫描干涉仪概述
2018/06/19288
作者：佚名
导读：详细信息它的两种典型结构如图所示。图a是把标准具置于真空室中，用调节真空室的气压去改变折射率实现扫描。图b是把标准具置于密封的真空室中，利用改变施加到电致伸缩元件上的电压去调节两反射面的间隔，实现扫描。 把扫描干涉仪、单色仪和光电接收技术结合起来可研究光谱线的超精细结构，也就是光谱线的各光谱成分的波长和强度。扫描干涉仪在研究激光纵模方面意义更大,并且往往不需单色仪,只需使用激光器、隔离器、扫描干
详细信息
它的两种典型结构如图所示。图a是把标准具置于真空室中，用调节真空室的气压去改变折射率实现扫描。图b是把标准具置于密封的真空室中，利用改变施加到电致伸缩元件上的电压去调节两反射面的间隔，实现扫描。 
把扫描干涉仪、单色仪和光电接收技术结合起来可研究光谱线的超精细结构，也就是光谱线的各光谱成分的波长和强度。扫描干涉仪在研究激光纵模方面意义更大,并且往往不需单色仪,只需使用激光器、隔离器、扫描干涉仪、光电探测电路组成的系统，即可测定激光各纵模波长和强度。
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