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数显测厚仪数显薄膜测厚仪

2018/06/19171 作者：佚名
导读： 产品用途 数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。 技术指标 1.测量范围:(0-25)mm2.分辨率:0.001mm3.电源:氧化银电池SR444.工作温度:0℃~+40℃5.储运温度:-20~+70℃6.相对湿度:≤80%

产品用途

数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

技术指标

1.测量范围:(0-25)mm

2.分辨率:0.001mm

3.电源:氧化银电池SR44

4.工作温度:0℃~+40℃

5.储运温度:-20~+70℃

6.相对湿度:≤80%

*文章为作者独立观点，不代表造价通立场，除来源是“造价通”外。
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