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HS3100 涂层测厚仪基本参数

2018/06/19105 作者:佚名
导读:测量范围 标准配置探头(F1/N1):1~1250μm 测量精度 ±(2%H 1)μm(零点校准) ±[(1~3)%H 1] μm(二点校准) 统计量 平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV) 存贮和统计 15个测量值 测量精度 ±(2%H 1)μm(零点校准) ±[(1~3)%H 1] μm(二点校准)

测量范围

标准配置探头(F1/N1):1~1250μm

测量精度

±(2%H 1)μm(零点校准)

±[(1~3)%H 1] μm(二点校准)

统计量

平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)

存贮和统计

15个测量值

测量精度

±(2%H 1)μm(零点校准)

±[(1~3)%H 1] μm(二点校准)

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