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比表面测试仪性能参数

2018/06/19186 作者:佚名
导读: 测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,bet法比表面积测定(单点及多点),langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定,t-plot图法外比表面积测定; 测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积); 测量精度:重复性误差小于1.5]; 真空系统:v-sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量

测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,bet法比表面积测定(单点及多点),langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定,t-plot图法外比表面积测定; 测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积); 测量精度:重复性误差小于1.5]; 真空系统:v-sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高比表面积测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命; 液位控制:v-sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差; 控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命; 样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理; 压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显着提高低 p/po点下测试精度,0-1000torr(0-133kpa),0-10torr(0-1.33kpa)(可选) 压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10]-15%); 分压范围:p/po 准确可控范围达5x10-6-0.995; 极限真空:4x10-2pa(3x10-4torr); 样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等; 测试气体:高纯n2气(99.999])或其它(按需选择如ar,kr); 数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强; 数据处理:windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表。

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