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X射线荧光光谱仪全反射荧光

2018/06/19249 作者:佚名
导读: 如果n1>n2,则介质1相对于介质2为光密介质,介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线,一般固体与空气相比都是光疏介质。所以,如果介质1是空气,那么α1>α2(图2.20右图),即折射线会偏向界面。如果α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时,界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中,这就是全反射现象。X射线荧光光谱法有如下特点:分析

如果n1>n2,则介质1相对于介质2为光密介质,介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线,一般固体与空气相比都是光疏介质。所以,如果介质1是空气,那么α1>α2(图2.20右图),即折射线会偏向界面。如果α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时,界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中,这就是全反射现象。

X射线荧光光谱法有如下特点:

分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;

荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便;

分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差;

分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化。

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