X射线IC卡检测仪
X射线IC卡检测仪是使用X射线技术对IC卡进行检测的一种设备，它通过发生X射线，对IC卡进行射线照射，再由设备的成像探测器接收经过照射并穿过IC卡后的X射线，并通过计算机呈现黑白的透视检测画面。
专用的X射线IC卡检测仪到2013 年为止业内有HSCreate(恒胜创新)的BJI-G型。
X射线IC卡检测仪用途:检测IC磁卡内部的电路、芯片内部焊点、内部导体结构。 IC卡检测仪参数
型号 | HSCreate BJI-G |
管电压 | 70kV |
管电流 | 0.4mA |
分辨率 | 227Lp/cm |
像元尺寸 | 1628*1228px |
灰度等级 | 4600级 |
功率 | 70W |
IC卡扭弯测试仪 IC卡扭矩测试仪 IC卡弯曲测试仪 IC卡弯曲试验机 IC卡试验机 IC卡弯曲性能测试机 IC扭矩测试仪本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;外形尺寸:L670 X W380 X H220
本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;
