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G540编程器测试

2018/06/19135 作者：佚名
导读： IC测试IC测试功能主要是针对RAM器件，TTL(74LS系列、54LS系列)、CMOS4000系列通用数字电路而言。IC测试分两种情况:1.已知器件型号，测量是否完好;2.未知器件型号，查找分析所属型号。(注:RAM器件不适用)

IC测试

IC测试功能主要是针对RAM器件，TTL(74LS系列、54LS系列)、CMOS4000系列通用数字电路而言。

IC测试分两种情况:

1.已知器件型号，测量是否完好;

2.未知器件型号，查找分析所属型号。(注:RAM器件不适用)

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